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오염 입자 검사를 위한 차동 영상 이미징 장치 및 측정 방법(Difference Imaging Apparatus For Inspection Of Particle Contaminants and Method of The Same)

  • 기술번호 : KST2017016627
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 암시야 조명 현미경 시스템 및 암시야 조명 현미경의 동작 방법을 제공한다. 본 발명의 일 실시예에 따른 암시야 현미경은 광학 박막에 의한 산란광을 관측한다. 상기 암시야 현미경의 동작 방법은 상기 광학 박막에 제1 조명광을 조사하고 상기 광학 박막으로부터 산란된 광을 수집하여 제1 조명 영상을 제공하는 단계; 상기 광학 박막에 상기 제1 조명광과 동일한 광경로를 통하여 제2 조명광을 조사하고 상기 광학 박막으로부터 산란된 광을 수집하여 제2 조명 영상을 제공하는 단계; 및 상기 제1 조명 영상과 상기 제2 조명 영상의 차이로 구성된 차동 영상을 제공하는 단계를 포함한다. 상기 제1 조명광은 상기 광학 박막에 대하여 투과광을 증가시키는 조건으로 선택되고, 상기 제2 조명광은 상기 광학 박막에 대하여 반사광을 증가시키는 조건으로 선택된다.
Int. CL G02B 21/00 (2016.05.28) G02B 21/24 (2016.05.28) G01N 21/88 (2016.05.28)
CPC G02B 21/0092(2013.01) G02B 21/0092(2013.01) G02B 21/0092(2013.01) G02B 21/0092(2013.01)
출원번호/일자 1020160049965 (2016.04.25)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0121491 (2017.11.02) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.04.25)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이재용 대한민국 충청북도 청주시 상당구
2 김종안 대한민국 대전광역시 유성구
3 김재완 대한민국 대전광역시 유성구
4 박주현 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 누리 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 **길 **-*(역삼동, IT빌딩 *층)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.04.25 수리 (Accepted) 1-1-2016-0394148-88
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2017.01.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.04.11 수리 (Accepted) 9-1-2017-0010966-02
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.06.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0455054-30
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.08.18 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0800155-01
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.08.18 수리 (Accepted) 1-1-2017-0800156-46
