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전자기파 검출 모듈 및 전자기파를 이용한 투과 검출 장치(MODULE FOR DETECTING ELECTROMAGNETIC WAVE AND, APPARATUS FOR DETECTING TRANSMISSION OF ELECTROMAGNETIC WAVE INCLUDING ADJACENT DETECTOR)

  • 기술번호 : KST2017008314
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 일 실시예와 관련된 전자기파 검출 모듈은 검사 물체를 투과한 전자기파를 직접 검출하는 검출부 및 상기 검사 대상 물체의 하단에 인접하게 구비된 상기 검출부를 포함하는 하우징부를 포함한다.
Int. CL G01N 21/3581 (2014.01.01) G02B 26/08 (2006.01.01) G02B 27/30 (2006.01.01) G06T 7/00 (2017.01.01)
CPC G01N 21/3581(2013.01) G01N 21/3581(2013.01) G01N 21/3581(2013.01) G01N 21/3581(2013.01) G01N 21/3581(2013.01) G01N 21/3581(2013.01) G01N 21/3581(2013.01) G01N 21/3581(2013.01)
출원번호/일자 1020150150807 (2015.10.29)
출원인 한국식품연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0049904 (2017.05.11) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2020.06.17)
심사청구항수 21

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국식품연구원 대한민국 전라북도 완주군

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 옥경식 대한민국 경기도 오산시 남부대로 ***-*
2 최성욱 대한민국 전라북도 완주군
3 장현주 대한민국 경기도 용인시 기흥구
4 박기상 대한민국 경기도 용인시 수지구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 전수진 대한민국 경기도 수원시 영통구 봉영로 ****, ***호(영통동, 한솔프라자)(특허법인태하)
2 특허법인태하 대한민국 경기도 수원시 영통구 봉영로 ****, ***호(영통동, 한솔프라자)
3 김종승 대한민국 경기도 수원시 영통구 봉영로 ****, ***호(영통동, 한솔프라자)(특허법인태하)
4 윤정호 대한민국 경기도 수원시 영통구 봉영로 ****, ***호(영통동, 한솔프라자)(특허법인태하)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2015.10.29 수리 (Accepted) 1-1-2015-1051787-21
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2017.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2017-5155082-90
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.07.08 수리 (Accepted) 4-1-2019-5135028-45
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.09.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5176835-79
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2020-5030341-61
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.06.04 수리 (Accepted) 4-1-2020-5124131-17
7 [심사청구]심사청구서·우선심사신청서
 2020.06.17 수리 (Accepted) 1-1-2020-0623289-40
8 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)		 2020.06.17 수리 (Accepted) 1-1-2020-0621028-05
9 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2020.07.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.09.08 수리 (Accepted) 4-1-2020-5203003-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
검사 물체를 투과한 전자기파를 직접 검출하는 검출부; 및상기 검사 대상 물체의 하단에 인접하게 구비된 상기 검출부를 포함하는 하우징부;를 포함하는, 전자기파 검출 모듈
2 2
