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직접 전사 프린팅 방법 및 상기 방법에 이용되는 전사 매체(DIRECT TRANSFER PRINTING METHOD AND TRANSFER MEDIUM USED FOR THE METHOD)

  • 기술번호 : KST2017008961
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 한 가지 양태에 따라서, 전사 기판 상에 패터닝된 전극층을 리시버 기판에 직접 프린팅 공정을 통해 전사하여, 반도체 소자를 제조하는 방법이 제공된다. 상기 방법은 플렉서블한 전사 기판을 준비하는 단계; 상기 전사 기판 상에 금속 산화물 층을 형성하는 단계; 포토리쏘그래피 프로세스를 포함하는 패터닝 공정을 이용하여 상기 금속 산화물 층 상에 마이크로미터 크기의 간격을 갖는 전극 패턴을 형성하는 단계; 상기 전극 패턴의 전극 사이에 실리콘 나노와이어를 정렬하는 단계; 반도체 요소가 구비된 경질 또는 플렉서블한 리시버 기판에 점착성 물질의 층을 형성하는 단계; 상기 실리콘 나노와이어가 정렬된 전사 기판을 상기 리시버 기판에 접촉하여 소정의 압력을 인가함으로써, 상기 전사 기판의 전극 패턴과 실리콘 나노와이어를 상기 전사기판으로부터 분리하여 상기 리시버 기판의 점착성 물질에 전사하는 단계를 포함한다.
Int. CL H01L 41/22 (2015.12.22) H01L 41/27 (2015.12.22) H01L 41/04 (2015.12.22) H01L 41/047 (2015.12.22) H01L 41/18 (2015.12.22)
CPC H01L 41/27(2013.01) H01L 41/27(2013.01) H01L 41/27(2013.01)
출원번호/일자 1020150157912 (2015.11.11)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0055582 (2017.05.22) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2015.11.11)
심사청구항수 18

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 명재민 대한민국 경기 고양시 일산동구
2 이태일 대한민국 서울특별시 영등포구
3 이상훈 대한민국 서울특별시 영등포구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김권석 대한민국 서울특별시 서초구 논현로**, B동 *층(양재동, 삼호물산빌딩)(아이피맥스특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2015.11.11 수리 (Accepted) 1-1-2015-1097155-53
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.12.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2017.03.09 수리 (Accepted) 1-1-2017-0236115-55
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.03.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0039237-10
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.03.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0197164-79
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.05.11 수리 (Accepted) 1-1-2017-0446843-90
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.05.11 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0446842-44
8 등록결정서
Decision to grant
2017.08.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0547698-03
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
전사 기판 상에 패터닝된 전극층을 리시버 기판에 직접 프린팅 공정을 통해 전사하여, 반도체 소자를 제조하는 방법으로서,플렉서블한 전사 기판을 준비하는 단계;상기 전사 기판 상에 금속 산화물 층을 형성하는 단계;포토리쏘그래피 프로세스를 포함하는 패터닝 공정을 이용하여 상기 금속 산화물 층 상에 마이크로미터 크기의 간격을 갖는 전극 패턴을 형성하는 단계;상기 전극 패턴의 전극 사이에 실리콘 나노와이어를 정렬하는 단계;반도체 요소가 구비된 경질 또는 플렉서블한 리시버 기판에 점착성 물질의 층을 형성하는 단계;상기 실리콘 나노와이어가 정렬된 전사 기판을 상기 리시버 기판에 접촉하여 소정의 압력을 인가함으로써, 상기 전사 기판의 전극 패턴과 실리콘 나노와이어를 상기 전사기판으로부터 분리하여 상기 리시버 기판의 점착성 물질에 전사하는 단계를 포함하는 반도체 소자를 제조하는 방법
