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식별 키 생성 장치 및 방법(APPARATUS AND METHOD FOR GENERATING IDENTIFICATION KEY)

  • 기술번호 : KST2017008712
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 반도체 공정 편차에서 기인하는 무작위 이벤트에 따라 식별 키가 생성되는 PUF가 제시된다. PUF는 소자의 전기적 차이에 따른 결과로 식별 키를 제공할 수 있다. 일실시예에 따르면 PUF는 전기적 차이에 의한 순시 값을 이용하여 식별 키를 생성하지 않고 상기 전기적 차이 및/또는 상기 순시 값을 누적할 수 있다. 상기 누적은 이산적 반복 시행과 그 결과의 누적일 수 있다. 그러나 다른 실시예에서는 상기 누적은 시간 구간 동안의 결과 누적의 계속일 수 있다.
Int. CL G06F 21/73 (2016.11.09) G06F 21/70 (2016.11.09) H04L 9/32 (2016.11.09)
CPC
출원번호/일자 1020160145765 (2016.11.03)
출원인 (주) 아이씨티케이, 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0052506 (2017.05.12) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020150154054   |   2015.11.03
법적상태 등록
심사진행상태 발송처리완료
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.11.03)
심사청구항수 16

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 아이씨티케이 홀딩스 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최병덕 대한민국 서울특별시 강동구
2 김동규 대한민국 서울특별시 동대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 무한 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(역삼동,화물재단빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 아이씨티케이 홀딩스 경기도 성남시 분당구
2 한양대학교 산학협력단 서울특별시 성동구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.11.03 수리 (Accepted) 1-1-2016-1075475-88
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.11.29 수리 (Accepted) 4-1-2016-0081616-39
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2017.06.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.08.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0125424-03
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.09.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0614723-18
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2017.11.01 수리 (Accepted) 1-1-2017-1082170-67
7 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2017.12.01 수리 (Accepted) 1-1-2017-1204142-17
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.12.29 수리 (Accepted) 1-1-2017-1312090-97
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.12.29 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-1312089-40
10 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status
2018.05.02 수리 (Accepted) 1-1-2018-0435028-83
11 등록결정서
Decision to grant
2018.05.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0331428-73
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
반도체 공정 편차에서 기인하는 무작위 이벤트 - 상기 이벤트는 전기적 특성 차이에 연관되고 동일하게 설계되어 제조되는 두 소자 중 제1 소자가 제2 소자보다 상기 전기적 특성 값이 큰 이벤트를 포함함 - 를 제공하는 생성부;상기 이벤트의 상기 제1 소자와 상기 제2 소자의 전기적 특성 값의 차이를 누적하여, 누적된 결과 값을 제공하는 누적부; 및상기 누적된 결과 값을 미리 지정된 기준에 따라 0 또는 1 중 어느 하나인 바이너리 값으로 결정함으로써 상기 생성부에 대응하는 식별 키를 제공하는 독출부를 포함하는 식별 키 생성 장치
