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전자현미경용 형광검출기 장치 및 이를 구비한 전자현미경(SCINTILLATION DETECTOR FOR ELECTRON MICROSCOPE AND THE ELECTRON MICROSCOPE INCLUDING THE SAME)

  • 기술번호 : KST2017005459
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 STEM 영상관찰을 위해 검출감도와 신호 대 잡음비가 뛰어난 복수개의 고리형 형광검출기(scintillation detector)를 이용하여 산란여부 및 회절각 분포에 따른 영상을 고해상도로 빠르게 획득할 수 있는 형광검출기에 관한 것으로, 명시야 영상과 암시야 영상을 분리 관찰하고 전자검출에 의해 발생된 광신호의 색상을 달리하여 광 가이드를 통해 혼합광을 전송한 뒤 광 분리부로 분리하는 것이 가능하여 분해능을 높일 수 있다. 또한, 후방산란전자 영상 검출기를 좌우대칭 또는 사방대칭형의 형광검출기로 하여 3차원 영상을 획득할 수 있는 검출기 및 이러한 검출기능을 가지는 전자현미경을 제공한다.
Int. CL H01J 37/28 (2006.01.01) G01T 1/20 (2006.01.01) H01J 37/22 (2006.01.01) H01J 37/244 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020160150962 (2016.11.14)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0027314 (2017.03.09) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자 10-2015-0123568 (2015.09.01)
관련 출원번호 1020150123568
심사청구여부/일자 Y (2016.11.14)
심사청구항수 3

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 조복래 대한민국 대전광역시 유성구
2 안상정 대한민국 대전광역시 유성구
3 박인용 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 문환구 대한민국 서울특별시 서초구 바우뫼로 ***, *층(두리암특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [분할출원]특허출원서
[Divisional Application] Patent Application
2016.11.14 수리 (Accepted) 1-1-2016-1108185-16
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2016.12.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0925098-40
3 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.02.07 수리 (Accepted) 1-1-2017-0124381-34
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.02.07 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0124387-18
5 등록결정서
Decision to grant
2017.04.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0298799-31
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
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번호 청구항
1 1
전자현미경용 형광검출기 장치로,상기 형광검출기 장치는, 시료를 투과한 전자빔 축 상에서 제1 회절각 범위 내에 원형으로 배치되고 전자빔이 입사하여 제1 색상의 광을 방출하는 명시야 형광검출기;상기 명시야 형광검출기와 동일 평면상에 상기 명시야 형광검출기를 둘러싸는 고리 형상으로 배치되되, 상기 전자빔 축 상에서 제1 회절각과 제2 회절각 사이에 위치하며, 전자빔이 입사하여 제2 색상의 광을 방출하는 암시야 형광검출기;상기 명시야 형광검출기와 암시야 형광검출기에 접하며, 상기 제1 색상의 광 및 상기 제2 색상의 광이 혼합된 혼합광을 가이드하는 광 가이드부; 상기 광 가이드부를 통과한 상기 혼합광을 제1 색상의 광 및 제2 색상의 광으로 분리하는 광 분리부; 상기 광 분리부를 통과한 상기 제1 색상 광 및 상기 제2 색상 광을 각각 검출하는 광검출기; 및 상기 광검출기에서 검출된 광을 영상화하는 제어부를 포함하고,상기 명시야 형광검출기와 상기 암시야 형광검출기는 상기 광 가이드부를 향한 방향으로 광을 방출하고,상기 광 가이드부는 입사된 광을 전반사하여 상기 광 분리부로 전달하며,상기 암시야 형광검출기는 저각도 암시야(LAADF, Low-Angle Annular Dark Field Image) 형광검출기 및 고각도 암시야(HAADF, High-Angle Annular Dark Field Image) 형광검출기를 포함하고,상기 저각도 암시야 형광검출기는 상기 제1 회절각과 제3 회절각 사이에 위치하며, 전자빔이 입사하여 제2-1 색상의 광을 방출하고,상기 고각도 암시야 형광검출기는 상기 제3 회절각과 상기 제2 회절각 사이에 위치하며, 전자빔이 입사하여 제2-2 색상의 광을 방출하고,상기 제3 회절각은 상기 제1 회절각과 상기 제2 회절각 사이 값인, 전자현미경용 형광검출기 장치
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삭제
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제 1항에 있어서, 상기 광 분리부는 분광기(프리즘)이고,상기 분광기를 통과한 복수개의 단색광을 시간 또는 공간으로 분리하여 상기 광검출기로 전송하는,전자현미경용 형광검출기 장치
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제 1항에 있어서, 상기 광 분리부는 단색광 여과기(광 필터)이고,상기 단색광 여과기를 통과한 단색광을 상기 광검출기로 전송하는,전자현미경용 형광검출기 장치
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 KR1020170027089 KR 대한민국 FAMILY

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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 한국표준과학연구원 국가과학기술연구회운영비지원 멀티스케일 3차원 이미징을 위한 융합현미경 개발
2 미래창조과학부 한국표준과학연구원 주요사업 3-3-1 하전입자빔 기반 연성물질 측정기술 개발