맞춤기술찾기

이전대상기술

인접 시료의 구별이 가능한 마그네틱 파티클 이미지 검출 장치 및 방법(MAGNETIC PARTICLE IMAGE DETECTING APPARATUS FOR DISTINGUISHING OF ADJACENT SPECIMEN AND METHOD THEREOF)

  • 기술번호 : KST2017017021
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 인접 시료의 구별이 가능한 마그네틱 파티클 이미지 검출 장치 및 방법이 개시된다. 본 발명에 따른 인접 시료의 구별이 가능한 마그네틱 파티클 이미지 검출 장치는, 단면이 막대 형태인 보빈에 감긴 코일을 이용하여, 측정 시료의 형상 및 위치 중 적어도 어느 하나를 포함하는 시료 형상 정보를 측정하는 측정부, 상기 측정 시료의 시료 형상 정보를 측정하기 위하여, 상기 측정부를 이동시키는 구동부, 그리고 상기 측정부의 이동에 따라 측정된 복수의 상기 측정 시료들의 시료 형상 정보를 처리하여, 상기 측정 시료들을 구별하는 데이터 처리부를 포함한다.
Int. CL G01N 27/72 (2016.06.10) G01R 33/12 (2016.06.10) G01R 33/34 (2016.06.10)
CPC G01N 27/72(2013.01) G01N 27/72(2013.01) G01N 27/72(2013.01)
출원번호/일자 1020160053012 (2016.04.29)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0123845 (2017.11.09) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 20

