맞춤기술찾기

이전대상기술

고온 환경용 접촉식 변형률 측정장치 및 방법(APPARATUS AND METHOD FOR DEFORMATION BY THE CONTACT-MEASUREMENT AT HIGH TEMPERATURE)

  • 기술번호 : KST2017000076
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 고온 환경용 접촉식 변형률 측정장치 및 방법에 관한 것으로 측정 장치 설계 및 구성과 변형률 획득 방법 제공을 목적으로 한다. 특히, 지금까지 보고된 접촉식 변형률 측정 장치 및 방법에 대한 문제점들, 예를 들어 변형률 측정 중 발생하는 시편에서의 측정자 미끄러짐 현상과 측정 오차, 측정부(익스텐소메터)의 내열성한계에 의한 측정온도의 제약 등을 해결하였으며, 상온을 비롯한 2000℃이상의 초고온 영역에서도 단일 시스템으로 정확하고 효과적으로 시편의 변형률을 측정할 수 있는 장치 및 방법을 제공하는 것을 특징으로 한다.이를 위해 본 발명에 따른 고온 환경 적용 가능한 접촉식 변형률 측정 방법은, 변형률 측정을 위한 재료의 시편(12)을 특별히 고안 후, 장착하여 상기 시편의 온도를 상승시키고, 응력을 가하여 시편(12)을 변형시킬 수 있도록 하는 시편장착부와, 상기 시편장착부에 장착된 시편(12)의 변형률을 측정하는 측정부(익스텐소메터)(30)와, 측정부(익스텐소메터)(30)가 받는 열을 최소화하기 위한 냉각부의 냉각사스템(40) 및 상기 측정부(익스텐소메터)(30)에 수집된 데이터를 저장 및 분석하는 계산부인 분석용 컴퓨터(50)를 포함하는 접촉식 고온 변형률 측정 장치로 하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL G01B 21/32 (2006.01) G01N 3/18 (2006.01)
CPC G01N 3/18(2013.01) G01N 3/18(2013.01) G01N 3/18(2013.01) G01N 3/18(2013.01) G01N 3/18(2013.01) G01N 3/18(2013.01)
출원번호/일자 1020150089817 (2015.06.24)
출원인 국방과학연구소
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0000638 (2017.01.03) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2015.06.24)
심사청구항수 11