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.12.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0912227-85
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.02.12 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0149075-32
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.02.12 수리 (Accepted) 1-1-2018-0149077-23
10 등록결정서
Decision to grant
2018.07.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0514095-54
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
광학 박막에 의한 산란광을 관측하는 암시야 현미경의 동작 방법에 있어서,상기 광학 박막에 제1 조명광을 조사하고 상기 광학 박막으로부터 산란된 광을 수집하여 제1 조명 영상을 제공하는 단계;상기 광학 박막에 상기 제1 조명광과 동일한 광경로를 통하여 제2 조명광을 조사하고 상기 광학 박막으로부터 산란된 광을 수집하여 제2 조명 영상을 제공하는 단계; 및상기 제1 조명 영상과 상기 제2 조명 영상의 차이로 구성된 차동 영상을 제공하는 단계를 포함하고,상기 제1 조명광은 상기 광학 박막에 대하여 투과광을 증가시키는 조건으로 선택되고, 상기 제2 조명광은 상기 광학 박막에 대하여 반사광을 증가시키는 조건으로 선택되는 것을 특징으로 하는 암시야 조명 현미경의 동작 방법
2 2
제1 항에 있어서,상기 제1 조명광은 p 편광이고, 반사단 측으로 상쇄 간섭이 발생하는 제1 파장(λ1)을 구비하고,상기 제2 조명광은 s 편광이고, 반사단 측에서 보강 간섭이 발생하는 제2 파장(λ2)을 구비하는 것을 특징으로 하는 암시야 조명 현미경의 동작 방법
3 3
제2 항에 있어서,상기 제1 파장(λ1)은 다음의 조건을 만족하고,OPD= 2 nd cos(θt) = m λ1,여기서, n은 광학 박막의 굴절률이고, d는 상기 광학 박막의 두께이고, θt는 상기 제1 조명광의 굴절각이고,상기 제2 파장(λ2)은 다음의 조건을 OPD= 2 nd cos(θt) = (m ± 1/2) λ2,만족하는 것을 특징으로 하는 암시야 조명 현미경의 동작 방법
4 4
제1 항에 있어서,상기 제1 조명광 및 상기 제2 조명광은 브루스터 입사각 조건을 가지고,상기 제1 조명광은 p 편광이고,상기 제2 조명광은 s 편광이고,상기 제1 조명광의 파장(λ1)과 상기 제2 조명광의 파장은 동일하고 OPD= 2 nd cos(θt) = (m ± 1/2) λ1,조건을 만족하고,여기서, n은 광학 박막의 굴절률이고, d는 상기 광학 박막의 두께이고, θt는 상기 조명광의 굴절각인 것을 특징으로 하는 암시야 조명 현미경의 동작 방법
5 5
제1 항에 있어서,상기 제1 조명광은 s 편광이고, 반사단 측으로 상쇄 간섭이 발생하는 제1 파장(λ1)을 구비하고,상기 제2 조명광은 s 편광이고, 반사단 측에서 보강 간섭이 발생하는 제2 파장(λ2)을 구비하고,상기 제1 파장(λ1)은 다음의 조건을 만족하고,OPD= 2 nd cos(θt) = m λ1,여기서, n은 광학 박막의 굴절률이고, d는 상기 광학 박막의 두께이고, θt는 상기 제1 조명광의 굴절각이고,상기 제2 파장(λ2)은 다음의 조건을 OPD= 2 nd cos(θt) = (m ± 1/2) λ2,만족하는 것을 특징으로 하는 암시야 조명 현미경의 동작 방법
6 6
삭제
7 7
