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임베디드 시스템을 테스트하는 임베디드 시스템의 테스트 장치에 있어서,상기 임베디드 시스템에서 전송된 로그 정보를 저장하는 로그부;상기 로그 정보의 입력 순서에 기초하여 패턴을 분석하는 패턴 분석부; 상기 분석된 패턴에 기초하여 테스트 모델을 생성하는 테스트 모델부를 포함하고상기 패턴 분석부는상기 로그 정보 중 특정 로그 정보를 기준으로 그룹을 나누어 각 그룹 내에 상기 특정 로그 정보와 동일한 로그 정보가 존재 하는지 판단하고 존재한다면 상기 동일한 로그 정보 사이에 패턴을 분석하는 임베디드 시스템의 테스트 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 로그 정보는,적어도 하나의 부하 정보와, 상기 적어도 하나의 부하의 신호 정보를 포함하는 임베디드 시스템의 테스트 장치
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제 2 항에 있어서, 상기 로그부는, 상기 적어도 하나의 부하 정보와 신호 정보가 매칭된 이벤트 정보를 생성하고,상기 로그 정보는 상기 이벤트 정보를 더 포함하는 임베디드 시스템의 테스트 장치
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제 3 항에 있어서, 상기 로그부는, 상기 적어도 하나의 부하의 신호 정보의 입력 시간 순으로 로그 정보가 기록된 로그 시퀀스를 갖는 임베디드 시스템의 테스트 장치
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제 4 항에 있어서, 상기 로그부는,상기 로그 시퀀스를 상기 패턴 분석부에 전달하는 임베디드 시스템의 테스트 장치
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제 4 항에 있어서, 상기 테스트 모델부는,상기 적어도 하나의 부하의 신호 정보가 입력된 시간 순으로 이벤트 정보의 상태를 추가하고, 두 상태를 연결하는 전이를 추가하여 그래프 방식의 상태 머신을 생성하는 임베디드 시스템의 테스트 장치
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제 6 항에 있어서, 상기 테스트 모델부는,상기 로그 시퀀스에 기초하여 추가하고자 하는 상태가 패턴을 형성하는지 판단하고, 상기 패턴을 형성한다고 판단되면 상기 패턴 내 시작 상태와 상기 추가하고자 하는 상태를 연결하는 전이를 추가하는 임베디드 시스템의 테스트 장치
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제 6 항에 있어서, 상기 테스트 모델부는,상기 로그 시퀀스에 기초하여 추가하고자 하는 상태가 패턴을 형성하는지 판단하고, 상기 패턴을 형성하지 않는다고 판단되면 이전 상태와 상기 추가하고자 하는 상태를 연결하는 전이를 추가하는 임베디드 시스템의 테스트 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 로그부는,상기 임베디드 시스템의 출력 포트에 연결되어 상기 출력 포트에서 출력된 로그 정보를 수신하는 임베디드 시스템의 테스트 장치
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임베디드 시스템을 테스트하는 임베디드 시스템의 테스트 장치에 있어서,상기 임베디드 시스템에 저장된 로그 정보의 패턴을 분석하는 패턴 분석부; 상기 분석된 로그 정보의 패턴에 기초하여 테스트 모델을 생성하는 테스트 모델부를 포함하고상기 패턴 분석부는상기의 로그 정보 중 특정 로그 정보를 기준으로 그룹을 나누어 각 그룹 내에 상기 특정 로그 정보와 동일한 로그 정보가 존재 하는지 판단하고 존재한다면 상기 동일한 로그 정보 사이에 패턴을 분석하는 임베디드 시스템의 테스트 장치
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제 10 항에 있어서, 상기 로그 정보는, 적어도 하나의 부하 정보와, 상기 적어도 하나의 부하의 신호 정보와, 상기 적어도 하나의 부하 정보와 신호 정보가 매칭된 이벤트 정보를 포함하고,상기 로그 정보가 리스트화된 로그 시퀀스를 저장하는 로그부를 더 포함하는 임베디드 시스템의 테스트 장치
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제 11 항에 있어서, 상기 테스트 모델부는,상기 로그 시퀀스에 기초하여 이벤트 정보의 상태와 전이를 추가하여 그래프 방식의 상태 머신을 테스트 모델로 생성하는 임베디드 시스템의 테스트 장치
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임베디드 시스템에서 전송된 로그 정보를 수신하고,상기 수신된 로그 정보의 입력 순서에 기초하여 패턴을 분석하고,상기 분석된 패턴에 기초하여 이벤트 정보의 상태와 전이를 추가하여 그래프 방식의 상태 머신을 테스트 모델로 생성하고,상기 생성된 테스트 모델을 이용하여 상기 임베디드 시스템을 테스트하는 임베디드 시스템의 테스트 방법
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제 13 항에 있어서, 상기 로그 정보는,적어도 하나의 부하 정보와, 상기 적어도 하나의 부하의 신호 정보와, 상기 적어도 하나의 부하 정보와 신호 정보가 매칭된 이벤트 정보를 포함하는 임베디드 시스템의 테스트 방법
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제 14 항에 있어서, 상기 패턴을 분석하는 것은,상기 적어도 하나의 부하의 신호가 입력된 시간 순서에 따라 상기 로그 정보를 리스트화한 로그 시퀀스를 생성하고,상기 생성된 로그 시퀀스에 기초하여 패턴을 분석하는 것을 포함하는 임베디드 시스템의 테스트 방법
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제 15 항에 있어서, 상기 테스트 모델을 생성하는 것은,상기 생성된 로그 시퀀스의 이벤트 정보를 시간 순으로 상태로 추가하고,연속된 두 개의 상태를 연결하는 전이를 추가하여 상태 머신을 상기 테스트 모델로 생성하는 것을 포함하는 임베디드 시스템의 테스트 방법
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제 16 항에 있어서, 상기 전이를 추가하는 것은,상기 로그 시퀀스에 기초하여 추가하고자 하는 상태가 패턴을 형성하는지 판단하고, 상기 추가하고자 하는 상태가 패턴을 형성한다고 판단되면 상기 패턴 내 시작 상태와 상기 추가하고자 하는 상태를 연결하는 전이를 추가하는 것을 포함하는 임베디드 시스템의 테스트 방법
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제 17 항에 있어서, 상기 전이 추가가 완료되면 상기 패턴을 삭제하는 것을 더 포함하는 임베디드 시스템의 테스트 방법
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제 16 항에 있어서, 상기 전이를 추가하는 것은,상기 로그 시퀀스에 기초하여 추가하고자 하는 상태가 패턴을 형성하는지 판단하고, 상기 추가하고자 하는 상태가 패턴을 형성하지 않는고 판단되면 이전 상태와 상기 추가하고자 하는 상태를 연결하는 전이를 추가하는 것을 포함하는 임베디드 시스템의 테스트 방법
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제 19 항에 있어서, 상기 로그 시퀀스에서 상기 추가하고자 하는 상태를 삭제하는 것을 더 포함하는 임베디드 시스템의 테스트 방법
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제 13 항에 있어서, 상기 로그 정보를 수신하는 것은, 상기 임베디드 시스템의 출력 포트에 연결되어 상기 출력 포트에서 출력된 로그 정보를 수신하는 것을 포함하고,상기 수신된 로그 정보를 저장하는 것을 더 포함하는 임베디드 시스템의 테스트 방법
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