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실리콘 질화막의 증착 방법 및 상기 실리콘 질화막의 증착 장치(METHOD OF DEPOSITING SILICON NITRIDE FILM AND APPARATUS FOR DEPOSITING THE SILICON NITRIDE FILM)

  • 기술번호 : KST2017017123
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 질소-함유 반응 물질 또는 그의 플라즈마 및 질소 플라즈마 처리를 이용한 실리콘 질화막의 증착 방법 및 상기 실리콘 질화막의 제조 장치에 관한 것이다.
Int. CL C23C 16/448 (2006.01.01) C23C 16/455 (2006.01.01) C23C 16/56 (2006.01.01) C23C 16/34 (2006.01.01) C23C 8/36 (2018.01.01) C23C 16/458 (2006.01.01) C23C 16/54 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020170056450 (2017.05.02)
출원인 세종대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1968966-0000 (2019.04.09)
공개번호/일자 10-2017-0124108 (2017.11.09) 문서열기
공고번호/일자 (20190813) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020160053561   |   2016.04.29
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호 1020190022796;
심사청구여부/일자 Y (2017.05.02)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 세종대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 광진구 능동로 *** (군

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이원준 대한민국 서울특별시 마포구
2 박재민 대한민국 울산광역시 남구
3 유숩 루차나 라미에르자 인도네시아 서울특별시 광진구
4 노용호 대한민국 경기도 성남시 분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인엠에이피에스 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로*길 **, *층 (역삼동, 한동빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 세종대학교산학협력단 서울특별시 광진구 능동로 * (군
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.05.02 수리 (Accepted) 1-1-2017-0429976-10
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.04.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0272003-65
3 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2018.06.19 수리 (Accepted) 1-1-2018-0601790-40
4 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2018.07.19 수리 (Accepted) 1-1-2018-0714660-30
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.08.17 수리 (Accepted) 1-1-2018-0814312-80
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.08.17 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0814341-04
7 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2018.12.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0891084-49
8 [법정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
2019.01.25 수리 (Accepted) 1-1-2019-0091890-78
9 법정기간연장승인서
2019.01.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2019-0017766-94
10 면담 결과 기록서
2019.02.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2019-0012135-65
11 [분할출원]특허출원서
[Divisional Application] Patent Application
2019.02.26 수리 (Accepted) 1-1-2019-0203328-80
12 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.02.26 수리 (Accepted) 1-1-2019-0203322-17
13 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2019.02.26 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2019-0203325-43
14 등록결정서
Decision to Grant Registration
2019.04.03 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0244308-18
15 [명세서등 보정]보정서(심사관 직권보정)
2019.07.26 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-5020790-07
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