P 편광된 레이저 빔을 광학 박막에 제1 조명광으로 제공하는 제1 레이저 소스;S 편광된 레이저 빔을 상기 광학 박막에 제2 조명광으로 제공하는 제2 레이저 소스;상기 제1 레이저 소스의 출력단에 배치되어 빔을 개폐하는 제1 셔터;상기 제2 레이저 소스의 출력단에 배치되어 빔을 개폐하는 제2 셔터;상기 제1 레이저 소스의 빔과 제2 레이저 소스의 빔을 결합하여 출력하는 편광빔 분리기;상기 광학 박막을 장착하고 이동시키는 이송 스테이지;상기 광학 박막에서 산란된 광을 수집하여 촬상하는 암시야 현미경 촬상 시스템; 및상기 제1 조명광 하에서 촬상된 제1 조명 영상과 상기 제2 조명광 하에서 촬상된 제2 조명 영상의 차이로 구해진 차동 영상을 제공하는 영상 처리부를 포함하고,상기 제1 조명광은 상기 광학 박막에 대하여 투과도를 증가시키는 조건으로 선택되고, 상기 제2 조명광은 상기 광학 박막에 대하여 반사도를 증가시키는 조건으로 선택되고,상기 제1 조명광은 p 편광이고, 반사단 측으로 상쇄 간섭이 발생하는 제1 파장(λ1)을 구비하고,상기 제2 조명광은 s 편광이고, 반사단 측에서 보강 간섭이 발생하는 제2 파장(λ2)을 구비하는 것을 특징으로 하는 암시야 조명 현미경 시스템
8 8
제7 항에 있어서,상기 제1 파장(λ1)은 다음의 조건을 만족하고,OPD= 2 nd cos(θt) = m λ1,여기서, n은 광학 박막의 굴절률이고, d는 상기 광학 박막의 두께이고, θt는 상기 제1 조명광의 굴절각이고,상기 제2 파장(λ2)은 다음의 조건을 OPD= 2 nd cos(θt) = (m ± 1/2) λ2,만족하는 것을 특징으로 하는 암시야 조명 현미경 시스템
9 9
P 편광된 레이저 빔을 광학 박막에 제1 조명광으로 제공하는 제1 레이저 소스;S 편광된 레이저 빔을 상기 광학 박막에 제2 조명광으로 제공하는 제2 레이저 소스;상기 제1 레이저 소스의 출력단에 배치되어 빔을 개폐하는 제1 셔터;상기 제2 레이저 소스의 출력단에 배치되어 빔을 개폐하는 제2 셔터;상기 제1 레이저 소스의 빔과 제2 레이저 소스의 빔을 결합하여 출력하는 편광빔 분리기;상기 광학 박막을 장착하고 이동시키는 이송 스테이지;상기 광학 박막에서 산란된 광을 수집하여 촬상하는 암시야 현미경 촬상 시스템; 및상기 제1 조명광 하에서 촬상된 제1 조명 영상과 상기 제2 조명광 하에서 촬상된 제2 조명 영상의 차이로 구해진 차동 영상을 제공하는 영상 처리부를 포함하고,상기 제1 조명광 및 상기 제2 조명광은 브루스터 입사각 조건을 가지고상기 제1 조명광은 p 편광이고,상기 제2 조명광은 s 편광이고,상기 제1 조명광의 파장(λ1)과 상기 제2 조명광의 파장은 동일하고 OPD= 2 nd cos(θt) = (m ± 1/2) λ1,조건을 만족하고,여기서, n은 광학 박막의 굴절률이고, d는 상기 광학 박막의 두께이고, θt는 상기 조명광의 굴절각인 것을 특징으로 하는 암시야 조명 현미경 시스템
10 10
삭제
11 11
s 편광된 레이저 빔을 광학 박막에 제1 조명광으로 제공하는 제1 레이저 소스;s 편광된 레이저 빔을 상기 광학 박막에 제2 조명광으로 제공하는 제2 레이저 소스;상기 제1 레이저 소스의 출력단에 배치되어 빔을 개폐하는 제1 셔터;상기 제2 레이저 소스의 출력단에 배치되어 빔을 개폐하는 제2 셔터;상기 제1 레이저 소스의 빔과 제2 레이저 소스의 빔을 결합하여 출력하는 빔결합기;상기 광학 박막을 장착하고 이동시키는 이송 스테이지;상기 광학 박막에서 산란된 광을 수집하여 촬상하는 암시야 현미경 촬상 시스템; 및상기 제1 조명광 하에서 촬상된 제1 조명 영상과 상기 제2 조명광 하에서 촬상된 제2 조명 영상의 차이로 구해진 차동 영상을 제공하는 영상 처리부를 포함하고,상기 제1 조명광은 s 편광이고, 반사단 측으로 상쇄 간섭이 발생하는 제1 파장(λ1)을 구비하고,상기 제2 조명광은 s 편광이고, 반사단 측에서 보강 간섭이 발생하는 제2 파장(λ2)을 구비하고,상기 제1 파장(λ1)은 다음의 조건을 만족하고,OPD= 2 nd cos(θt) = m λ1,여기서, n은 광학 박막의 굴절률이고, d는 상기 광학 박막의 두께이고, θt는 상기 제1 조명광의 굴절각이고,상기 제2 파장(λ2)은 다음의 조건을 OPD= 2 nd cos(θt) = (m ± 1/2) λ2,만족하는 것을 특징으로 하는 암시야 조명 현미경 시스템