2 2
청구항 1에 있어서, 상기 플렉서블한 전사 기판은 경질의 베이스 기판 상에 배치되고, 상기 전사 단계에서 상기 전사 기판을 상기 경질의 베이스 기판으로부터 떼어낸 채 상기 리시버 기판에 접촉하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자를 제조하는 방법
3 3
청구항 1에 있어서, 상기 플렉서블한 전사 기판으로서 PI 또는 PET 기판을 이용하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자를 제조하는 방법
4 4
청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 한 항에 있어서, 상기 전극으로서 Au를 이용하고, 상기 금속 산화물 층으로서, Al2O3, Nb2O5 또는 ZnO를 이용하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자를 제조하는 방법
5 5
청구항 4에 있어서, 상기 전극 패턴을 형성하는 단계에서, 상기 전극 패턴의 전극 간격은 2 ㎛ 이하인 것을 특징으로 하는 반도체 소자를 제조하는 방법
6 6
청구항 4에 있어서, 상기 실리콘 나노와이어는 전기 영동(DEP) 프로세스를 통해 상기 전극 사이에 정렬되는 것을 특징으로 하는 반도체 소자를 제조하는 방법
7 7
청구항 4에 있어서, 상기 전극 패턴은 소스 전극과 드레인 전극을 포함하고, 상기 반도체 요소는 게이트 전극과 게이트 유전체를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자를 제조하는 방법
8 8
청구항 7에 있어서, 상기 리시버 기판의 점착성 물질로서 PVP를 이용하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자를 제조하는 방법
9 9
청구항 8에 있어서, 상기 리시버 기판에 PVP를 스핀 코팅한 후 베이킹 처리를 수행하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자를 제조하는 방법
10 10
직접 프린팅 공정을 통해 리시버 기판에 전극 패턴을 전사하기 위한 전사 기판을 제조하는 방법으로서, 플렉서블한 전사 기판을 준비하는 단계;상기 전사 기판 상에 금속 산화물 층을 형성하는 단계;포토리쏘그래피 프로세스를 포함하는 패터닝 공정을 이용하여 상기 금속 산화물 층 상에 마이크로미터 크기의 간격을 갖는 전극 패턴을 형성하는 단계;상기 전극 패턴의 전극 사이에 실리콘 나노와이어를 정렬하는 단계;를 포함하는 전사 기판 제조 방법
11 11
청구항 10에 있어서, 상기 플렉서블한 전사 기판은 경질의 기판 상에 유지되는 것을 특징으로 하는 전사 기판 제조 방법
12 12
청구항 10에 있어서, 상기 전사 기판으로서 PI 또는 PET 기판을 이용하는 것을 특징으로 하는 전사 기판 제조 방법
13 13
청구항 10 내지 청구항 12 중 어느 한 항에 있어서, 상기 전극 패턴의 전극으로서 Au를 이용하고, 상기 금속 산화물 층으로서, Al2O3, Nb2O5 또는 ZnO를 이용하는 것을 특징으로 하는 전사 기판 제조 방법
14 14
청구항 13에 있어서, 상기 전극 패턴을 형성하는 단계에서, 상기 전극 패턴의 전극 간격은 2 ㎛ 이하인 것을 특징으로 하는 전사 기판 제조 방법
15 15
청구항 14에 있어서, 상기 실리콘 나노와이어는 전기 영동(DEP) 프로세스를 통해 상기 전극 사이에 정렬되는 것을 특징으로 하는 전사 기판 제조 방법
16 16
직접 프린팅 공정을 통해 리시버 기판에 전극 패턴을 전사하는 데에 사용하기 위한 전사 기판으로서,상기 전사 기판은 PET 또는 PI 재질의 플렉서블한 기판이고,상기 전사 기판 상에 형성된 금속 산화물 층과;포토리쏘그래피 프로세스를 포함하는 패터닝 공정을 이용하여 상기 금속 산화물 층 상에 2 ㎛ 이하의 간격을 갖도록 형성된 Au 전극 패턴과;상기 전극 패턴의 전극 사이에 정렬된 실리콘 나노와이어를 포함하는 것을 특징으로 하는 전사 기판
17 17
청구항 16에 있어서, 상기 전사 기판은 경질의 기판 상에 유지되고, 리시버 기판에의 전사시에 상기 경질의 기판에서 떼어내어 사용되도록 구성되는 것을 특징으로 하는 전사 기판
18 18
청구항 16에 있어서, 상기 금속 산화물 층으로서, Al2O3 층이 이용되는 것을 특징으로 하는 전사 기판
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.