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빔포밍 장치, 이를 포함하는 프로브, 초음파 진단 장치 및 그 제어방법(BEAMFORMING APPARATUS, ULTRASOUND PROBE HAVING THE SAME, ULTRASOUND DIAGNOSTIC AND METHOD THEREOF)

  • 기술번호 : KST2017012623
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 개시된 발명의 일 측면은 초음파 진단 장치의 2 차원 트랜스듀서(2-D transducer)에서 아날로그 빔포머와 디지털 빔포머의 시간 지연을 조정하여 관심 영역에서 영상의 질을 상승시키는 빔포밍 장치, 이를 포함하는 프로브, 초음파 진단 장치 및 그 제어방법을 제공한다.개시된 발명의 일 측면에 따른 빔포밍 장치는 2차원 어레이의 초음파 트랜스듀서를 통해 수신되는 초음파를 빔포밍하는 빔포밍 장치에 있어서, 상기 트랜스듀서의 적어도 하나의 어레이를 포함하는 서브 어레이에서 수신되는 아날로그 신호의 시간을 지연하는 아날로그 빔포머; 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 ADC(Analog-to-Digital Converter); 상기 디지털 신호를 빔포밍하는 디지털 빔포머; 및 관심 영역에 해당하는 기준 영상점을 기초로 초기 지연 시간을 산출하고, 상기 초기 지연 시간을 기초로 상기 아날로그 빔포머에 포함된 S/H회로의 시작 지점을 결정하는 빔포머 제어부;를 포함한다.
Int. CL G01S 15/89 (2016.02.28) A61B 8/08 (2016.02.28)
CPC G01S 15/8952(2013.01) G01S 15/8952(2013.01) G01S 15/8952(2013.01)
출원번호/일자 1020160008512 (2016.01.25)
출원인 삼성메디슨 주식회사, 서강대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0088534 (2017.08.02) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 29

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성메디슨 주식회사 대한민국 강원도 홍천군
2 서강대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 마포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이우열 대한민국 서울특별시 양천구
2 송태경 대한민국 서울특별시 종로구
3 강현길 대한민국 대전광역시 유성구
4 박지원 대한민국 서울특별시 양천구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인세림 대한민국 서울특별시 서초구 강남대로 ***, **층, **층(서초동, 태우빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.01.25 수리 (Accepted) 1-1-2016-0078302-90
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.01.11 수리 (Accepted) 4-1-2017-5005781-67
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.01.22 수리 (Accepted) 4-1-2019-5014626-89
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
2차원 어레이의 초음파 트랜스듀서를 통해 수신되는 초음파를 빔포밍하는 빔포밍 장치에 있어서,상기 트랜스듀서의 적어도 하나의 어레이를 포함하는 서브 어레이에서 수신되는 아날로그 신호의 시간을 지연하는 아날로그 빔포머;아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 ADC(Analog-to-Digital Converter);상기 디지털 신호를 빔포밍하는 디지털 빔포머; 및관심 영역에 해당하는 기준 영상점을 기초로 초기 지연 시간을 산출하고, 상기 초기 지연 시간을 기초로 상기 아날로그 빔포머에 포함된 S/H회로의 시작 지점을 결정하는 빔포머 제어부;를 포함하는 빔포밍 장치
