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여기파장 빔(Excitation Beam) 발생장치(111)와 STED 빔(Stimulated Emission Depletion Beam) 발생장치(112)를 구비하는 빔 발생부(110); 여기파장 빔 발생장치(111)로부터 발생된 여기파장 빔을 DM(Dichroic Mirror, 121)을 통과시킨 후 측정대상(10)에 포커싱하고, 이와 동시에 STED 빔 발생장치(112)로부터 발생된 STED 빔을 위상마스크(PM; Phase Mask, 122) 및 DM(Dichroic Mirror, 123)을 통과시킨 후 측정대상(10)에 포커싱(Focusing)하여 측정대상(10)이 형광발광하게 하여, 측정대상(10)의 이미지 정보를 획득하는 STED(Stimulated Emission Depletion) 현미경부(120); STED 빔 발생장치(112)로부터 발생되고 형광단의 흡수파장에서 벗어난 STED 빔을 BS(Beam Splitter, 131)를 이용하여 두 경로로 나눈 후, 하나의 경로는 레퍼런스 빔(Reference Beam)으로서 측정센서(132)로 향하고, 나머지 경로는 시그널 빔(Signal Beam)으로서 측정대상(10)을 향하며, 측정대상(10)을 투과하여 광경로 변조가 발생된 시그널 빔과 레퍼런스 빔을 바탕으로 홀로그램 정보를 획득하는 디지털 홀로그래픽(Digital Holographic) 현미경부(130); 및 상기 STED현미경부(120)와 디지털 홀로그래픽 현미경부(130)를 통해 획득한 측정대상의 이미지 정보와 홀로그램 정보를 바탕으로 측정대상(10)의 이미지 정보를 복원하고 정량적 위상 정보를 산출하는 산술처리부(140);를 포함하고,상기 위상마스크(PM; Phase Mask, 122)는, STED 빔 중앙부 빛의 세기 값이 0이 되도록, STED 빔을 도넛 형태의 빔으로 형성시키는 것을 특징으로 하는 현미경시스템(100)
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제 1 항에 있어서, 상기 위상마스크(PM; Phase Mask, 122)는 VPP(Vortex Phase Plate) 또는 SLM(Spatial Light Modulator; 공간 빛 변조기)에 해당하는 것을 특징으로 하는 현미경시스템
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제 1 항에 있어서, 상기 여기파장 빔(Excitation Beam) 및 STED 빔은, CW레이저 또는 펄스레이저인 것을 특징으로 하는 현미경시스템
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제 4 항에 있어서, 상기 펄스레이저의 펄스 값은 10 fs(femtosecond) 내지 900 ps(picoseconds)이고, 측정대상(10)에서 발생하는 형광 디플레션(Depletion) 효과가 일어나는 영역에 대응되도록 설정되는 것을 특징으로 하는 현미경시스템
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제 4 항에 있어서, 상기 여기파장 빔의 펄스 값은, 측정대상(10)에 적용되는 염료의 흡수파장에 대응되는 펄스 대역의 펄스 값인 것을 특징으로 하는 현미경시스템
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제 4 항에 있어서, 상기 STED 빔 의 펄스 값은 100 ps 내지 1 ns이고, 측정대상(10)에서 발생하는 형광 디플레션(Depletion) 효과가 일어나는 영역에 대응되도록 설정되는 것을 특징으로 하는 현미경시스템
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제 1 항에 있어서, 상기 현미경시스템(100)은: 측정대상(10)을 상부에 고정시키고, 측정대상(10)의 위치를 수평방향(X방향), 수직방향(Y방향) 및 높이방향(Z방향)으로 이동시키는 스테이지(150)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 현미경시스템
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