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패턴형성 조명광학계를 이용한 검사광학계(INSPECTION OPTICAL SYSTEM USING ILLUMINATION OPTICAL SYSTEM CAPABLE OF FORMING PATTERN)

  • 기술번호 : KST2016019586
  • 담당센터 : 인천기술혁신센터
  • 전화번호 : 032-420-3580
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 검사광학계에 관한 것으로서, 대물렌즈와, 광원과 상기 광원이 통과하는 조명렌즈와, 상기 조명렌즈로부터 입사된 광을 복수개의 이미지로 분할하는 광분할기를 갖는 조명광학계를 포함하여 구성되며, 상기 조명광학계는 상기 조명렌즈와 상기 광분할기 사이에 배치되며 상기 대물렌즈의 동공에 패턴을 형성하기 위한 패턴형성부재를 구비하여, 검사광학계에 많은 부피를 차지하는 릴레이렌즈를 사용하지 않으면서도 해상력을 높일 수 있기 때문에 콤팩트하면서도 해상력을 향상시킬 수 있는 검사광학계를 제공할 수 있고, 대물렌즈의 외측에서 패턴형성부재를 설치할 수 있기 때문에 설치작업이 용이할 뿐만 아니라, 기구 어퍼쳐나 회절광학소자를 이용하여 패턴형상에 제약이 없이 다양한 형상의 패턴을 대물렌즈의 동공에 직접 형성할 수 있다.
Int. CL G01N 21/956 (2006.01) G01N 21/88 (2006.01)
CPC G01N 21/8806(2013.01) G01N 21/8806(2013.01) G01N 21/8806(2013.01) G01N 21/8806(2013.01)
출원번호/일자 1020150067934 (2015.05.15)
출원인 한국산업기술대학교산학협력단, 오앤아이(주)
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2016-0134224 (2016.11.23) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2015.05.15)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국산업기술대학교산학협력단 대한민국 경기도 시흥시 산기대학로
2 오앤아이(주) 대한민국 경기도 광명시 하안로 **,

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정미숙 대한민국 인천광역시 남동구
2 고재석 대한민국 서울특별시 중구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인남촌 대한민국 서울특별시 종로구 새문안로*길 **, 도렴빌딩 ***호 (도렴동)

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2015.05.15 수리 (Accepted) 1-1-2015-0466896-98
2 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status
2015.06.24 수리 (Accepted) 1-1-2015-0612725-36
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.02.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2016.04.11 수리 (Accepted) 9-1-2016-0015833-65
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2016.12.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0894692-34
6 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2017.03.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0168238-80
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번호 청구항
1 1
대물렌즈와, 광원과 상기 광원이 통과하는 조명렌즈와, 상기 조명렌즈로부터 입사된 광을 복수개의 이미지로 분할하는 광분할기를 갖는 조명광학계를 포함하여 구성되며, 상기 조명광학계는, 상기 조명렌즈와 상기 광분할기 사이에 배치되며 상기 대물렌즈의 동공에 패턴을 형성하기 위한 패턴형성부재를 구비하는 것을 특징으로 하는 패턴형성 조명광학계를 이용한 검사광학계
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 광원이 가간섭성 광원인 경우 상기 패턴형성부재는 회절광학소자(DOE) 또는 홀로그래픽 광학소자(HOE)인 것을 특징으로 하는 패턴형성 조명광학계를 이용한 검사광학계
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 패턴형성부재는 패턴형상이 형성된 기구 어퍼쳐인 것을 특징으로 하는 패턴형성 조명광학계를 이용한 검사광학계
4 4
제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 대물렌즈와 상기 조명광학계 사이에는 DIC 프리즘이 더욱 설치되는 것을 특징으로 하는 패턴형성 조명광학계를 이용한 검사광학계
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 중소기업청 한국산업기술대학교 산학협력단 산학연공동기술개발사업 광시야용 미분간섭검사용 광학계 개발