2 2
제 1항에 있어서,상기 빔포머 제어부는,상기 기준 영상점에서 어레이마다 적용되는 이상적인 지연 시간을 산출하여 상기 시작 지점을 결정하는 빔포밍 장치
3 3
제 2항에 있어서,상기 빔포머 제어부는,상기 이상적인 지연 시간을 기초로 제 1시스템 지연 시간을 산출하고, 상기 제 1 시스템 지연 시간을 기초로 상기 초기 지연 시간을 산출하는 빔포밍 장치
4 4
제 3항에 있어서,상기 빔포머 제어부는,깊이에 따른 제 2 시스템 지연 시간을 산출하는 빔포밍 장치
5 5
제 4항에 있어서,상기 빔포머 제어부는,상기 제 2 시스템 지연 시간과 상기 초기 지연 시간을 기초로 다이내믹 지연 시간을 산출하는 빔포밍 장치
6 6
제 5항에 있어서,상기 빔포머 제어부는,상기 다이내믹 지연 시간을 기초로 상기 아날로그 빔포머에 포함된 적어도 하나의 시프트 레지스터의 동작 주파수를 제어하는 빔포밍 장치
7 7
제 4 항에 있어서,상기 빔포머 제어부는,상기 제 1 시스템 지연 시간 및 상기 제 2 시스템 지연 시간을 기초로 상기 디지털 빔포머를 제어하는 빔포밍 장치
8 8
2 차원 어레이의 트랜스듀서;상기 트랜스듀서로부터 수신되는 신호를 증폭시키는 신호 처리부;상기 트랜스듀서의 적어도 하나의 어레이를 포함하는 서브 어레이에서 수신되는 아날로그 신호의 시간을 지연하는 아날로그 빔포머;아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 ADC(Analog-to-Digital Converter);상기 디지털 신호를 빔포밍하는 디지털 빔포머; 및관심 영역에 해당하는 기준 영상점을 기초로 초기 지연 시간을 산출하고, 상기 초기 지연 시간을 기초로 상기 아날로그 빔포머에 포함된 S/H회로의 시작 지점을 결정하는 빔포머 제어부;를 포함하는 초음파 프로브
9 9
제 8항에 있어서,상기 빔포머 제어부는,상기 기준 영상점에서 어레이마다 적용되는 이상적인 지연 시간을 산출하여 상기 시작 지점을 결정하는 빔포밍 장치
10 10
제 9항에 있어서,상기 빔포머 제어부는,상기 이상적인 지연 시간을 기초로 제 1시스템 지연 시간을 산출하고, 상기 제 1 시스템 지연 시간을 기초로 상기 초기 지연 시간을 산출하는 프로브
11 11
제 10항에 있어서,상기 빔포머 제어부는,깊이에 따른 제 2 시스템 지연 시간을 산출하는 초음파 프로브
12 12
제 11항에 있어서,상기 빔포머 제어부는,상기 제 2 시스템 지연 시간과 상기 초기 지연 시간을 기초로 다이내믹 지연 시간을 산출하는 초음파 프로브
13 13
제 12항에 있어서,상기 빔포머 제어부는,상기 다이내믹 지연 시간을 기초로 상기 아날로그 빔포머에 포함된 적어도 하나의 시프트 레지스터의 동작 주파수를 제어하는 초음파 프로브
14 14
제 11 항에 있어서,상기 빔포머 제어부는,상기 제 1 시스템 지연 시간 및 상기 제 2 시스템 지연 시간을 기초로 상기 디지털 빔포머를 제어하는 초음파 프로브
15 15
2 차원 어레이의 트랜스듀서를 포함하는 프로브;상기 프로브에서 전달되는 영상을 처리하는 영상 처리부;상기 영상 처리부에서 전달되는 영상 및 관심 영역을 표시하는 표시부; 및상기 프로브 및 상기 표시부를 제어하고, 상기 관심 영역에 해당하는 기준 영상점을 기초로 초기 지연 시간을 산출하여 상기 초기 지연 시간을 기초로 상기 아날로그 빔포머에 포함된 S/H회로의 시작 지점을 결정하는 제어부;를 포함하고,상기 프로브는, 상기 트랜스듀서의 적어도 하나의 어레이를 포함하는 서브 어레이에서 수신되는 아날로그 신호의 시간을 지연하는 아날로그 빔포머;아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 ADC(Analog-to-Digital Converter);상기 디지털 신호를 빔포밍하는 디지털 빔포머; 및 상기 제어부의 제어에 따라 상기 아날로그 빔포머 및 상기 디지털 빔포머 중 적어도 하나를 제어하는 빔포머 제어부;를 포함하는 초음파 진단장치