2 2
삭제
3 3
제1항에 있어서,상기 제1 소자 및 상기 제2 소자는 커패시터를 포함하고, 상기 전기적 특성 값은 커패시턴스를 포함하는 식별 키 생성 장치
4 4
제3항에 있어서,상기 누적부는 상기 제1 소자에 대응하는 제1 커패시턴스와 상기 제2 소자에 대응하는 제2 커패시턴스의 차이에 비례하는 전하량을 발생시키고, 상기 전하량을 출력에 누적시키는 시행을 미리 지정된 조건을 만족할 때까지 복수 회 반복하여, 상기 복수 회 반복 후의 상기 출력의 값을 제공하는 적산기를 포함하는 식별 키 생성 장치
5 5
제4항에 있어서,상기 미리 지정된 조건은, 상기 출력의 값이 임계치 이상인 것을 포함하는 식별 키 생성 장치
6 6
제4항에 있어서,상기 미리 지정된 조건은, 미리 지정되는 k 회 - 단, k는 자연수임 - 동안 반복하는 것을 포함하는 식별 키 생성 장치
7 7
제2항에 있어서,상기 제1 소자 및 상기 제2 소자는 저항을 포함하고, 상기 전기적 특성 값은 저항 값을 포함하는 식별 키 생성 장치
8 8
제7항에 있어서,상기 누적부는 상기 제1 소자에 대응하는 제1 저항 값과 상기 제2 소자에 대응하는 제2 저항 값의 차이에 비례한 전류를 출력에 누적시키는 전류 적분을 미리 지정된 조건을 만족할 때까지 지속하여, 상기 미리 지정된 조건을 만족하는 경우의 상기 출력의 값을 제공하는 적산기를 포함하는 식별 키 생성 장치
9 9
제8항에 있어서,상기 미리 지정된 조건은, 상기 출력의 값이 임계치 이상인 것을 포함하는 식별 키 생성 장치
10 10
제8항에 있어서,상기 미리 지정된 조건은, 미리 지정되는 시간 길이 동안 상기 전류 적분을 수행하는 것을 포함하는 식별 키 생성 장치
11 11
반도체 공정 편차에서 기인하여, 동일하게 설계된 다른 소자들과는 다른 전기적 특성 값을 갖는 제1 소자를 포함하는 생성부 - 상기 제1 소자의 전기적 특성 값과 기준 값의 차이에 따라 전기적인 값이 출력됨 -;상기 전기적인 값을 누적하여, 누적된 결과 값을 제공하는 누적부; 및상기 누적된 결과 값을 이용하여 상기 생성부에 대응하는 식별 키를 제공하는 독출부를 포함하는 식별 키 생성 장치
12 12
제11항에 있어서,상기 전기적 특성 값은 저항 값을 포함하는 식별 키 생성 장치
13 13
제12항에 있어서,상기 누적부는 상기 제1 소자에 대응하는 제1 저항 값과 상기 기준 값의 비율에 따라 전원 전압을 전압 분배하고, 상기 제1 저항 값과 상기 기준 값의 차이에 비례한 전류를 출력에 누적시키는 전류 적분을 미리 지정된 조건을 만족할 때까지 지속하여, 상기 미리 지정된 조건을 만족하는 경우의 상기 출력의 값을 제공하는 적산기를 포함하는 식별 키 생성 장치
14 14
제13항에 있어서,상기 미리 지정된 조건은, 미리 지정되는 시간 길이 동안 상기 전류 적분을 수행하는 것을 포함하는 식별 키 생성 장치
15 15
식별 키 생성 장치가 식별 키를 생성하는 동작 방법에 있어서, 상기 방법은:생성부가 반도체 공정 편차에서 기인하는 무작위 이벤트 - 상기 무작위 이벤트는 동일하게 설계되어 제조되는 상기 식별 키 생성 장치 내의 두 소자 중 제1 소자가 제2 소자보다 전기적 특성 값이 큰 이벤트를 포함함 - 를 발생시키는 단계;상기 이벤트의 상기 제1 소자와 상기 제2 소자의 전기적 특성 값의 차이를 누적하여, 누적된 결과 값을 제공하는 단계; 및상기 누적된 결과 값을 이용하여 상기 식별 키 생성 장치에 대응하는 식별 키를 독출하는 단계를 포함하는 식별 키 생성 장치의 동작 방법
16 16
삭제
17 17
제15항에 있어서,상기 제1 소자 및 상기 제2 소자는 커패시터를 포함하고, 상기 전기적 특성 값은 커패시턴스를 포함하는 식별 키 생성 장치의 동작 방법
18 18
제17항에 있어서,상기 누적은 상기 제1 소자에 대응하는 제1 커패시턴스와 상기 제2 소자에 대응하는 제2 커패시턴스의 차이에 비례하는 전하량을 발생시키고, 상기 전하량을 출력에 누적시키는 시행을 미리 지정된 조건을 만족할 때까지 복수 회 반복하는 과정을 포함하는 식별 키 생성 장치의 동작 방법
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN108780489 CN 중국 FAMILY
2 EP03373186 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
3 US20190028274 US 미국 FAMILY
4 WO2017078426 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN108780489 CN 중국 DOCDBFAMILY
2 EP3373186 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
3 EP3373186 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
4 US2019028274 US 미국 DOCDBFAMILY
5 WO2017078426 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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