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 김창범 대한민국 서울특별시 서초구
2 홍효봉 대한민국 대전광역시 유성구
3 임을균 대한민국 대전광역시 서구
4 최승민 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한양특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, 한양빌딩 (도곡동)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.04.29 수리 (Accepted) 1-1-2016-0415312-18
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
단면이 막대 형태인 보빈에 감긴 코일을 이용하여, 자성을 지닌 측정 시료의 형상 및 위치 중 적어도 어느 하나를 포함하는 시료 형상 정보를 측정하는 측정부, 상기 측정 시료의 시료 형상 정보를 측정하기 위하여, 상기 측정부를 이동시키는 구동부, 그리고 상기 측정부의 이동에 따라 측정된 복수의 상기 측정 시료들의 시료 형상 정보를 처리하여, 상기 측정 시료들을 구별하는 데이터 처리부를 포함하는 인접 시료의 구별이 가능한 마그네틱 파티클 이미지 검출 장치
2 2
제1항에 있어서, 상기 단면이 막대 형태인 보빈은, 상기 보빈 단면적의 길이 방향인 장축의 길이가 상기 보빈의 폭 방향인 단축의 길이보다 긴 것을 특징으로 하는 인접 시료의 구별이 가능한 마그네틱 파티클 이미지 검출 장치
3 3
제1항에 있어서, 상기 단면이 막대 형태인 보빈은, 여기자기장 영역을 연장하고, 상기 여기자기장 영역을 집중화하기 위한 금속판을 상기 보빈의 내부에 구비하는 것을 특징으로 하는 인접 시료의 구별이 가능한 마그네틱 파티클 이미지 검출 장치
4 4
제2항에 있어서, 상기 데이터 처리부는, 서로 다른 상기 측정 시료들 간 거리가 상기 단축의 길이보다 큰 경우, 상기 서로 다른 측정 시료들을 구별하는 것을 특징으로 하는 인접 시료의 구별이 가능한 마그네틱 파티클 이미지 검출 장치
5 5
제2항에 있어서, 상기 구동부는, 상기 측정부를 상기 측정 시료가 포함된 피검체를 중심으로 360도 회전하도록 이동시키는 것을 특징으로 하는 인접 시료의 구별이 가능한 마그네틱 파티클 이미지 검출 장치
6 6
제5항에 있어서, 상기 구동부는, 상기 측정부를 상기 피검체의 길이 방향으로 이동시키는 것을 특징으로 하는 인접 시료의 구별이 가능한 마그네틱 파티클 이미지 검출 장치
7 7
제2항에 있어서, 상기 구동부는, 상기 측정 시료가 포함된 피검체를 스캔하기 위하여, 상기 측정부를 상기 피검체를 중심으로 X축 방향 및 Y축 방향으로 번갈아가며 이동시키는 것을 특징으로 하는 인접 시료의 구별이 가능한 마그네틱 파티클 이미지 검출 장치
8 8
제2항에 있어서, 상기 데이터 처리부는, 상기 보빈의 단축 방향에 위치한 서로 다른 측정 시료들을 구별하는 것을 특징으로 하는 인접 시료의 구별이 가능한 마그네틱 파티클 이미지 검출 장치
9 9
제2항에 있어서, 상기 측정 시료의 시료 형상 정보를 기반으로 패턴을 인식하는 패턴 인식부를 더 포함하는 인접 시료의 구별이 가능한 마그네틱 파티클 이미지 검출 장치
10 10
제2항에 있어서, 상기 코일은, 검출 코일, 고주파 코일 및 저주파 코일 중 적어도 하나를 포함하며, 상기 검출 코일은, 상기 보빈의 내부에 상기 보빈의 형태에 상응하도록 형성되고, 상기 고주파 코일은, 상기 보빈의 외부에 상기 보빈의 형태에 상응하도록 형성되며,상기 저주파 코일은, 상기 고주파 코일의 가장자리에 형성되며, 상기 보빈의 형태에 상응하도록 형성된 것을 특징으로 하는 인접 시료의 구별이 가능한 마그네틱 파티클 이미지 검출 장치
11 11
인접 시료의 구별이 가능한 마그네틱 파티클 이미지 검출 장치에 의해 수행되는 마그네틱 파티클 이미지 검출 방법에 있어서, 측정 시료의 형상 및 위치 중 적어도 어느 하나를 포함하는 시료 형상 정보를 측정하기 위하여, 측정부를 이동시키는 단계, 상기 측정부에 구비된 단면이 막대 형태인 보빈에 감긴 코일을 이용하여, 측정 시료의 시료 형상 정보를 측정하는 단계, 그리고 측정된 복수의 상기 측정 시료들의 시료 형상 정보 처리하여, 상기 측정 시료들을 구별하는 단계를 포함하는 인접 시료의 구별이 가능한 마그네틱 파티클 이미지 검출 방법
12 12
제11항에 있어서, 상기 단면이 막대 형태인 보빈은, 상기 보빈 단면적의 길이 방향인 장축의 길이가 상기 보빈의 폭 방향인 단축의 길이보다 긴 것을 특징으로 하는 인접 시료의 구별이 가능한 마그네틱 파티클 이미지 검출 방법
13 13
제11항에 있어서, 상기 단면이 막대 형태인 보빈은, 여기자기장 영역을 연장하고, 상기 여기자기장 영역을 집중화하기 위한 금속판을 상기 보빈의 내부에 구비하는 것을 특징으로 하는 인접 시료의 구별이 가능한 마그네틱 파티클 이미지 검출 방법
14 14
제12항에 있어서, 상기 측정 시료들을 구별하는 단계는, 서로 다른 상기 측정 시료들 간 거리가 상기 단축의 길이보다 큰 경우, 상기 서로 다른 측정 시료들을 구별하는 것을 특징으로 하는 인접 시료의 구별이 가능한 마그네틱 파티클 이미지 검출 방법
15 15
제12항에 있어서, 상기 측정부를 이동시키는 단계는, 상기 측정부를 상기 측정 시료가 포함된 피검체를 중심으로 360도 회전하도록 이동시키는 단계를 포함하는 인접 시료의 구별이 가능한 마그네틱 파티클 이미지 검출 방법
16 16
제15항에 있어서, 상기 측정부를 이동시키는 단계는, 상기 측정부를 상기 피검체의 길이 방향으로 이동시키는 단계를 더 포함하는 인접 시료의 구별이 가능한 마그네틱 파티클 이미지 검출 방법
17 17
제12항에 있어서, 상기 측정부를 이동시키는 단계는, 상기 측정 시료가 포함된 피검체를 스캔하기 위하여, 상기 측정부를 상기 피검체를 중심으로 X축 방향 및 Y축 방향으로 번갈아가며 이동시키는 것을 특징으로 하는 인접 시료의 구별이 가능한 마그네틱 파티클 이미지 검출 방법
18 18
제12항에 있어서, 상기 측정 시료들을 구별하는 단계는, 상기 보빈의 단축 방향에 위치한 서로 다른 측정 시료들을 구별하는 것을 특징으로 하는 인접 시료의 구별이 가능한 마그네틱 파티클 이미지 검출 방법
19 19
제12항에 있어서, 상기 측정 시료의 시료 형상 정보를 기반으로 패턴을 인식하는 단계를 더 포함하는 인접 시료의 구별이 가능한 마그네틱 파티클 이미지 검출 방법
20 20
제12항에 있어서, 상기 코일은, 검출 코일, 고주파 코일 및 저주파 코일 중 적어도 하나를 포함하며, 상기 검출 코일은, 상기 보빈의 내부에 상기 보빈의 형태에 상응하도록 형성되고, 상기 고주파 코일은, 상기 보빈의 외부에 상기 보빈의 형태에 상응하도록 형성되며,상기 저주파 코일은, 상기 고주파 코일의 가장자리에 형성되며, 상기 보빈의 형태에 상응하도록 형성된 것을 특징으로 하는 인접 시료의 구별이 가능한 마그네틱 파티클 이미지 검출 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 한국전자통신연구원 한국전자통신연구원 연구개발지원사업 차세대 의료영상 이미징 시스템 개발