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노즐과 냉각롤 사이의 갭 측정 시스템에 있어서,상기 노즐의 하부 및 상기 냉각롤의 상부를 촬영하여 이미지를 획득하는 카메라, 상기 노즐 및 상기 냉각롤에서 상기 카메라가 촬영하는 영역에 특정 파장 대역의 빛을 조사하는 조명장치,상기 카메라와 결합하며, 상기 카메라로 입사하는 빛 중 상기 특정 파장 대역의 빛을 상기 카메라의 촬상면으로 투과시키는 대역 통과 필터, 그리고상기 이미지로부터 상기 노즐의 최하단부 에지를 검출하고, 상기 노즐의 최하단부 에지를 토대로 상기 노즐과 상기 냉각롤 사이의 갭으로 측정하는 제어부를 포함하는 갭 측정 시스템
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제1항에 있어서,상기 대역 통과 필터는, 상기 카메라로 입사하는 빛 중 상기 노즐에 의해 토출되는 용융 금속의 발산 빛을 제거하는 제1필터, 그리고상기 냉각롤의 반사 빛을 제거하는 제2필터를 포함하는 갭 측정 시스템
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제2항에 있어서, 상기 특정 파장 대역은, 상기 용융 금속의 발산 빛 및 상기 냉각롤의 반사 빛의 파장 대역과 다른 것을 특징으로 하는 갭 측정 시스템
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제1항에 있어서, 상기 특정 파장 대역은 300nm 내지 400nm의 파장 대역인 갭 측정 시스템
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제1항에 있어서, 상기 대역 통과 필터는, 상기 카메라의 렌즈부의 입사면에 결합하는 갭 측정 시스템
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제1항에 있어서, 상기 대역 통과 필터는, 상기 카메라의 렌즈부와 상기 촬상면 사이에 배치되는 갭 측정 시스템
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제1항에 있어서, 상기 조명장치는 상기 카메라의 촬영 방향과 동일한 방향에서 빛을 조사하는 갭 측정 시스템
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제1항에 있어서, 상기 카메라는 광축이 상기 냉각롤의 최상단면과 수평 정렬되도록 설치되는 갭 측정 시스템
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갭 측정 시스템의 노즐과 냉각롤 사이의 갭 측정 방법에 있어서, 조명장치를 통해 상기 노즐의 하부 및 상기 냉각롤의 상부로 특정 파장 대역의 광을 조사하는 단계, 입사하는 빛 중 상기 특정 파장 대역의 빛을 투과시키는 대역 통과 필터가 결합된 카메라를 통해, 상기 노즐 및 상기 냉각롤에서 상기 특정 파장 대역의 빛이 조사되는 영역을 촬영한 이미지를 획득하는 단계,상기 이미지로부터 상기 노즐의 최하단부 에지를 검출하는 단계, 그리고상기 노즐의 최하단부 에지를 토대로 상기 노즐과 상기 냉각롤 사이의 갭을 측정하는 단계를 포함하는 갭 측정 방법
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제9항에 있어서,상기 특정 파장 대역은, 상기 노즐에 의해 토출되는 용융 금속의 발산 빛 및 상기 냉각롤의 반사 빛의 파장 대역과 다른 것을 특징으로 하는 갭 측정 방법
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제10항에 있어서, 상기 특정 파장 대역은 300nm 내지 400nm의 파장 대역인 갭 측정 방법
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