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기판의 제조 방법(Method of fabricating substrate)

  • 기술번호 : KST2017011415
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 실리콘 웨이퍼의 결정면에 따른 식각속도의 차이를 이용하여 실리콘 웨이퍼의 플랫존에 홈을 형성하는 단계; 상기 실리콘 웨이퍼의 상면에 금속층을 형성하는 단계; 및 상기 금속층과 상기 실리콘 웨이퍼를 가열하고 냉각함으로써 상기 금속층과 상기 실리콘 웨이퍼의 열팽창계수의 차이에 의해 유발되는 응력이 상기 홈에 집중되면서 크랙이 전파되어 상기 금속층 및 상기 금속층과 맞닿은 상기 실리콘 웨이퍼의 일부분을 상기 실리콘 웨이퍼의 나머지 부분으로부터 분리하는 단계;를 포함하는 기판의 제조 방법을 제공한다.
Int. CL H01L 21/02 (2016.02.17) H01L 21/306 (2016.02.17) H01L 21/3205 (2016.02.17) H01L 21/324 (2016.02.17) H01L 21/78 (2016.02.17)
CPC H01L 21/02027(2013.01) H01L 21/02027(2013.01)
출원번호/일자 1020150191190 (2015.12.31)
출원인 국민대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0080034 (2017.07.10) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2015.12.31)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 국민대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 안동환 대한민국 경기도 용인시 기흥구
2 이환 대한민국 서울특별시 관악구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김남식 대한민국 서울특별시 서초구 남부순환로***길 *-*, *층 (양재동, 가람빌딩)(율민국제특허법률사무소)
2 이인행 대한민국 서울특별시 서초구 남부순환로***길 *-*, *층 (양재동, 가람빌딩)(율민국제특허법률사무소)
3 김한 대한민국 서울특별시 서초구 남부순환로***길 *-*, *층 (양재동, 가람빌딩)(율민국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 국민대학교산학협력단 서울특별시 성북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2015.12.31 수리 (Accepted) 1-1-2015-1293760-19
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.03.14 수리 (Accepted) 4-1-2016-5032192-73
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.12.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.02.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0033306-33
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.03.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0176860-02
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2017.04.27 수리 (Accepted) 1-1-2017-0414797-93
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.06.09 수리 (Accepted) 1-1-2017-0552632-72
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.06.09 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0552631-26
9 등록결정서
Decision to grant
2017.10.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0701769-15
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번호 청구항
1 1