16 16
제 15항에 있어서,상기 제어부는,상기 기준 영상점에서 어레이마다 적용되는 이상적인 지연 시간을 산출하여 상기 시작 지점을 결정하는 초음파 진단장치
17 17
제 16항에 있어서,상기 제어부는,상기 이상적인 지연 시간을 기초로 제 1시스템 지연 시간을 산출하고, 상기 제 1 시스템 지연 시간을 기초로 상기 초기 지연 시간을 산출하는 초음파 진단장치
18 18
제 17항에 있어서,상기 제어부는,깊이에 따른 제 2 시스템 지연 시간을 산출하는 초음파 진단장치
19 19
제 18항에 있어서,상기 제어부는,상기 제 2 시스템 지연 시간과 상기 초기 지연 시간을 기초로 다이내믹 지연 시간을 산출하는 초음파 진단장치
20 20
제 19항에 있어서,상기 제어부는,상기 다이내믹 지연 시간을 기초로 상기 아날로그 빔포머에 포함된 적어도 하나의 시프트 레지스터의 동작 주파수를 상기 빔포머 제어부를 통해 제어하는 초음파 진단장치
21 21
제 18 항에 있어서,상기 제어부는,상기 제 1 시스템 지연 시간 및 상기 제 2 시스템 지연 시간을 기초로 상기 빔포머 제어부를 통해 상기 디지털 빔포머를 제어하는 초음파 진단장치
22 22
제 15항에 있어서,사용자에 의해서 설정되는 상기 관심 영역을 입력 받는 입력부;를 더 포함하는 초음파 진단장치
23 23
2차원 어레이의 초음파 트랜스듀서를 통해 수신되는 초음파를 빔포밍 장치의 제어방법에 있어서,관심 영역에 해당하는 기준 영상점을 기초로 초기 지연 시간을 산출하고;상기 초기 지연 시간을 기초로 아날로그 빔포머에 포함된 S/H회로의 시작 지점을 결정하고;상기 시작 지점을 기초로 상기 트랜스듀서의 어레이에서 수신되는 아날로그 신호의 시간을 지연하고;상기 지연된 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하고;상기 변환된 디지털 신호의 시간을 지연하는 것;을 포함하는 빔포밍 장치의 제어방법
24 24
제 23항에 있어서,상기 산출하는 것은,상기 기준 영상점에서 어레이마다 적용되는 이상적인 지연 시간을 산출하는 것;을 포함하는 빔포밍 장치의 제어방법
25 25
제 24항에 있어서,상기 산출하는 것은,상기 이상적인 지연 시간을 기초로 제 1시스템 지연 시간을 산출하고, 상기 제 1 시스템 지연 시간을 기초로 상기 초기 지연 시간을 산출하는 것;을 포함하는 빔포밍 장치의 제어방법
26 26
제 25항에 있어서,상기 산출하는 것은,깊이에 따른 제 2 시스템 지연 시간을 산출하는 것;을 포함하는 빔포밍 장치의 제어방법
27 27
제 26항에 있어서,상기 산출하는 것은,상기 제 2 시스템 지연 시간과 상기 초기 지연 시간을 기초로 다이내믹 지연 시간을 산출하는 것;을 포함하는 빔포밍 장치의 제어방법
28 28
상기 27항에 있어서,상기 아날로그 신호의 시간을 지연하는 것은,상기 다이내믹 지연 시간을 기초로 상기 아날로그 빔포머에 포함된 적어도 하나의 시프트 레지스터의 동작 주파수를 제어하여 상기 아날로그 신호의 시간을 지연하는 것;을 포함하는 빔포밍 장치의 제어방법
29 29
상기 26항에 있어서,상기 디지털 신호의 시간을 지연하는 것은,상기 제 1 시스템 지연 시간 및 상기 제 2 시스템 지연 시간을 기초로 상기 디지털 신호의 시간을 지연하는 것;을 포함하는 빔포밍 장치의 제어방법
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 EP03207875 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
2 US20170209122 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 EP3207875 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
2 US2017209122 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.