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테라헤르츠 전자기파를 이용한 고민감도 잔류량 검출방법 및 이에 사용되는 디바이스(Method for sensing residues using terahertz electromagnetic waves with high sensitivity and device used therein)

  • 기술번호 : KST2017006512
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 테라헤르츠 전자기파를 이용한 (농약 등의) 잔류량 측정 방법 및 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 테라헤르츠 전자기파 영역에서 작동하는 메타부를 가지는 센싱칩을 사용하여 과일 등의 대상 물체에 분포하는 미량의 농약을 매우 높은 민감도와 선택성을 가지고 검출할 수 있고, 특히 측정 대상 농약의 양에 따라 센싱칩을 통과 또는 반사되어 측정되는 광의 투과율 또는 주파수 변화의 증가폭의 과소를 기준으로 대상 농약의 잔류량을 판단하는 정량분석에도 이용할 수 있는 테라헤르츠 전자기파를 이용한 고민감도 잔류량 검출방법 및 이에 사용되는 디바이스에 관한 것이다.
Int. CL G01N 21/3581 (2015.10.23)
CPC G01N 21/3581(2013.01) G01N 21/3581(2013.01)
출원번호/일자 1020150134860 (2015.09.23)
출원인 한국과학기술연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0036891 (2017.04.04) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 발송처리완료
심판사항 심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2015.09.23)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 서민아 대한민국 서울특별시 성북구
2 이동규 대한민국 서울특별시 성북구
3 김철기 대한민국 서울특별시 성북구
4 이택진 대한민국 서울특별시 성북구
5 김재헌 대한민국 서울특별시 성북구
6 전영민 대한민국 서울특별시 성북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김현진 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 조이타워 ***호(대신국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2015.09.23 수리 (Accepted) 1-1-2015-0929171-98
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.06.24 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2016.08.10 수리 (Accepted) 9-1-2016-0036114-93
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2016.09.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0654898-70
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2016.11.09 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2016-1093959-96
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2016.11.09 수리 (Accepted) 1-1-2016-1093958-40
7 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2017.02.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0147764-47
8 심사관의견요청서
Request for Opinion of Examiner
2017.05.12 수리 (Accepted) 7-8-2017-0011299-74
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
측정 대상 농약 성분의 고유 흡수 주파수에 상응하는 주파수를 증폭시키도록 패턴이 형성된 메타부를 가지는 센싱칩을 이용하여, 미량의 농약에 테라헤르츠 전자기파를 조사하여 측정 대상 농약 성분의 잔류량을 검출할 수 있는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 전자기파를 이용한 고민감도 잔류량 검출방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 검출방법은측정 대상 농약 성분이 분포된 물체 상에 특정 주파수를 선택적으로 증폭시키는 패턴이 형성된 메타부를 가지는 센싱칩을 위치시키는 대상위치단계와;상기 메타부 상에 테라헤르츠 전자기파를 조사하는 광조사단계와;상기 센싱칩을 통과하여 상기 물체를 통과하거나, 상기 센싱칩을 통과한 후 상기 물체에서 반사되어 상기 센싱칩을 다시 통과하는 테라헤르츠 전자기파의 투과율 또는 주파수 변화를 측정하여 측정 대상 농약 성분을 특정하는 대상특정단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 전자기파를 이용한 고민감도 잔류량 검출방법
3 3
제2항에 있어서, 상기 대상특정단계는측정 대상 농약 성분의 고유 흡수 주파수와 패턴이 형성된 메타부의 투과 공명 주파수가 상응함에 따라 투과율 또는 주파수 변화가 증대되는 것에 기인하여 측정 대상 농약 성분을 특정하는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 전자기파를 이용한 고민감도 잔류량 검출방법
4 4
제2항에 있어서, 상기 검출방법은측정대상 농약 성분의 잔류량에 따라 측정되는 테라헤르츠 전자기파의 투과율 또는 주파수 변화의 증가폭의 과소를 기준으로 측정대상 농약 성분의 잔류량을 판단하는 잔류량분석단계;를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 전자기파를 이용한 고민감도 잔류량 검출방법
5 5
제2항에 있어서, 상기 패턴은폭이 10nm~1um 사이, 두께가 100nm~1um 사이, 길이가 10um~1mm 사이에서 슬릿형으로 형성되는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 전자기파를 이용한 고민감도 잔류량 검출방법
6 6
제5항에 있어서, 상기 패턴은복수의 패턴이 일정 간격으로 배열된 어레이 형태를 이루며, 패턴 사이의 간격이 가로가 1nm~1mm 사이, 세로가 1nm~1mm 사이에서 형성되는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 전자기파를 이용한 고민감도 잔류량 검출방법
7 7
제4항에 있어서, 상기 센싱칩은유연한 재질의 기판 상에 메타부를 형성하여, 굴곡진 형태와 같은 다양한 외형을 갖는 물체 상에도 센싱칩을 용이하게 위치시켜 농약 성분의 잔류량을 검출할 수 있는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 전자기파를 이용한 고민감도 잔류량 검출방법
8 8
제1항 내지 제7항 중 어느 하나의 항의 검출방법에 사용되는 센칭칩을 포함하는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 전자기파를 이용한 고민감도 잔류량 검출방법에 사용되는 디바이스
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US09835553 US 미국 FAMILY
2 US20170082540 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US2017082540 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US9835553 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.