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일체형 편광간섭계 및 이를 적용한 스냅샷 분광편광계(One-piece polarizing interferometer and snapshot spectro-polarimetry applying the same)

  • 기술번호 : KST2017013270
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 일체형 편광간섭계 및 이를 적용한 스냅샷 분광편광계가 제공된다. 본 발명의 실시예에 따른 일체형 편광간섭계는, 입사되는 복합파를 분리하는 편광 빔 스플리터, 편광 빔 스플리터의 제1 면에 부착되어 편광 빔 스플리터를 투과한 제1 편광을 편광 빔 스플리터로 반사하는 제1 미러 및 편광 빔 스플리터의 제2 면에 부착되어 편광 빔 스플리터에서 반사된 제2 편광을 편광 빔 스플리터로 반사하는 제2 미러를 포함한다. 이에 의해, 일체형 편광간섭계를 이용하여 외부 진동 등에 의한 외란에 강인한 분광편광 현상 스냅샷 측정이 가능해져, 측정의 반복도와 정확도를 향상시킬 수 있게 된다.
Int. CL G01J 3/45 (2016.03.18) G02B 27/28 (2016.03.18) G01N 21/21 (2016.03.18) G01N 21/27 (2016.03.18) G01N 21/01 (2016.03.18)
CPC G01J 3/45(2013.01) G01J 3/45(2013.01) G01J 3/45(2013.01) G01J 3/45(2013.01) G01J 3/45(2013.01)
출원번호/일자 1020160013928 (2016.02.04)
출원인 전북대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0092803 (2017.08.14) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.02.04)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 전북대학교산학협력단 대한민국 전라북도 전주시 덕진구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김대석 대한민국 전라북도 전주시 덕진구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 남충우 대한민국 서울 강남구 언주로 ***, *층(역삼동, 광진빌딩)(알렉스국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 전북대학교산학협력단 전라북도 전주시 덕진구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.02.04 수리 (Accepted) 1-1-2016-0120203-09
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2016.03.25 수리 (Accepted) 1-1-2016-0287063-18
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2016.03.29 수리 (Accepted) 1-1-2016-0300094-85
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.11.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.03.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0046668-49
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.03.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0233926-98
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.05.30 수리 (Accepted) 1-1-2017-0514830-25
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.05.30 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0514835-53
9 등록결정서
Decision to grant
2017.10.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0754610-07
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.02.27 수리 (Accepted) 4-1-2019-5038917-11
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.07.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5146985-61
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.07.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5146986-17
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.22 수리 (Accepted) 4-1-2019-5219602-91
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.06 수리 (Accepted) 4-1-2020-5149086-79
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번호 청구항
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광원에서 조사되는 광을 선형 편광시키는 제1 선형 편광자;상기 제1 선형 편광자에서 출사되어 오브젝트를 투과 또는 반사하여 생성된 복합파를 편광 변조하는 일체형 편광간섭계;상기 일체형 편광간섭계에서 출사되는 두 파동을 간섭시키는 제2 선형 편광자; 및상기 제2 선형 편광자에서 출사되는 광의 분광편광 정보를 측정하는 측정 장치;를 포함하고,상기 일체형 편광간섭계는,입사되는 복합파를 분리하는 편광 빔 스플리터;상기 편광 빔 스플리터의 제1 면에 부착되어, 상기 편광 빔 스플리터를 투과한 제1 편광을 상기 편광 빔 스플리터로 반사하는 제1 미러; 및상기 편광 빔 스플리터의 제2 면에 부착되어, 상기 편광 빔 스플리터에서 반사된 제2 편광을 상기 편광 빔 스플리터로 반사하는 제2 미러;를 포함하고,상기 일체형 편광간섭계에서, 상기 제1 편광의 경로 길이는 상기 제2 편광의 경로 길이와 차이가 있으며,상기 측정 장치는,상기 제2 선형 편광자에서 출사되는 간섭파의 분광편광 정보로 스톡스 벡터(Stokes vector)를 스냅샷 방식으로 측정하는 것을 특징으로 하는 스냅샷 분광편광계
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청구항 6에 있어서,상기 제1 선형 편광자와 상기 제2 선형 편광자는,같은 방향의 선형 편광자인 것을 특징으로 하는 스냅샷 분광편광계
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1 EP03413022 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
2 JP31508688 JP 일본 FAMILY
3 US20190049302 US 미국 FAMILY
4 WO2017135641 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 EP3413022 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
2 EP3413022 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
3 JP2019508688 JP 일본 DOCDBFAMILY
4 US2019049302 US 미국 DOCDBFAMILY
5 WO2017135641 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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1 미래창조과학부 전북대학교 중견연구자지원 파면복원기술을 이용한 마이크로나노 기계물성측정 고속화 연구
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