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유무기 복합 페로브스카이트 기반 X-선 검출 디바이스 및 X-선 검출 장치(ORGANIC-INORGANIC HYBRID PEROVSKITE-BASED X-RAY DETECTION DEVICE AND X-RAY DETECTION APPARATUS)

  • 기술번호 : KST2017015593
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본원은 유무기 복합 페로브스카이트를 기반으로 한 X-선 검출 디바이스 및 X-선 검출 장치에 관한 것이다.
Int. CL G01T 1/202 (2016.04.29) C09K 11/00 (2016.04.29) C09K 11/06 (2016.04.29)
CPC G01T 1/202(2013.01) G01T 1/202(2013.01) G01T 1/202(2013.01) G01T 1/202(2013.01)
출원번호/일자 1020160039732 (2016.03.31)
출원인 성균관대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0112563 (2017.10.12) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 16

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 성균관대학교산학협력단 대한민국 경기도 수원시 장안구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박남규 대한민국 서울특별시 강남구
2 이진욱 대한민국 경기도 수원시 장안구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 한선희 대한민국 서울시 강남구 논현로 *** 여산빌딩 *층 ***호(온유특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.03.31 수리 (Accepted) 1-1-2016-0313748-30
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.02.23 수리 (Accepted) 4-1-2017-5028829-43
3 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2017.04.20 수리 (Accepted) 1-1-2017-0386752-47
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번호 청구항
1 1
신틸레이터 층; 및 광 검출부를 포함하며, 상기 신틸레이터 층 및 상기 광 검출부는 각각 독립적으로 하기 화학식 1 또는 하기 화학식 2로 표시되는 유무기 복합 페로브스카이트 결정의 층을 포함하며,상기 신틸레이터 층 및 상기 광 검출부 각각에 포함되는 상기 유무기 복합 페로브스카이트 물질은 서로 상이한 것을 포함하는 것인,X-선 검출 디바이스:[화학식 1]RMX3 [화학식 2]R2MX4상기 화학식 1 및 화학식 2 각각에서 독립적으로, M은 Cu2+, Ni2+, Co2+, Fe2+, Mn2+, Cr2+, Pd2+, Cd2+, Yb2+, Pb2+, Sn2+, Ge2+, Bi3+, Sb3+, 및 이들의 조합들로 이루어진 군으로부터 선택되는 금속 양이온을 포함하고,R은 유기 양이온이고,X는 음이온을 포함하는 것임
2 2
제 1 항에 있어서,상기 화학식 1 및 상기 화학식 2 각각에서 독립적으로, R은 (R1R2R3R4N)+로서 표시되는 1가의 유기 암모늄 이온으로서, R1 내지 R4 각각은 독립적으로 탄소수가 1 내지 24인 선형 또는 분지형 알킬기, 탄소수가 3 내지 20인 시클로알킬기, 탄소수가 6 내지 20인 아릴기, 및 이들의 조합들로 이루어진 군으로부터 선택되는 것을 포함하는 것인, X-선 검출 디바이스
3 3
제 1 항에 있어서,상기 화학식 1 및 상기 화학식 2 각각에서 독립적으로, X는 할라이드 음이온 또는 칼코게나이드 음이온을 포함하는 것인, X-선 검출 디바이스
4 4
제 1 항에 있어서,상기 신틸레이터 층은 X-선을 가시광선으로 변환시키는 것인, X-선 검출 디바이스
5 5
제 1 항에 있어서,상기 광 검출부는 상기 신틸레이터 층으로부터 방출된 가시광선을 전기 신호로 변환시키는 것인, X-선 검출 디바이스
6 6
제 1 항에 있어서,상기 신틸레이터 층 및 상기 광 검출부에 각각 포함된 상기 유무기 복합 페로브스카이트의 결정의 층은 각각 독립적으로 100 μm 이상의 두께를 가지는 것인, X-선 검출 디바이스
7 7
제 1 항에 있어서,상기 신틸레이터 층 및 상기 광 검출부에 각각 포함된 상기 유무기 복합 페로브스카이트의 결정의 층은 각각 필름 형태를 포함하는 것인, X-선 검출 디바이스
8 8
제 1 항에 있어서,상기 신틸레이터 층의 유무기 복합 페로브스카이트 물질은 RMBr3, RMCl3, 또는 R2MX4를 포함하고,상기 광 검출부의 유무기 복합 페로브스카이트 물질은 RMI3를 포함하는 것이고,상기 R, M, 및 X는 제 1 항에 정의된 바와 같은 것인, X-선 검출 디바이스
9 9
신틸레이터 층;광 검출부;및 상기 광 검출부로부터 전달되는 전기적 신호를 판독하는 데이터 검출부를 포함하며, 상기 신틸레이터 층 및 상기 광 검출부는 각각 독립적으로 하기 화학식 1 또는 하기 화학식 2로 표시되는 유무기 복합 페로브스카이트 결정의 층을 포함하며,상기 신틸레이터 층 및 상기 광 검출부의 상기 유무기 복합 페로브스카이트 물질은 서로 상이한 것을 포함하는 것인, X-선 검출 장치:[화학식 1]RMX3 [화학식 2]R2MX4상기 화학식 1 및 상기 화학식 2 각각에서 독립적으로, M은 Cu2+, Ni2+, Co2+, Fe2+, Mn2+, Cr2+, Pd2+, Cd2+, Yb2+, Pb2+, Sn2+, Ge2+, Bi3+, Sb3+, 및 이들의 조합들로 이루어진 군으로부터 선택되는 금속 양이온을 포함하고,R은 유기 양이온이고,X는 음이온을 포함하는 것임
10 10
제 9 항에 있어서,상기 화학식 1 및 상기 화학식 2 각각에서 독립적으로, R은 (R1R2R3R4N)+로서 표시되는 1가의 유기 암모늄 이온으로서, R1 내지 R4 각각은 독립적으로 탄소수가 1 내지 24인 선형 또는 분지형 알킬기, 탄소수가 3 내지 20인 시클로알킬기, 탄소수가 6 내지 20인 아릴기, 및 이들의 조합들로 이루어진 군으로부터 선택되는 것을 포함하는 것인, X-선 검출 장치
11 11
제 9 항에 있어서,상기 화학식 1 및 화학식 2 각각에서 독립적으로, X는 할라이드 음이온 또는 칼코게나이드 음이온을 포함하는 것인, X-선 검출 장치
12 12
제 9 항에 있어서,상기 신틸레이터 층은 X-선을 가시광선으로 변환시키는 것인, X-선 검출 장치
13 13
제 9 항에 있어서,상기 광 검출부는 상기 신틸레이터 층으로부터 방출된 가시광선을 전기 신호로 변환시키는 것인, X-선 검출 장치
14 14
제 9 항에 있어서,상기 신틸레이터 층 및 상기 광 검출부에 각각 포함된 상기 유무기 복합 페로브스카이트의 결정의 층은 각각 100 μm 이상의 두께를 가지는 것인, X-선 검출 장치
15 15
제 9 항에 있어서,상기 신틸레이터 층 및 상기 광 검출부에 각각 포함된 상기 유무기 복합 페로브스카이트의 결정의 층은 각각 필름 형태를 포함하는 것인, X-선 검출 장치
16 16
제 9 항에 있어서,상기 신틸레이터 층의 유무기 복합 페로브스카이트 물질은 RMBr3, RMCl3, 또는 R2MX4를 포함하고,상기 광 검출부의 유무기 복합 페로브스카이트 물질은 RMI3를 포함하며,상기 R, M, 및 X는 제 9 항에 정의된 바와 같은 것인, X-선 검출 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
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