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 이만영 대한민국 대전광역시 유성구
2 민경호 대한민국 대전광역시 유성구
3 이형익 대한민국 대전광역시 유성구
4 이규원 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한양특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, 한양빌딩 (도곡동)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2015.06.24 수리 (Accepted) 1-1-2015-0612771-26
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.04.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2016.06.10 수리 (Accepted) 9-1-2016-0024528-55
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2016.07.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0538879-14
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2016.09.26 수리 (Accepted) 1-1-2016-0927916-94
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2016.10.17 수리 (Accepted) 1-1-2016-1001171-46
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2016.10.17 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2016-1001172-92
8 등록결정서
Decision to grant
2017.02.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0125421-98
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
변형률 측정을 위한 시험부가 "‡"형상으로 이루어진 시편을 장착하고, 상기 시편의 온도를 상승시키며, 응력을 가하여 상기 시편을 변형시켜주는 시편장착부와; 한 방향으로 상기 시편과 연결부위를 이루고, 상기 시편의 변형률을 측정하는 측정부와; 상기 측정부에 전달되는 열의 세기를 약화시키는 냉각부; 및 상기 측정부와 동기화 되어 데이터 저장 및 분석하여 재료의 변형률을 계산하는 계산부;를 포함하고,상기 측정부는 탄소 재질의 복합재이면서 U자형 형태의 단면을 갖는 측정자, 이음블록, 센서, 상기 시편을 상기 측정자에 고정하는 볼트로 구성되며;상기 측정자는 "ㄴ"형상의 시편고정베드가 한 쌍으로 구성되고, 상기 시편고정베드의 각각에는 상기 시편 확장부의 각각이 결합되도록 볼트홀을 형성하며, 상기 볼트가 상기 볼트홀에 체결되어 상기 시편을 상기 측정자에 고정시켜주는것을 특징으로 하는 접촉식 고온 변형률 측정장치
2 2
청구항 1에 있어서, 상기 시편장착부는 상기 시편을 내부에 위치시키고, 상기 측정부를 향하는 벽면의 일측에 측정부 삽입창을 형성하는 챔버와; 상기 챔버의 내부에 상기 시편이 위치되도록 장착하고, 응력을 가하여 상기 시편을 변형시키도록 하는 그립; 및 상기 챔버 내부에 설치되어 상기 시편의 온도를 상승시키는 히터; 로 구성된 것을 특징으로 하는 접촉식 고온 변형률 측정장치
3 3
청구항 2에 있어서, 상기 챔버는 상기 시편이 설치된 상기 벽면에 내부 공간의 공기를 제거하여 진공을 형성하는 진공펌프가 설치된 것을 특징으로 하는 접촉식 고온 변형률 측정장치
4 4
청구항 2에 있어서, 상기 챔버는 상기 시편이 설치된 상기 벽면의 내부 공간에 비활성 가스를 공급하는 가스공급장치가 설치된 것을 특징으로 하며, 비활성 가스는 헬륨, 알곤, 질소 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 접촉식 고온 변형률 측정장치
5 5
청구항 2에 있어서, 상기 챔버의 벽면은 내부에 냉각수를 순환시켜 과열을 방지하는 챔버냉각수단이 포함된 것을 특징으로 하는 접촉식 고온 변형률 측정장치
6 6
청구항 2에 있어서, 상기 히터는 탄소 재질이고, 상기 시편과 거리를 5cm 이내로 하며, 전류를 이용하여 가열되는 것을 특징으로 하는 접촉식 고온 변형률 측정장치
7 7
청구항 2에 있어서, 상기 그립의 내부에 냉각수를 순환시켜 과열을 방지하는 치구냉각수단이 포함된 것을 특징으로 하는 접촉식 고온 변형률 측정장치
8 8
삭제
9 9
삭제
10 10
삭제
11 11
청구항 1에 있어서, 상기 이음블록은 상기 측정자와 상기 센서에 결합되고, 세라믹 재료, 고 강도의 다공성 재료, 상기 측정자 재료대비 저 밀도 재료, 상기 측정자 재료 대비 낮은 열전도도를 갖는 단열재료 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 접촉식 고온 변형률 측정장치
12 12
청구항 1에 있어서, 상기 냉각부는 상기 측정부를 감싸고, 냉매를 사용하며, 상기 냉매의 양과 농도를 제어할 수 있는 스위치를 구비한 것을 특징으로 하는 접촉식 고온 변형률 측정장치
13 13
청구항 1에 있어서, 상기 계산부는 하드웨어와 소프트웨어로 구성되며, 상기 측정부와 동기화 되어 데이터 획득과 그래프 생성이 동시에 이루어지는 것을 특징으로 하는 접촉식 고온 변형률 측정장치
14 14
청구항 1 내지 청구항 7 및 청구항 11 내지 청구항 13 중 어느 한 항에 의한 접촉식 고온 변형률 측정장치로 수행되는 고온 환경용 접촉식 변형률 측정방법에 있어서,a) 시편 온도를 상승시킬 수 있는 인장 시험용 챔버에 상기 시편을 설치하는 단계; b) 온도 상승 시 상기 시편에서 방출되는 열을 최소화 시키는 단계; c) 측정부를 설치하는 단계; d) 상기 측정부의 측정자와 시편을 연결해 고정하는 단계;e) 상기 챔버에 전류를 공급하여 상기 시편의 온도를 상온부터 측정하고자 하는 온도까지 증가시키는 단계;f) 측정온도에 도달한 상기 시편에 로드를 걸어주는 단계; g) 로드가 증가하면서 상기 시편의 변형이 측정부에 기록되는 단계; h) 획득된 변형률 데이터를 이용하여 상기 시편의 탄성률을 획득하는 단계;로 수행되는 것을 특징으로 하는 고온 환경용 접촉식 변형률 측정방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.