{100} 결정면을 주표면으로 가지는 실리콘 웨이퍼의 (111) 결정면과 (110) 결정면의 상대적인 식각속도 차이를 이용하여 실리콘 웨이퍼의 플랫존으로부터 003c#110003e# 결정방향으로 이방성 습식식각을 수행하여 홈을 형성하는 단계;상기 실리콘 웨이퍼의 상면에 금속층을 형성하는 단계; 및상기 금속층과 상기 실리콘 웨이퍼를 가열하고 냉각함으로써 상기 금속층과 상기 실리콘 웨이퍼의 열팽창계수의 차이에 의해 유발되는 응력이 상기 홈에 집중되면서 003c#110003e# 결정방향으로 크랙이 전파되어 상기 금속층 및 상기 금속층과 맞닿은 상기 실리콘 웨이퍼의 일부분을 상기 실리콘 웨이퍼의 나머지 부분으로부터 분리하는 단계;를 포함하고,상기 홈을 형성하는 단계는 상기 이방성 습식식각을 수행하기 전에 상기 실리콘 웨이퍼의 플랫존에 포토리소그래피 공정으로 식각차단패턴을 형성하는 단계를 포함하고, 상기 이방성 습식식각은 상기 식각차단패턴을 이용하여 수행하는, 기판의 제조 방법
2 2
{111} 결정면을 주표면으로 가지는 실리콘 웨이퍼의 (111) 결정면과 (211) 결정면의 상대적인 식각속도 차이를 이용하여 실리콘 웨이퍼의 플랫존으로부터 003c#211003e# 결정방향으로 이방성 습식식각을 수행하여 홈을 형성하는 단계;상기 실리콘 웨이퍼의 상면에 금속층을 형성하는 단계; 및상기 금속층과 상기 실리콘 웨이퍼를 가열하고 냉각함으로써 상기 금속층과 상기 실리콘 웨이퍼의 열팽창계수의 차이에 의해 유발되는 응력이 상기 홈에 집중되면서 003c#211003e# 결정방향으로 크랙이 전파되어 상기 금속층 및 상기 금속층과 맞닿은 상기 실리콘 웨이퍼의 일부분을 상기 실리콘 웨이퍼의 나머지 부분으로부터 분리하는 단계;를 포함하고,상기 홈을 형성하는 단계는 상기 이방성 습식식각을 수행하기 전에 상기 실리콘 웨이퍼의 플랫존에 포토리소그래피 공정으로 식각차단패턴을 형성하는 단계를 포함하고, 상기 이방성 습식식각은 상기 식각차단패턴을 이용하여 수행하는, 기판의 제조 방법
3 3
실리콘 웨이퍼의 결정면에 따른 식각속도의 차이를 이용하여 실리콘 웨이퍼의 플랫존에 홈을 형성하는 단계;상기 실리콘 웨이퍼의 상면에 금속층을 형성하는 단계; 및상기 금속층과 상기 실리콘 웨이퍼를 가열하고 냉각함으로써 상기 금속층과 상기 실리콘 웨이퍼의 열팽창계수의 차이에 의해 유발되는 응력이 상기 홈에 집중되면서 크랙이 전파되어 상기 금속층 및 상기 금속층과 맞닿은 상기 실리콘 웨이퍼의 일부분을 상기 실리콘 웨이퍼의 나머지 부분으로부터 분리하는 단계;를 포함하고, 상기 홈을 형성하는 단계는 상기 실리콘 웨이퍼의 플랫존에 포토리소그래피 공정으로 식각차단패턴을 형성하는 단계 및 상기 식각차단패턴을 이용하여 이방성 습식식각을 수행하는 단계를 포함하는, 기판의 제조 방법
4 4
제 3 항에 있어서,상기 홈을 형성하는 단계는 실리콘 웨이퍼의 결정면에 따른 식각속도의 차이를 이용하여 상기 실리콘 웨이퍼의 플랫존으로부터 이방성 습식식각을 수행함으로써 상기 홈을 형성하는 단계를 포함하는, 기판의 제조 방법
5 5
제 4 항에 있어서,상기 이방성 습식식각은 KOH 식각 용액을 이용하는 습식식각으로서, 상기 실리콘 웨이퍼의 결정면에 따른 식각속도의 차이는 (111) 결정면과 (110) 결정면에 대한 식각속도의 상대적 차이 또는 (111) 결정면과 (211) 결정면에 대한 식각속도의 상대적인 차이를 포함하는, 기판의 제조 방법
6 6
제 3 항에 있어서,상기 실리콘 웨이퍼는 (100) 결정면을 주표면으로 하는 p-타입의 실리콘 웨이퍼이며, 상기 실리콘 웨이퍼의 플랫존은 (110) 면이며,상기 실리콘 웨이퍼의 플랫존에 홈을 형성하는 단계;는 KOH 식각 용액에 대한 상기 실리콘 웨이퍼의 (111) 결정면과 (110) 결정면의 상대적인 식각속도 차이를 이용하여 003c#110003e# 결정방향으로 이방성 습식식각을 수행하여 노치 형태의 홈을 형성하는 단계;를 포함하는, 기판의 제조 방법
7 7
제 3 항에 있어서,상기 실리콘 웨이퍼는 (111) 결정면을 주표면으로 하는 p-타입의 실리콘 웨이퍼이며, 상기 실리콘 웨이퍼의 플랫존은 (211) 면이며,상기 실리콘 웨이퍼의 플랫존에 홈을 형성하는 단계는, KOH 식각 용액에 대한 상기 실리콘 웨이퍼의 (111) 결정면과 (211) 결정면의 상대적인 식각속도 차이를 이용하여 003c#211003e# 결정방향으로 이방성 습식식각을 수행하여 홈을 형성하는 단계를 포함하는, 기판의 제조 방법
8 8
제 3 항에 있어서,상기 실리콘 웨이퍼의 상면에 금속층을 형성하는 단계;는 상기 실리콘 웨이퍼의 상면에 도금 공정으로 니켈층을 형성하는 단계;를 포함하는, 기판의 제조 방법
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제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 이방성 습식식각을 수행하여 홈을 형성하는 단계;는 후속에서 분리될 상기 실리콘 웨이퍼의 일부분의 두께를 결정하게 되는 일자형의 상기 홈의 위치와 두께를 정확히 제어하기 위하여 상기 플랫존 상에 선택적으로 노출시켜 습식식각 공정을 수행할 수 있는 상기 식각차단패턴을 형성하는 단계;를 포함하는, 기판의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 국민대학교 산학협력단 과학기술국제화사업 국민대-텍사스주립대 국제 미래재료혁신 연구소