맞춤기술찾기

이전대상기술

반도체 장치의 출력 드라이버의 특성 검증 방법(Method for verifying characteristic of output driver in semiconductor device)

  • 기술번호 : KST2017015746
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 반도체 장치의 출력 드라이버의 특성 검증 방법에 관한 것이다.본 발명에 따른 반도체 장치의 출력 드라이버의 특성 검증 방법은, 반도체 칩의 양산 스크린 평가를 위해 반도체 칩을 테스트 모드에 진입시키는 단계; 드라이버 콘트롤러에 의해 테스트 모드에 진입된 반도체 칩의 내부의 모든 출력 드라이버를 순차적으로 동작시키는 단계; 및 순차적으로 동작하는 모든 출력 드라이버를 순차적으로 각각 자동 선택하여 각 출력 드라이버의 출력을 하나의 테스트 프로브를 통해 테스트 기기로 측정함으로써 상기 모든 출력 드라이버의 각 출력 드라이버의 특성을 검증하는 단계를 포함한다.이와 같은 본 발명에 의하면, 하나의 테스트 프로브를 이용하여 반도체 칩의 출력 드라이버의 특성을 평가하되, 칩 내부의 다양한 곳에 위치하는 모든 출력 드라이버의 특성을 평가하므로, 신규 투자(테스트 장비 및 소프트웨어의 도입)를 필요로 하지 않으며, 모든 출력 드라이버의 특성을 평가함에 따른 반도체 칩 불량품을 사전에 걸러내기 때문에 반도체 칩과 조립되어 하나의 패키지를 구성하는 상위 제품의 수율 감소 및 이익률 감소를 방지할 수 있는 효과가 있다.
Int. CL G01R 31/28 (2016.05.10) G01R 1/067 (2016.05.10) H03K 17/04 (2016.05.10)
CPC G01R 31/2884(2013.01) G01R 31/2884(2013.01) G01R 31/2884(2013.01) G01R 31/2884(2013.01) G01R 31/2884(2013.01)
출원번호/일자 1020160041670 (2016.04.05)
출원인 서울과학기술대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0114178 (2017.10.13) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.04.05)
심사청구항수 2

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 서울과학기술대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 노원구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 이원영 대한민국 경기도 용인시 수지구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 이준성 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길 **, ***호 준성특허법률사무소 (대치동, 대치빌딩)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 서울과학기술대학교 산학협력단 서울특별시 노원구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.04.05 수리 (Accepted) 1-1-2016-0328989-77
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2017.02.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.04.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0055047-17
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.04.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0259399-23
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.06.08 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0546287-26
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.06.08 수리 (Accepted) 1-1-2017-0546286-81
7 등록결정서
Decision to grant
2017.10.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0737419-38
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
a) 반도체 칩의 양산 스크린 평가를 위해 반도체 칩을 테스트 모드에 진입시키는 단계; b) 드라이버 콘트롤러에 의해 상기 테스트 모드에 진입된 반도체 칩의 내부의 모든 출력 드라이버를 순차적으로 동작시키는 단계; 및 c) 상기 순차적으로 동작하는 모든 출력 드라이버를 순차적으로 각각 자동 선택하여 각 출력 드라이버의 출력을 하나의 테스트 프로브(test probe)를 통해 테스트 기기로 측정함으로써 상기 모든 출력 드라이버의 각 출력 드라이버의 특성을 검증하는 단계를 포함하고,상기 각 출력 드라이버의 특성을 검증함에 있어서, 각 출력 드라이버로부터 출력된 측정 전류값과 기준 전류값을 비교하여 측정 전류값이 기준 전류값과 일치하지 않거나 측정 전류값이 기준 전류값의 허용 오차 범위를 초과할 경우, 해당 출력 드라이버를 불량으로 판정하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 출력 드라이버의 특성 검증 방법
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
a) 반도체 칩의 양산 스크린 평가를 위해 반도체 칩을 테스트 모드에 진입시키는 단계; b) 드라이버 콘트롤러에 의해 상기 테스트 모드에 진입된 반도체 칩의 내부의 모든 출력 드라이버 중 평가하고자 하는 일부 출력 드라이버를 선택적으로 동작시키는 단계; 및c) 상기 선택적으로 동작하는 일부 출력 드라이버의 출력을 하나의 테스트 프로브를 통해 테스트 기기로 측정함으로써 상기 일부 출력 드라이버의 각 출력 드라이버의 특성을 검증하는 단계를 포함하고,상기 각 출력 드라이버의 특성을 검증함에 있어서, 각 출력 드라이버로부터 출력된 측정 전류값과 기준 전류값을 비교하여 측정 전류값이 기준 전류값과 일치하지 않거나 측정 전류값이 기준 전류값의 허용 오차 범위를 초과할 경우, 해당 출력 드라이버를 불량으로 판정하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 출력 드라이버의 특성 검증 방법
5 5
삭제
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.