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투명판 두께검사 장치, 이를 포함하는 투명판 두께검사 시스템, 및 이를 운용하는 방법(Thickness Measuring Machine for Transparent Plate, Thickness Measuring System Having the Same, and Operating Method Thereof)

  • 기술번호 : KST2017006178
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 투명판 두께검사 장치, 이를 포함하는 투명판 두께검사 시스템, 및 이를 운용하는 방법이 개시된다. 본 발명의 실시예에 따른 투명판 두께검사 장치(100)는: 투명판의 두께를 검사하는 장치(100)로서, 레이저발생부(120)에 인접하여 장착되고, 레이저발생부(120)로부터 발생된 레이저가 투과되는 기준투명판(110); 기준투명판(110) 및 측정대상 투명판(10)에 각각 레이저를 조사하는 레이저발생부(120); 상기 기준투명판(110) 및 측정대상 투명판(10)을 투과한 레이저를 수광하여 간섭패턴을 획득하는 간섭패턴획득부(130); 및 상기 간섭패턴획득부(130)로부터 획득한 간섭패턴 데이터를 바탕으로 위상차를 계산하여 측정대상 투명판(10)의 두께를 기준투명판(110)과 비교하여 비교데이터를 산술처리하는 제어부(140);를 포함하는 것을 구성의 요지로 한다.본 발명의 투명판 두께검사 장치에 따르면, 디지털 홀로그래피를 이용하여 투명판의 두께를 비접촉식으로 측정할 수 있다.
Int. CL G01B 11/06 (2015.10.20) G01B 9/02 (2015.10.20) G01M 11/02 (2015.10.20)
CPC G01B 11/06(2013.01) G01B 11/06(2013.01) G01B 11/06(2013.01)
출원번호/일자 1020150130051 (2015.09.15)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0032567 (2017.03.23) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2015.09.15)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박노철 대한민국 서울특별시 강남구
2 진지난 중국 서울특별시 서대문구
3 조장현 대한민국 경기도 안양시 동안구
4 전성빈 대한민국 서울특별시 중구
5 김도형 대한민국 경기도 고양시 덕양구
6 김활 대한민국 서울특별시 서대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 윤병국 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***길, **, *층 (대치동, 삼호빌딩)(지성국제특허법률사무소)
2 이영규 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***길, **, *층 (대치동, 삼호빌딩)(지성국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2015.09.15 수리 (Accepted) 1-1-2015-0894105-85
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.08.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2016.10.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2016-0133939-02
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2016.10.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0760198-37
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2016.12.21 수리 (Accepted) 1-1-2016-1258634-33
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2016.12.21 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2016-1258635-89
7 등록결정서
Decision to grant
2017.04.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0294608-47
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번호 청구항
1 1
투명판의 두께를 검사하는 장치(100)로서,레이저발생부(120)에 인접하여 장착되고, 레이저발생부(120)로부터 발생된 레이저가 투과되는 기준투명판(110);기준투명판(110) 및 측정대상 투명판(10)에 각각 레이저를 조사하는 레이저발생부(120);상기 기준투명판(110) 및 측정대상 투명판(10)을 투과한 레이저를 수광하여 간섭패턴을 획득하는 간섭패턴획득부(130);상기 간섭패턴획득부(130)로부터 획득한 간섭패턴 데이터를 바탕으로 위상차를 계산하여 측정대상 투명판(10)의 두께를 기준투명판(110)과 비교하여 비교데이터를 산술처리하는 제어부(140); 및상기 기준투명판(110)의 위치를 조정하여 기준투명판(110)으로 투과되는 레이저의 위치를 변경시킬 수 있는 위치조정부(111);를 포함하는 것을 특징으로 하는 투명판 두께검사 장치
2 2
삭제
3 3
제 1 항에 있어서,상기 위치조정부(111)는, 기준투명판(110)으로 입사되는 레이저의 입사각을 변경할 수 있도록, 기준투명판(110)의 기울기를 조정하는 기울기조정부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 투명판 두께검사 장치
