맞춤기술찾기

이전대상기술

전계 방출 소자 및 이를 구비하는 엑스선 방출원(FIELD EMISSION DEVICE AND X-RAY EMISSION SOURCE HAVING THE SAME)

  • 기술번호 : KST2017012673
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 전계 방출 소자는 캐소드 전극; 상기 캐소드 전극과 전기적으로 연결되고, 전자빔을 방출하는 적어도 하나의 에미터; 상기 캐소드 전극 및 상기 에미터와 이격되어 배치되고, 상기 전자빔을 가속시키는 애노드 전극; 상기 캐소드 전극 및 상기 애노드 전극 사이에 배치되고, 상기 전자빔을 통과시키는 적어도 하나의 게이트 홀을 구비하는 게이트 전극; 및 상기 게이트 전극의 상기 캐소드 전극에 마주하는 면에 부착되고, 상기 게이트 홀을 커버하는 전자 투과성 도전체를 포함할 수 있다. 여기서, 상기 전자 투과성 도전체는 도전성 물질을 포함하여 상기 캐소드 전극 및 상기 게이트 전극 사이에 형성되는 전계의 등전위선들의 변형을 방지하고, 상기 에미터에서 방출된 전자를 투과시킬 수 있다.
Int. CL H01J 35/06 (2006.01.01) H01J 35/14 (2006.01.01) H01J 9/14 (2006.01.01) H01J 33/04 (2006.01.01)
CPC H01J 35/065(2013.01) H01J 35/065(2013.01) H01J 35/065(2013.01) H01J 35/065(2013.01) H01J 35/065(2013.01)
출원번호/일자 1020160089329 (2016.07.14)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0089387 (2017.08.03) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020160009520   |   2016.01.26
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2020.01.30)
심사청구항수 20

