| 1 |
1
감마선을 측정하고, 그 측정신호를 전기신호로 형태로 변환하여 출력하는 방사선 측정부;상기 측정신호를 수신하여 에너지 스펙트럼으로 변환하되, 소정 에너지 영역에 포함되는 일부의 측정신호를 선택하여 에너지 스펙트럼으로 변환하고, 상기 에너지 스펙트럼의 세기를 기준값과 비교하여 기준값 초과 여부를 판별하는 제어부;를 포함하는 저준위 감마선 측정장치
|
| 2 |
2
제1항에 있어서,상기 제어부는 상기 에너지 스펙트럼으로부터 계산된 피크(peak)값와 상기 기준값을 비교하는 것을 특징으로 하는 저준위 감마선 측정장치
|
| 3 |
3
제1항에 있어서,상기 방사선 측정부는,상기 감마선을 받아들여 소정의 섬광을 출력하는 섬광 검출부; 및상기 섬광에 기초하여 상기 측정신호를 생성하는 광전자증배부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저준위 감마선 측정장치
|
| 4 |
4
제3항에 있어서,상기 섬광 검출부는 요오드화나트륨(NaI(Tl)) 섬광검출기인 것을 특징으로 하는 저준위 감마선 측정장치
|
| 5 |
5
제3항에 있어서,상기 광전자증배부는 실리콘 광전자증배기(Silicon Photo multipliers)인 것을 특징으로 하는 저준위 감마선 측정장치
|
| 6 |
6
제3항에 있어서,상기 광전자증배부는 상기 섬광 검출부에 물리적으로 직접 연결된 것을 특징으로 하는 저준위 감마선 측정장치
|
| 7 |
7
제1항에 있어서,상기 제어부는,상기 측정신호를 증폭하는 증폭기를 포함하는 것을 특징으로 하는 저준위 감마선 측정장치
|
| 8 |
8
제1항에 있어서,상기 제어부는,상기 소정 에너지 영역의 에너지값이 저장된 메모리를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 저준위 감마선 측정장치
|
| 9 |
9
제1항에 있어서,상기 소정 에너지 영역은 0
|
| 10 |
10
제1항에 있어서,상기 소정 에너지 영역은 0
|
| 11 |
11
제1항에 있어서,상기 제어부에서 변환된 상기 에너지 스펙트럼의 세기와 상기 기준값이 초과하는지 여부를 표시하는 출력부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 저준위 감마선 측정장치
|
| 12 |
12
제11항에 있어서,상기 출력부는 상기 소정 에너지 영역의 상기 에너지 스펙트럼의 세기와 상기 기준값의 비율을 출력하는 것을 특징으로 하는 저준위 감마선 측정장치
|
| 13 |
13
제11항에 있어서,상기 출력부는 상기 소정 에너지 영역의 상기 에너지 스펙트럼의 세기가 상기 기준값을 초과하는지 여부를 출력하는 것을 특징으로 하는 저준위 감마선 측정장치
|
| 14 |
14
소정시간 동안 방사성 동위원소로부터 방사되는 감마선을 측정하는 감마선 측정단계;상기 감마선 측정단계에서 측정된 측정신호를 펄스신호로 변환하는 신호변환단계;상기 펄스신호를 증폭하고 변환하여 상기 펄스신호를 에너지 스펙트럼으로 출력하되, 소정 에너지 영역의 에너지 스펙트럼만 선별하여 변환하는 에너지 스펙트럼 출력단계;상기 소정 에너지 영역의 에너지 스펙트럼을 기초로 상기 방사되는 감마선의 핵종 및 세기를 계산하는 단계; 및 상기 소정 에너지 영역의 에너지 스펙트럼의 세기가 기준값을 초과하는지 여부를 판별하는 단계;를 포함하는 저준위 감마선 측정방법
|