(a) 기재 상에 실리콘 전구체를 공급하여 상기 실리콘 전구체를 상기 기재 상에 흡착시키는 단계; (b) 상기 기재 상에 질소-함유 반응 물질을 공급하여 상기 기재 상에 수소 함유-실리콘 질화막을 형성하는 단계; 및,(c) 상기 수소 함유-실리콘 질화막 상에 질소 플라즈마 처리를 수행하여 상기 수소 함유-실리콘 질화막 표면의 수소 함량을 감소시킴으로써 실리콘 질화막을 형성하는 단계를 포함하는, 실리콘 질화막의 증착 방법으로서,상기 실리콘 전구체는 클로라이드계 실리콘 전구체, 아미드(amide)계 실리콘 전구체 및 이들의 조합들로 이루어진 군으로 선택되는 것을 포함하며, 상기 클로라이드계 실리콘 전구체는 수소를 포함하지 않거나, 수소를 포함하는 경우 클로라이드의 개수가 수소의 개수와 동일하거나 더 많은 것이고,상기 질소-함유 반응 물질은 NH3, RxNH3-x, N2H4, RxN2H4-x, 및 이들의 조합들로 이루어진 군으로부터 선택되는 것을 포함하는 것이며, 이때 상기 R은 C1-20의 알킬기를 포함하는 것이고, x는 0 내지 4의 정수인 것이고,상기 수소 함유-실리콘 질화막의 표면은 NH/SiH 또는 NH/SiNH2으로 이루어지는 것이고,상기 수소 함유-실리콘 질화막의 표면의 NH/SiH 또는 NH/SiNH2은 상기 질소 플라즈마 처리에 의해 003e#Si=N으로 전환되어 실리콘 질화막이 형성되는 것이고,단, 상기 (a) 단계와 상기 (b) 단계 사이에 플라즈마 처리된 수소 가스를 공급하지 않는 것인,실리콘 질화막의 증착 방법
2 2
제 1 항에 있어서,상기 각 단계를 반복 수행하는 것을 포함하는 것인, 실리콘 질화막의 증착 방법
3 3
제 1 항에 있어서,상기 각 단계의 전 또는 후에 증착 챔버를 퍼지하는 것을 추가 포함하는, 실리콘 질화막의 증착 방법
4 4
삭제
5 5
제 1 항에 있어서,상기 실리콘 전구체는 SiH2Cl2, SiHCl3, SiCl4, Si2Cl6, Si3Cl8, Si4Cl10, RxSiCl4-x(0003c#x003c#4인 정수), RxSi2Cl6-x(0003c#x003c#6인 정수), RxSi3Cl8-x(0003c#x003c#8인 정수), RxSi4Cl10-x(0003c#x003c#10인 정수), H2Si[N(C2H5)2]2(BTBAS), SiH2[N(C2H5)2]2(BDEAS), SiH[N(CH3)2]3(TDMAS), SiH3[N(C3H7)2](DIPAS), SiH3[N(CH3)2](DMAS), SiH3[N(CH3C2H5)](EMAS), SiH3[N(C2H5)2](DEAS), (R1R2N)nSiH4-n(0003c#n003c#4인 정수), (R1R2R3Si)nNH3-n(0003c#n003c#3인 정수), (R1R2R3Si)nNxHy(n003e#0, x003e#0, 및 y003e#0인 정수), ((CH3)3Si)2N(SiH(CH3)N(CH3)2) [(dimethylaminomethylsilyl)bis(trimethylsilyl)amine], (CH3)3SiN(SiH(CH3)N(CH3)2)2 [bis(dimethylaminomethylsilyl)(trimethylsilyl)amine], C4H17NSi3[Bis(dimethylsilyl)silylamine], (((CH3)2N)SiH(CH3))3N) [tris(dimethylamino)(methylsilyl)amine], C7H25N3Si3 [Bis(dimethylaminomethylsilyl)(methylsilyl)amine], 링구조를 가지는 C8H22N2Si2(1,3-di-isopropylamino-2,4-dimethylcyclosilazane), C6H18N2Si2(1,2,2,3,4,4-hexamethyl-1,3,2,4-diazadisiletidine), 알콕사이드, Si(C2H5O)4, Si(NCO)4, SiH4, 및 Si(II) 전구체로서 1,4-다이-아이소프로필-1,3-다이아자부타디엔 실리콘(1,4-di-isopropyl-1,3-diazabutadiene silicon), 1,4-다이-메틸-1,3-다이아자부타디엔 실리콘(1,4-di-methyl-1,3-diazabutadiene silicon), 1,4-다이-에틸-1,3-다이아자부타디엔 실리콘(1,4-di-ethyl-1,3-diazabutadiene silicon), 1,4-다이-아이소프로필-1,3-다이다이아자부타디엔 실리콘(1,4-di-isopropyl-1,3-didiazabutadiene silicon), 1,4-다이-부틸-1,3-다이아자부타디엔 실리콘(1,4-di-butyl-1,3-diazabutadiene silicon), 1,4-다이-아자-부탄-1,4-다이-터트-부틸-2,2-다이-메틸 실리콘(1,4-di-aza-butane-1,4-di-tert-butyl-2,2-di-methyl silicon), 4-터트-부틸-1,4-다이-아자-부탄-3,3-다이-메틸-1-에틸 실리콘(4-tert-butyl-1,4-di-aza-butane-3,3-di-methyl-1-ethyl silicon), (R1NCH=CHNR2)Si(II), (R1NR2NR3)Si(II), 및 이들의 조합들로 이루어진 군로 이루어진 군으로부터 선택되는 실리콘 전구체이며, 여기서 상기 R은 각각 독립적으로 수소, C1-20의 선형 또는 분지형의 알킬기, C3-20의 불포화 또는 방향족 고리기인 것인, 실리콘 질화막의 증착 방법
6 6
삭제
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 질소-함유 반응 물질은 플라즈마 상(phase)으로 주입되는 것인, 실리콘 질화막의 증착 방법
8 8
제 1 항에 있어서, 상기 질소 플라즈마는 0
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10 10
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13 13
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15 15
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20 20
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21 21
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22 22
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1 KR1020190022605 KR 대한민국 FAMILY

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 KR20190022605 KR 대한민국 DOCDBFAMILY
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