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 신민식 대한민국 대전광역시 동구
2 송윤호 대한민국 대전광역시 서구
3 정진우 대한민국 대전광역시 유성구
4 강준태 대한민국 대전광역시 유성구
5 박소라 대한민국 서울특별시 동대문구
6 전효진 대한민국 대전광역시 유성구
7 최영철 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 특허법인 고려 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.07.14 수리 (Accepted) 1-1-2016-0683410-47
2 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2016.10.24 수리 (Accepted) 1-1-2016-1030993-28
3 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2020.01.30 수리 (Accepted) 1-1-2020-0098843-64
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
캐소드 전극; 상기 캐소드 전극과 전기적으로 연결되고, 전자빔을 방출하는 적어도 하나의 에미터; 상기 캐소드 전극 및 상기 에미터와 이격되어 배치되고, 상기 전자빔을 가속시키는 애노드 전극; 상기 캐소드 전극 및 상기 애노드 전극 사이에 배치되고, 상기 전자빔을 통과시키는 적어도 하나의 게이트 홀을 구비하는 게이트 전극; 및 상기 게이트 전극의 상기 캐소드 전극에 마주하는 면에 부착되고, 상기 게이트 홀을 커버하는 전자 투과성 도전체를 포함하며, 상기 전자 투과성 도전체는 도전성 물질을 포함하여 상기 캐소드 전극 및 상기 게이트 전극 사이에 형성되는 전계의 등전위선들의 변형을 방지하고, 상기 에미터에서 방출된 전자를 투과시키는 전계 방출 소자
2 2
제1 항에 있어서, 상기 전자 투과성 도전체는 철(Fe), 니켈(Ni), 코발트(Co) 및 이들의 합금 중 적어도 하나를 포함하는 전계 방출 소자
3 3
제1 항에 있어서, 상기 전자 투과성 도전체는 그래핀, 페브로스카이트, MoS2, WSe2, H-BN, 및 TaS2 중 하나를 적어도 하나의 이차원 도전 물질을 포함하는 전계 방출 소자
4 4
제1 항에 있어서, 상기 캐소드 전극은 적어도 하나의 요부를 구비하고, 상기 에미터는 상기 요부에 배치되는 전계 방출 소자
5 5
제4 항에 있어서, 상기 요부에는 복수의 에미터들이 배치되는 전계 방출 소자
6 6
제1 항에 있어서, 상기 캐소드 전극은 복수의 요부들을 구비하고, 상기 캐소드 전극 상에는 복수의 에미터들이 배치되며, 상기 에미터들 각각은 상기 요부들에 배치되는 전계 방출 소자
7 7
제6 항에 있어서, 상기 요부들의 직경 및 깊이는 동일한 전계 방출 소자
8 8
제6 항에 있어서, 상기 요부들의 직경 및 깊이 중 적어도 하나는 서로 다른 전계 방출 소자
9 9
제1 항에 있어서, 상기 전자빔이 상기 애노드 전극으로 집속되도록 제어하는 전자빔 제어 전극을 더 포함하는 전계 방출 소자
10 10
제9 항에 있어서, 상기 전자빔 제어 전극은 상기 게이트 전극에서 상기 애노드 전극으로 연장된 형상을 가지는 전계 방출 소자
11 11
제9 항에 있어서, 상기 전자빔 제어 전극은 상기 게이트 전극과 동일한 물질을 포함하고, 상기 게이트 전극과 일체로 형성되는 전계 방출 소자
12 12
진공 용기; 및 상기 진공 용기 내부에 배치되는 전계 방출 소자를 구비하며, 상기 전계 방출 소자는 캐소드 전극; 상기 캐소드 전극의 표면 상에 배치되고 전자빔을 방출하는 적어도 하나의 에미터; 상기 캐소드 전극 및 상기 에미터와 이격되어 배치되고, 상기 전자빔을 가속시키는 애노드 전극; 상기 캐소드 전극 및 상기 애노드 전극 사이에 배치되고, 상기 전자빔을 통과시키는 적어도 하나의 게이트 홀을 구비하는 게이트 전극; 및 상기 게이트 전극의 상기 캐소드 전극에 마주하는 면에 부착되고, 상기 게이트 홀을 커버하는 전자 투과성 도전체를 포함하며, 상기 전자 투과성 도전체는 도전성 물질을 포함하여 상기 캐소드 전극 및 상기 게이트 전극 사이에 형성되는 전계의 등전위선들의 변형을 방지하고, 상기 에미터에서 방출된 전자를 투과시키는 엑스선 방출원
13 13
제12 항에 있어서, 상기 전자 투과성 도전체는 철(Fe), 니켈(Ni), 코발트(Co), 그래핀, 페브로스카이트, MoS2, WSe2, H-BN, 및 TaS2 중 하나를 적어도 하나를 포함하는 전계 방출 엑스선 방출원
14 14
제12 항에 있어서, 상기 캐소드 전극은 적어도 하나의 요부를 구비하고, 상기 에미터는 상기 요부에 배치되는 엑스선 방출원
15 15
제14 항에 있어서, 상기 요부에는 복수의 에미터들이 배치되는 엑스선 방출원
16 16
제12 항에 있어서, 상기 캐소드 전극은 복수의 요부들을 구비하고, 상기 캐소드 전극 상에는 복수의 에미터들이 배치되며, 상기 에미터들 각각은 상기 요부들에 배치되는 엑스선 방출원
17 17
제16 항에 있어서, 상기 요부들의 직경 및 깊이 중 적어도 하나는 서로 다른 엑스선 방출원
18 18
제12 항에 있어서, 상기 전자빔이 상기 애노드 전극으로 집속되도록 제어하는 전자빔 제어 전극을 더 포함하는 엑스선 방출원
19 19
제18 항에 있어서, 상기 전자빔 제어 전극은 상기 게이트 전극에서 상기 애노드 전극으로 연장된 형상을 가지는 엑스선 방출원
20 20
제18 항에 있어서, 상기 전자빔 제어 전극은 상기 게이트 전극과 동일한 물질을 포함하고, 상기 게이트 전극과 일체로 형성되는 엑스선 방출원
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 한국전자통신연구원 국가과학기술연구회운영경비 영상기반 초미세 실시간 검사 및 결함 분리 시스템 개발