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반도체 웨이퍼 측정 장치(MEASURING APPARATUS OF SEMICONDUCTOR WAFER)

  • 기술번호 : KST2017007387
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 반도체 웨이퍼 측정 장치에 있어서, 상부면 일측에서 하부면 일측까지 수직방향으로 연장되어 소정의 절연체로 둘러싸여 형성되는 전극 라인과 연결되는 감지 전극을 구비하며, 상부면에 검사대상 웨이퍼를 안착하는 웨이퍼 플레이트와; 복수 개의 접촉 프로브를 이용하여 상기 웨이퍼의 상면에 형성된 어느 하나의 반도체소자의 동일 전극의 서로 다른 두 지점에 각각 대응하는 영역과, 상기 전극 라인에 대응하는 상기 웨이퍼 플레이트의 하부면 상의 제1영역과, 상기 제1영역으로부터 소정 거리 이격된 상기 웨이퍼 플레이트의 하부면 상의 제2영역에 각각 접촉하여 상기 반도체소자의 전기적 특성을 측정하는 웨이퍼 측정부를 포함하는 것을 특징으로 한다.이에 따라, 고전압 측정 시 발생할 수 있는 아킹을 방지하고, 대전류 측정 시 발생할 수 있는 접촉저항을 감소시킬 수 있는 효과가 있다.
Int. CL H01L 21/66 (2015.11.24) G01R 1/073 (2015.11.24)
CPC G01R 1/073(2013.01) G01R 1/073(2013.01)
출원번호/일자 1020150145590 (2015.10.19)
출원인 한국전기연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0045653 (2017.04.27) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2020.03.26)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전기연구원 대한민국 경상남도 창원시 성산구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강인호 대한민국 경상남도 진주시 강남로 **,
2 나문경 대한민국 경상남도 창원시 성산구
3 석오균 대한민국 경상남도 창원시 성산구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인부경 대한민국 부산광역시 연제구 법원남로**번길 **, *층 (거제동, 대한타워)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2015.10.19 수리 (Accepted) 1-1-2015-1011620-90
2 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2020.03.26 수리 (Accepted) 1-1-2020-0317967-43
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번호 청구항
1 1
상부면 일측에서 하부면 일측까지 수직방향으로 연장되어 소정의 절연체로 둘러싸여 형성되는 전극 라인과 연결되는 감지 전극을 구비하며, 상부면에 검사대상 웨이퍼를 안착하는 웨이퍼 플레이트; 및복수 개의 접촉 프로브를 이용하여 상기 웨이퍼의 상면에 형성된 어느 하나의 반도체소자의 동일 전극의 서로 다른 두 지점에 각각 대응하는 영역과, 상기 전극 라인에 대응하는 상기 웨이퍼 플레이트의 하부면 상의 제1영역과, 상기 제1영역으로부터 소정 거리 이격된 상기 웨이퍼 플레이트의 하부면 상의 제2영역에 각각 접촉하여 상기 반도체소자의 전기적 특성을 측정하는 웨이퍼 측정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 측정 장치
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제1항에 있어서,상기 웨이퍼 측정부는, 상기 반도체소자의 어느 하나의 전극에 대응하는 영역에 소정의 전압을 인가하고 상기 제1영역에 접지 전압을 인가한 후, 상기 반도체소자의 나머지 하나의 전극에 대응하는 영역과 상기 제2영역의 전위차를 측정하여 상기 반도체소자의 전기적 특성을 측정하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 측정 장치
3 3
제1항에 있어서,중앙에 절연유를 밀폐 상태로 수용하기 위한 소정 크기의 수용 홀이 형성되며, 상기 웨이퍼가 안착한 상기 웨이퍼 플레이트의 상부면에 장착되어 상기 웨이퍼의 상부를 눌러 고정하는 웨이퍼 고정 척을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 측정 장치
4 4
제3항에 있어서,상기 웨이퍼 고정 척은,상기 웨이퍼 플레이트에 대응하는 크기로 형성되되 상기 수용 홀의 내주연 직경이 상기 웨이퍼의 외주연 직경보다 크게 형성되어 상기 웨이퍼 플레이트의 상부면에 장착되는 차폐부; 및상기 웨이퍼의 상부를 눌러 고정하도록 상기 웨이퍼 플레이트의 상부면에 장착되되 상기 수용 홀에 대응하는 위치에 'X'자 형태로 배치되는 복수 개의 클립 형태의 고정 홀더와, 상기 고정 홀더의 일단을 고정하는 고정핀을 포함하는 고정부를 포함하며,상기 웨이퍼의 상부는 상기 고정핀에 의해 고정되지 않은 상기 고정 홀더의 하부에 의해 눌려 고정되는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 측정 장치
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