제 1 항에 있어서,상기 하우징부는,상기 검사 대상 물체를 고정시킬 수 있는 고정부를 더 포함하는, 전자기파 검출 모듈
3 3
제 2 항에 있어서,상기 고정부는,상기 검출부의 상단에 상기 검사 대상 물체가 배치되도록, 상기 하우징부에 형성된, 전자기파 검출 모듈
4 4
제 1 항에 있어서,상기 검출부는,상기 검사 대상 물체가 올려지는 위치의 하단에 매립되어 구비되는, 전자기파 검출 모듈
5 5
제 1 항에 있어서,상기 검출부는,단일 검출부이고, 상기 검출부와 결합되고, 상기 검사 대상 물체를 통과한 전자기파가 상기 검출부에 집속되도록 상기 검출부를 이동시키는 검출부용 구동부를 더 포함하는, 전자기파 검출 모듈
6 6
제 5 항에 있어서,상기 검출부용 구동부는,2차원 영상을 획득하기 위해, 상기 검사 대상 물체를 투과하는 전자기파의 2차원 이동 경로와 동기시켜 상기 검출부를 2차원으로 이동시키는, 전자기파 검출 모듈
7 7
검사 대상 물체를 이송하는 이송부; 및상기 이송부의 하단에 인접하게 구비되고, 상기 검사 대상 물체를 투과한 전자기파를 직접 검출하는 검출부;를 포함하는, 전자기파 검출 모듈
8 8
제 7 항에 있어서,상기 검출부는,단일 검출부이고, 상기 검출부와 결합되고, 상기 검사 대상 물체를 통과한 전자기파가 상기 검출부에 집속되도록 상기 검출부를 이동시키는 검출부용 구동부를 더 포함하는, 전자기파 검출 모듈
9 9
제 8 항에 있어서,상기 검출부용 구동부는,2차원 영상을 획득하기 위해, 상기 검사 대상 물체를 투과하는 전자기파의 2차원 이동 경로와 동기시켜 상기 검출부를 2차원으로 이동시키는, 전자기파를 이용한 투과 검출 장치
10 10
제 7 항에 있어서,상기 검출부는,2차원 영상을 획득하기 위한 2차원 배열형 검출부인, 전자기파를 이용한 투과 검출 장치
11 11
입사되는 전자기파의 경로를 변경시키는 경로 변경부; 상기 경로 변경부로부터 입사되는 전자기파를 검사 대상 물체로 집속시키는 집속 렌즈; 및상기 검사 대상 물체의 하단에 인접하게 구비되고, 상기 검사 대상 물체를 투과한 전자기파를 직접 검출하는 검출부;를 포함하는, 전자기파를 이용한 투과 검출 장치
12 12
제 11 항에 있어서,상기 검사 대상 물체의 하단에 인접하게 구비된 상기 검출부를 포함하는 하우징부;를 더 포함하는, 전자기파를 이용한 투과 검출 장치
13 13
제 12 항에 있어서,상기 하우징부는,상기 검사 대상 물체를 고정시킬 수 있는 고정부를 더 포함하는, 전자기파를 이용한 투과 검출 장치
14 14
제 13 항에 있어서,상기 검출부는,상기 검사 대상 물체가 올려지는 위치의 하단에 매립되어 구비되는, 전자기파를 이용한 투과 검출 장치
15 15
제 11 항에 있어서,상기 집속 렌즈 및 상기 검출부 사이에 구비되고, 상기 검사 대상 물체를 이송하는 이송부;를 더 포함하는, 상기 검출부는,상기 이송부의 하단에 인접하게 구비되는, 전자기파를 이용한 투과 검출 장치
16 16
제 11 항 또는 제 15 항에 있어서,상기 검출부는,단일 검출부이고, 상기 검출부와 결합되고, 상기 검사 대상 물체를 통과한 전자기파가 상기 검출부에 집속되도록 상기 검출부를 이동시키는 검출부용 구동부를 더 포함하는, 전자기파를 이용한 투과 검출 장치
17 17
제 16 항에 있어서,상기 경로 변경부는,원 형태로 상기 전자기파의 경로를 변경하고,상기 검출부용 구동부는,상기 검사 대상 물체를 통과한 전자기파가 상기 검출부에 집속되도록, 상기 경로 변경부에 의해 변경된 전자기파의 회전 경로와 동기시켜 상기 검출부를 이동시키는, 전자기파를 이용한 투과 검출 장치
18 18
제 16 항에 있어서,상기 경로 변경부는,2차원으로 상기 전자기파의 경로를 변경하고,상기 검출부용 구동부는,상기 검사 대상 물체를 통과한 전자기파가 상기 검출부에 집속되도록, 상기 경로 변경부에 의해 변경된 전자기파의 2차원 이동 경로와 동기시켜 상기 검출부를 2차원으로 이동시키는, 전자기파를 이용한 투과 검출 장치
19 19
제 11 항에 있어서,상기 경로 변경부는,2차원으로 상기 전자기파의 경로를 변경하고,상기 검출부는,2차원 배열형 검출부인, 전자기파를 이용한 투과 검출 장치
20 20
제 11 항에 있어서,상기 경로 변경부는,회절 격자(diffraction grating), 홀로그램, 갈바노 미러, 모노곤(monogon) 미러, 폴리곤(polygon) 미러 및 웨지(wedge) 프리즘 중 어느 하나이거나, 회절 격자(diffraction grating), 홀로그램, 갈바노 미러, 모노곤(monogon) 미러, 폴리곤(polygon) 미러 및 웨지(wedge) 프리즘의 조합인, 전자기파를 이용한 투과 검출 장치
21 21
제 11 항에 있어서,입사된 전자기파를 평행하게 형성하여 상기 경로 변경부로 입사시키는 콜리메이팅부를 더 포함하는, 전자기파를 이용한 투과 검출 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 한국식품연구원 주요사업 테라파 기반 추적형 플렉서블 태그를 이용한 On-site 부정불량식품 인식시스템 개발