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발광원과 수광원의 중심이 일직선 상에 놓이도록 상기 발광원과 상기 수광원을 설치 또는 제어하는 단계;상기 발광원에서 발사된 빔이 광통신렌즈를 적어도 통과하도록 하고, 상기 광통신렌즈를 통과한 상기 빔이, 상기 수광원의 중심에 명중할 때까지 상기 광통신렌즈의 위치를 조정하는 단계; 및상기 빔이 상기 수광원의 중심에 명중된 경우, 상기 광통신렌즈의 위치로부터, 상기 발광원 및 상기 수광원까지의 거리를 측정하는 단계를 포함하는 광통신렌즈 특성 평가 방법
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제1항에 있어서,상기 광통신렌즈가 조준렌즈인 경우, 상기 측정된 거리와 연관되는 정렬 셋업을 이용하여,상기 광통신렌즈의 조준여부를 판별하는 단계;상기 판별 결과 조준되는 경우, 상기 광통신렌즈의 빔 웨이스트의 위치를 측정하는 단계; 및상기 측정된 위치를 이용하여, 상기 발광원과 상기 광통신렌즈 사이의 거리(L1)를 측정하는 단계를 더 포함하는 광통신렌즈 특성 평가 방법
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제1항에 있어서,상기 광통신렌즈가 초점렌즈인 경우, 상기 측정된 거리와 연관되는 정렬 셋업을 이용하여,상기 발광원과 상기 광통신렌즈 사이의 거리(L1)를 측정하는 단계;상기 광통신렌즈와 상기 수광원 사이의 거리(L2)를 측정하는 단계; 및상기 거리(L1)과 상기 거리(L2) 각각에서의 결합효율을 측정하는 단계를 더 포함하는 광통신렌즈 특성 평가 방법
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제3항에 있어서,레이저 마이크로미터를 이용하여 상기 광통신렌즈에서 상기 발광원 또는 상기 수광원 사이의 거리를 측정하는 단계를 더 포함하는 광통신렌즈 특성 평가 방법
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제1항에 있어서,상기 광통신렌즈의 위치를 조정하는 단계는,상기 발광원에서 발사된 빔이, 상기 수광원의 활성영역의 센터에 수직으로 입사되도록, 파이버 조준기를 제어하는 단계; 및상기 파이버 조준기의 제어에 따른 상기 발광원과 상기 수광원 사이의 정렬을 통해, 상기 발광원에서 발사된 빔이 상기 광통신렌즈를 적어도 통과하도록 상기 광통신렌즈의 위치를 조정하는 단계를 포함하는 광통신렌즈 특성 평가 방법
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제1항에 있어서,상기 광통신렌즈와 상기 수광원 사이에 둘 이상의 계측용 포인트를 지정하는 단계; 및상기 계측용 포인트에서 상기 빔과 수직을 이루는 면으로 입사하는 상기 빔의 빔 사이즈를 획득하는 단계를 더 포함하는 광통신렌즈 특성 평가 방법
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제6항에 있어서,상기 계측용 포인트 간의 상기 빔 사이즈에 대한 차이값이 임계치를 초과한 경우,상기 광통신렌즈의 위치를 재조정하는 단계; 또는상기 계측용 포인트 간의 상기 빔 사이즈에 대한 차이값이 임계치 이하인 경우,상기 빔이 상기 수광원의 중심에 명중된 것으로 판단하여 상기 수광원에 대한 위치 조정을 중지하는 단계를 더 포함하는 광통신렌즈 특성 평가 방법
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제1항에 있어서,상기 빔이 상기 수광원의 중심에 명중된 경우,상기 광통신렌즈와 상기 수광원 사이에서, 임의의 지점을 중심으로 전후에 각각 평가용 포인트를 지정하는 단계; 및상기 평가용 포인트에서 상기 빔과 수직을 이루는 면으로 입사하는 상기 빔의 빔 사이즈를 획득하는 단계를 더 포함하는 광통신렌즈 특성 평가 방법
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제8항에 있어서,상기 평가용 포인트에서의 상기 빔 사이즈가 감소하거나 증가하는 크기와 연관된 빔 웨이스트에서의 상기 빔 사이즈를 산출하는 단계; 및상기 빔 웨이스트에서의 상기 빔 사이즈가 설정치를 초과한 경우,상기 수광원의 중심으로의 상기 빔 명중을 무효화하는 단계를 더 포함하는 광통신렌즈 특성 평가 방법