12 12
P 편광된 레이저 빔을 광학 박막에 제1 조명광으로 제공하는 제1 레이저 소스;S 편광된 레이저 빔을 상기 광학 박막에 제2 조명광으로 제공하는 제2 레이저 소스;상기 제1 레이저 소스의 출력단에 배치되어 빔을 개폐하는 제1 셔터;상기 제2 레이저 소스의 출력단에 배치되어 빔을 개폐하는 제2 셔터;상기 제1 레이저 소스의 빔과 제2 레이저 소스의 빔을 결합하여 출력하는 편광빔 분리기;상기 광학 박막을 장착하고 이동시키는 이송 스테이지;상기 광학 박막에서 산란된 광을 수집하여 촬상하는 암시야 현미경 촬상 시스템; 및상기 제1 조명광 하에서 촬상된 제1 조명 영상과 상기 제2 조명광 하에서 촬상된 제2 조명 영상의 차이로 구해진 차동 영상을 제공하는 영상 처리부를 포함하고,상기 제1 레이저 소스의 파장과 상기 제2 레이저 소스의 파장은 서로 다르고,상기 제1 조명광의 입사각 및 상기 제2 조명광의 입사각은 프레넬 반사계수가 충분히 크도록 브루스터 각 이상이고,상기 제1 조명광은 반사단에서 상쇄 간섭 조건을 충족하고,상기 제2 조명광은 반사단에서 보강 간섭 조건을 충족하는 것을 특징으로 하는 암시야 조명 현미경 시스템
13 13
P 편광된 레이저 빔을 광학 박막에 제1 조명광으로 제공하는 제1 레이저 소스;S 편광된 레이저 빔을 상기 광학 박막에 제2 조명광으로 제공하는 제2 레이저 소스;상기 제1 레이저 소스의 출력단에 배치되어 빔을 개폐하는 제1 셔터;상기 제2 레이저 소스의 출력단에 배치되어 빔을 개폐하는 제2 셔터;상기 제1 레이저 소스의 빔과 제2 레이저 소스의 빔을 결합하여 출력하는 편광빔 분리기;상기 광학 박막을 장착하고 이동시키는 이송 스테이지;상기 광학 박막에서 산란된 광을 수집하여 촬상하는 암시야 현미경 촬상 시스템; 및상기 제1 조명광 하에서 촬상된 제1 조명 영상과 상기 제2 조명광 하에서 촬상된 제2 조명 영상의 차이로 구해진 차동 영상을 제공하는 영상 처리부를 포함하고,상기 제1 레이저 소스의 파장과 상기 제2 레이저 소스의 파장은 서로 동일하고,상기 제1 조명광의 입사각 및 상기 제2 조명광의 입사각은 브루스터 각이고, 상기 제1 조명광은 반사단에서 프레넬 반사계수는 영인 조건을 만족하고,상기 제2 조명광은 반사단에서 보강 간섭 조건을 충족하는 것을 특징으로 하는 암시야 조명 현미경 시스템
14 14
s 편광된 레이저 빔을 광학 박막에 제1 조명광으로 제공하는 제1 레이저 소스;s 편광된 레이저 빔을 상기 광학 박막에 제2 조명광으로 제공하는 제2 레이저 소스;상기 제1 레이저 소스의 출력단에 배치되어 빔을 개폐하는 제1 셔터;상기 제2 레이저 소스의 출력단에 배치되어 빔을 개폐하는 제2 셔터;상기 제1 레이저 소스의 빔과 제2 레이저 소스의 빔을 결합하여 출력하는 빔결합기;상기 광학 박막을 장착하고 이동시키는 이송 스테이지;상기 광학 박막에서 산란된 광을 수집하여 촬상하는 암시야 현미경 촬상 시스템; 및상기 제1 조명광 하에서 촬상된 제1 조명 영상과 상기 제2 조명광 하에서 촬상된 제2 조명 영상의 차이로 구해진 차동 영상을 제공하는 영상 처리부를 포함하고,상기 제1 레이저 소스의 파장과 상기 제2 레이저 소스의 파장은 서로 다르고,상기 제1 조명광의 입사각 및 상기 제2 조명광의 입사각은 프레넬 반사계수가 충분히 큰 고입사각 조건이고, 상기 제1 조명광은 반사단에서 상쇄 간섭 조건을 만족하고,상기 제2 조명광은 상기 반사단에서 보강 간섭 조건을 충족하는 것을 특징으로 하는 암시야 조명 현미경 시스템
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 한국표준과학연구원 나노·소재기술개발 나노 안전성 향상을 위한 초고분해능 나노입자/생체세포 이미징 기술개발