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벤딩 시험기(bending tester)

  • 기술번호 : KST2017014070
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 시료 케이블의 벤딩 품질 및 광 파이버 성능을 실시간 파악할 수 있는 벤딩 시험기에 관한 것으로, 모듈 탑재 공간 또는 보관함이 마련된 본체; 상기 본체의 내부에 마련되어서, 벤딩 시험에 필요한 회전력을 발생시키는 구동모듈조립체; 상기 구동모듈조립체로부터 전달받은 정회전 또는 역회전 방향의 회전력에 상응한 벤딩 하중을 시료 케이블에 인가하는 벤딩모듈; 상기 시료 케이블에 분동의 중량에 대응한 크기의 중력 하중을 인가하는 분동모듈; 상기 시료 케이블에 광원의 파워를 입력한 후 상기 시료 케이블로부터 출력된 광 신호를 수신하는 광원센서모듈; 및 상기 광원센서모듈의 작동을 제어하고, 수신된 상기 광 신호를 컴퓨터 분석 가능하게 정보로 변환하는 제어유니트를 포함한다.
Int. CL G01M 5/00 (2016.03.24) G01N 3/20 (2016.03.24) G01N 3/02 (2016.03.24) H01B 11/22 (2016.03.24)
CPC G01M 5/0058(2013.01) G01M 5/0058(2013.01) G01M 5/0058(2013.01) G01M 5/0058(2013.01)
출원번호/일자 1020160021363 (2016.02.23)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0099236 (2017.08.31) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 윤광수 대한민국 광주시 광산구
2 유정희 대한민국 광주광역시 광산구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인지명 대한민국 서울특별시 강남구 남부순환로**** 차우빌딩*층

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.02.23 수리 (Accepted) 1-1-2016-0178429-02
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번호 청구항
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모듈 탑재 공간 또는 보관함이 마련된 본체;상기 본체의 내부에 마련되어서, 벤딩 시험에 필요한 회전력을 발생시키는 구동모듈조립체;상기 구동모듈조립체로부터 전달받은 정회전 또는 역회전 방향의 회전력에 상응한 벤딩 하중을 시료 케이블에 인가하는 벤딩모듈;상기 시료 케이블에 분동의 중량에 대응한 크기의 중력 하중을 인가하는 분동모듈;상기 시료 케이블에 광원의 파워를 입력한 후 상기 시료 케이블로부터 출력된 광 신호를 수신하는 광원센서모듈; 및상기 광원센서모듈의 작동을 제어하고, 수신된 상기 광 신호를 컴퓨터 분석 가능하게 정보로 변환하는 제어유니트를 포함하는 것인 벤딩 시험기
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패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 (주)엠이엘텔레콤 소재부품기술기반혁신 10G 초저가 파장가변 광송신모듈(TOSA) 신뢰성 제고 개발