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제8항에 있어서,상기 평가용 포인트에서의 상기 빔 사이즈가 감소하거나 증가하는 크기와 연관된 빔 웨이스트에서의 상기 빔 사이즈를 산출하는 단계;상기 빔 웨이스트에서의 상기 빔 사이즈가 설정치 이하인 경우,상기 광통신렌즈의 위치로부터 상기 빔 웨이스트의 위치까지의 거리를 측정하는 단계를 더 포함하는 광통신렌즈 특성 평가 방법
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제10항에 있어서,상기 빔 웨이스트 상에 광섬유가 위치하도록 조정하는 단계; 및상기 광섬유와 상기 빔과의 결합에 관한 광결합 효율을 평가하는 단계를 더 포함하는 광통신렌즈 특성 평가 방법
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광통신렌즈 특성 평가에 사용되는 발광원, 및 평가 또는 실장 하고자 하는 광통신렌즈를 포함하고, 상기 광통신렌즈를 홀딩하고 정밀 제어하는 제1 정밀 스테이지; 및상기 광통신렌즈를 통과한 빔을 수광할 수 있는 수광원, 상기 광통신렌즈를 통과한 빔과 수직한 면을 스캔할 수 있는 광섬유, 및 상기 발광원으로부터 상기 수광원과 상기 광섬유를 일정간격으로 거리 조절하도록 상기 수광원을 제어하여 2차원 면스캔할 수 있도록 제어하는 제2 정밀 스테이지;를 포함하는 광통신렌즈 특성 평가 장치
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제12항에 있어서,상기 광통신렌즈 특성 평가에 사용되는 상기 발광원을 포함하고, 상기 발광원을 정밀 제어할 수 있는 제3 정밀 스테이지를 더 포함하는 광통신렌즈 특성 평가 장치
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제12항에 있어서,상기 광통신렌즈에서 상기 발광원 또는 상기 수광원 사이의 거리를 측정하는 레이저 마이크로미터를 더 포함하는 광통신렌즈 특성 평가 장치
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제12항에 있어서,상기 제1 정밀 스테이지는,상기 발광원에서 발사된 빔이 상기 광통신렌즈를 적어도 통과하도록, 상기 광통신렌즈의 위치를 조정하고,상기 제2 정밀 스테이지는,상기 광통신렌즈를 통과한 상기 빔이, 상기 수광원의 중심에 명중할 때까지, 상기 수광원의 위치를 반복하여 조정하며,상기 광통신렌즈 특성 평가 장치는,상기 빔이 상기 수광원의 중심에 명중된 경우, 상기 광통신렌즈의 위치로부터, 상기 발광원 및 상기 수광원까지의 거리를 측정하는 평가부를 더 포함하는 광통신렌즈 특성 평가 장치
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제15항에 있어서,상기 제2 정밀 스테이지는,상기 광통신렌즈와 상기 수광원 사이에 둘 이상의 계측용 포인트를 지정하고, 상기 계측용 포인트에서 상기 빔과 수직을 이루는 면으로 입사하는 상기 빔의 빔 사이즈를 획득하는광통신렌즈 특성 평가 장치
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제16항에 있어서,상기 계측용 포인트 간의 상기 빔 사이즈에 대한 차이값이 임계치를 초과한 경우,상기 제1 정밀 스테이지는,상기 광통신렌즈의 위치를 재조정하거나, 또는상기 계측용 포인트 간의 상기 빔 사이즈에 대한 차이값이 임계치 이하인 경우,상기 제2 정밀 스테이지는,상기 빔이 상기 수광원의 중심에 명중된 것으로 판단하여 상기 수광원에 대한 위치 조정을 중지하는광통신렌즈 특성 평가 장치
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제15항에 있어서,상기 빔이 상기 수광원의 중심에 명중된 경우,상기 제2 정밀 스테이지는,상기 광통신렌즈와 상기 수광원 사이에서, 임의의 지점을 중심으로 전후에 각각 평가용 포인트를 지정하고, 상기 평가용 포인트에서 상기 빔과 수직을 이루는 면으로 입사하는 상기 빔의 빔 사이즈를 획득하는광통신렌즈 특성 평가 장치
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제18항에 있어서,상기 제2 정밀 스테이지는,상기 평가용 포인트에서의 상기 빔 사이즈가 감소하거나 증가하는 크기와 연관된 빔 웨이스트에서의 상기 빔 사이즈를 산출하고,상기 빔 웨이스트에서의 상기 빔 사이즈가 설정치 이하인 경우,상기 평가부는,상기 광통신렌즈의 위치로부터 상기 빔 웨이스트의 위치까지의 거리를 측정하는광통신렌즈 특성 평가 장치
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