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공명 터널 소자(resonant tunneling device) 에 있어서,축퇴된 반도체층;상기 축퇴된 반도체층 상에 형성된 제 1 무기물층;상기 제 1무기물층 상에 형성된 유기물층; 및상기 유기물층 상에 형성된 전극층을 포함하되,상기 유기물층은 불연속적인 복수의 에너지 준위를 갖도록 형성된 것이고,상기 전극층에 양의 전압이 인가되는 경우, 상기 공명 터널 소자는 복수 개의 피크(peak)와 밸리(valley) 전류를 갖는 부성 저항 특성을 나타내는 것인 공명 터널 소자
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제 1 항에 있어서,상기 유기물층과 상기 전극층 사이에 형성된 제 2무기물층을 더 포함하는 것인 공명 터널 소자
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제 2 항에 있어서,상기 유기물층은 상기 제 1 무기물층 및 제 2 무기물층 보다 두꺼운 것인 공명 터널 소자
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제 2 항에 있어서,상기 제 1 무기물층 및 제 2 무기물층은 알루미늄 옥사이드(Al2O3), 하프늄 옥사이드(HfO2), 실리콘 나이트라이드(Si3N4), 질화붕소(BN), 산화아연(ZnO) 및 질화 갈륨(GaN) 중 적어도 하나 이상으로 이루어지는 것인 공명 터널 소자
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제 1 항에 있어서,상기 유기물층은 PPDTBT, PPDTFBT 및 PPDT2FBT중 어느 하나의 고분자 중합체로 구성되는 것인 공명 터널 소자
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제 1 항에 있어서,상기 축퇴된 반도체층이 n형 반도체층인 경우, 상기 복수의 에너지 준위 중 가장 높은 에너지 준위는 상기 축퇴된 반도체층의 페르미 준위보다 낮고, 상기 축퇴된 반도체층이 p형 반도체층인 경우, 상기 복수의 에너지 준위 중 가장 낮은 에너지 준위는 상기 축퇴된 반도체층의 페르미 준위보다 높은 것인 공명 터널 소자
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제 1 항에 있어서,상기 복수의 에너지 준위를 구성하는 제 1 및 제 2 에너지 준위 간의 간격은 0
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공명 터널 소자(resonant tunneling device)의 제조 방법에 있어서,축퇴된 반도체층을 형성하는 단계;상기 축퇴된 반도체층 상에 제 1 무기물층을 형성하는 단계;상기 제1 무기물층 상에 유기물층을 형성하는 단계; 및상기 유기물층 상에 전극층을 형성하는 단계를 포함하되,상기 유기물층은 불연속적인 복수의 에너지 준위를 갖도록 형성된 것이고,상기 공명 터널 소자의 제조 방법에 의해 제조된 상기 공명 터널 소자는상기 전극층에 양의 전압이 인가되는 경우, 복수 개의 피크(peak)와 밸리(valley) 전류를 갖는 부성 저항 특성을 나타내는 것인 공명 터널 소자의 제조 방법
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제 9항에 있어서,상기 유기물층을 형성하는 단계와 전극층을 형성하는 단계 사이에,상기 유기물층 상에 제 2 무기물층을 형성하는 단계를 더 포함하는 것인 공명 터널 소자의 제조 방법
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제 10항에 있어서,상기 유기물층을 형성하는 단계에서 상기 유기물층은 상기 제 1 무기물층 및 제 2 무기물층 보다 두껍게 형성되는 것인 공명 터널 소자의 제조 방법
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제 9 항에 있어서,상기 유기물층을 형성하는 단계에서상기 유기물층은 PPDTBT, PPDTFBT 및 PPDT2FBT중 어느 하나의 고분자 중합체로 구성되는 것인 공명 터널 소자의 제조 방법
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제 9 항에 있어서,상기 유기물층을 형성하는 단계에서상기 축퇴된 반도체층이 n형 반도체층인 경우, 상기 복수의 에너지 준위 중 가장 높은 에너지 준위는 상기 축퇴된 반도체층의 페르미 준위보다 낮고, 상기 축퇴된 반도체층이 p형 반도체층인 경우, 상기 복수의 에너지 준위 중 가장 낮은 에너지 준위는 상기 축퇴된 반도체층의 페르미 준위보다 높은 것인 공명 터널 소자의 제조 방법
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제 9 항에 있어서,상기 복수의 에너지 준위를 구성하는 제 1 및 제 2 에너지 준위 간의 간격은 0
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