4 4
제 1 항에 있어서,상기 투명판 두께검사 장치(100)는:상기 레이저발생부(120)의 위치를 조정하여 기준투명판(110)으로 투과되는 레이저의 위치를 변경시킬 수 있는 위치조정부(121)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 투명판 두께검사 장치
5 5
제 4 항에 있어서,상기 위치조정부(121)는, 기준투명판(110)으로 입사되는 레이저의 입사각을 변경할 수 있도록, 레이저발생부(120)의 기울기를 조정하는 기울기조정부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 투명판 두께검사 장치
6 6
제 1 항에 있어서,상기 투명판 두께검사 장치(100)는:상기 측정대상 투명판(10)의 위치를 변경시킬 수 있는 운송부(150)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 투명판 두께검사 장치
7 7
제 6 항에 있어서,상기 운송부(150)의 일측부 또는 양측부에는, 레이저발생부(120)로부터 발생된 레이저가 측정대상 투명판(10)에 조사될 수 있도록 관통구조의 레이저 진행로(151)가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 투명판 두께검사 장치
8 8
제 1 항에 있어서,상기 투명판 두께검사 장치(100)는:레이저발생부(120)로부터 발생된 레이저를 기준투명판(110)으로 향하는 제 1 레이저와 측정대상 투명판(10)으로 향하는 제 2 레이저로 분리시키는 제 1 빔스플리터(161);상기 제 1 빔스플리터(161)에 의해 분리된 제 1 레이저와 제 2 레이저 각각을 기준투명판(110)과 측정대상 투명판(10)으로 향하게 하는 둘 이상의 미러(163); 및기준투명판(110)과 측정대상 투명판(10)을 투과한 제 1 레이저와 제 2 레이저를 중첩시켜 중첩된 레이저를 간섭패턴획득부(130)로 향하게 하는 제 2 빔스플리터(162);를 포함하는 것을 특징으로 하는 투명판 두께검사 장치
9 9
제 8 항에 있어서,상기 투명판 두께검사 장치(100)는:측정대상 투명판(10)을 투과한 제 2 레이저를 수광하여 측정대상 투명판(10)의 투광율을 측정하는 투광율측정부(170)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 투명판 두께검사 장치
10 10
제 8 항에 있어서,상기 투명판 두께검사 장치(100)는:측정대상 투명판(10)을 투과한 제 2 레이저를 수광하여 측정대상 투명판(10)의 기울기 변화를 검출하고, 검출된 기울기 변화값에 따라 제 2 레이저의 형태를 바꾸어 간섭패턴획득부(130)로부터 획득하는 간섭패턴을 보정하는 4분할PD(180)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 투명판 두께검사 장치
11 11
제 1 항, 제 3 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 따른 투명판 두께검사 장치(100)를 포함하는 투명판 두께검사 시스템(200)으로서,투명판 두께검사 장치(100)의 제어부(140)로부터 전달받은 비교데이터 산술처리결과를 운용자에게 시각적으로 표시하는 영상출력장치(210); 및투명판 두께검사 장치(100)의 제어부(140)로부터 전달받은 측정대상 투명판(10)의 두께값이 기설정된 두께 범위 내의 값일 경우 합격신호를 출력하고, 측정대상 투명판(10)의 두께값이 기설정된 두께 범위를 벗어나는 값일 경우 불합격신호를 출력하는 합격판별장치(220);를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 투명판 두께검사 시스템
12 12
제 11 항에 있어서,상기 합격판별장치(220)에 입력된 기설정된 두께 범위는, 운용자에 의해 변경 가능한 것을 특징으로 하는 투명판 두께검사 시스템
13 13
제 12항에 따른 투명판 두께검사 시스템을 운용하는 방법(S100)으로서,a) 기준투명판(110)을 장착하고, 측정대상 투명판(10)의 합격 두께 범위를 설정하는 준비단계(S110);b) 기준투명판(110)과 측정대상 투명판(10)에 각각 레이저를 조사하는 레이저조사단계(S120);c) 기준투명판(110)과 측정대상 투명판(10)을 투과한 레이저를 수광하여 간섭패턴을 획득하는 간섭패턴 획득단계(S130);d) 간섭패턴 획득단계(S130)로부터 획득한 간섭패턴 데이터를 바탕으로 위상차를 계산하여 측정대상 투명판(10)의 두께를 기준투명판(110)과 비교하여 비교데이터를 산술처리하는 산술처리단계(S140); 및e) 비교데이터 산술처리결과를 운용자에게 시각적으로 표시하고, 측정대상 투명판(10)의 합격 또는 불합격 여부를 출력하는 결과출력단계(S150);를 포함하는 것을 특징으로 하는 투명판 두께검사 시스템 운용방법
14 14
제 13 항에 있어서,상기 산술처리단계(S140)는:d-1) 간섭패턴을 통해 간섭된 레이저의 광강도 I 값을 검출하는 광감도검출단계(S141);d-2) 검출된 광감도 값을 이용하여 제 1 레이저와 제 2 레이저의 위상차 값을 계산하는 위상차 계산단계(S142); 및d-3) 계산된 위상차 값을 이용하여 기준투명판(110)과 측정대상 투명판(10)의 두께 차이를 계산하는 두께 계산단계(S143);를 포함하는 것을 특징으로 하는 투명판 두께검사 시스템 운용방법
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 연세대학교 산학협력단 중견연구자지원 나노 점광원 생성과 이를 이용한 극초고해상 SELF 현미경 연구