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아킹 제어된 이온빔 소스(ion beam source with arcing suppression)

  • 기술번호 : KST2017018107
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 제1음극; 상기 제1음극을 둘러싸며, 상기 제1음극과 사이에 이온빔 인출부를 형성하는 제2음극; 상기 이온빔 인출부 하부에서 제1음극 및 제2음극 사이에 이격되도록 배치된 양극을 포함하며, 상기 양극이 자성체로 이루어진 아킹이 제어된 이온빔 소스에 관한 것이다. 또한, 본 발명은 제1음극; 상기 제1음극을 둘러싸며, 상기 제1음극과 사이에 이온빔 인출부를 형성하는 제2음극; 상기 이온빔 인출부 하부에서 제1음극 및 제2음극 사이에 이격되도록 배치된 양극을 포함하며, 상기 제1음극 및 제2음극의 내부에 자성체가 구비되는 아킹이 제어된 이온빔 소스에 관한 것이다. 상기 본 발명에 따른 아킹이 제어된 선형 이온빔 소스는 이온빔 소스 내에서 플라즈마 분포를 제어하여 상기 플라즈마에 의한 절연체 표면 축전을 저감함으로써, 아크방전, 절연체의 손상 및 불순물 발생을 감소시키는 기능이 구현되어 방전 안정성 및 수명을 증가시킬 수 있다.
Int. CL H01J 27/02 (2016.07.13) H01J 27/08 (2016.07.13) H01J 37/08 (2016.07.13) H01F 7/02 (2016.07.13) H01F 7/06 (2016.07.13) H01F 1/147 (2016.07.13)
CPC H01J 27/022(2013.01) H01J 27/022(2013.01) H01J 27/022(2013.01) H01J 27/022(2013.01) H01J 27/022(2013.01) H01J 27/022(2013.01)
출원번호/일자 1020160069479 (2016.06.03)
출원인 한국기계연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0137986 (2017.12.14) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.06.03)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국기계연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이승훈 대한민국 경상남도 창원시 성산구
2 김도근 대한민국 경상남도 창원시 성산구
3 정성훈 대한민국 경상남도 창원시 성산구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인이지 대한민국 서울특별시 금천구 가산디지털*로 ***(가산동, KCC웰츠밸리) ***-***

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국기계연구원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.06.03 수리 (Accepted) 1-1-2016-0538472-00
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2017.06.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.07.11 수리 (Accepted) 9-1-2017-0022991-69
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.08.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0593362-91
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2017.10.11 수리 (Accepted) 1-1-2017-0976696-16
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.10.20 1-1-2017-1039170-69
7 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2017.10.20 불수리 (Non-acceptance) 1-1-2017-1039082-49
8 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2017.10.20 수리 (Accepted) 1-1-2017-1038951-32
9 서류반려이유통지서
Notice of Reason for Return of Document
2017.11.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2017-0156812-09
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.11.23 수리 (Accepted) 1-1-2017-1170761-27
11 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.11.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-1170780-95
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.11.28 수리 (Accepted) 4-1-2017-5193093-72
13 서류반려통지서
Notice for Return of Document
2017.12.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2017-0179965-58
14 면담 결과 기록서
2017.12.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0183793-73
15 보정의취하간주안내문
2017.12.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2017-0185638-29
16 등록결정서
Decision to grant
2018.04.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0229592-26
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제1음극;상기 제1음극을 둘러싸며, 상기 제1음극과 사이에 이온빔 인출부를 형성하는 제2음극;상기 이온빔 인출부 하부에서 제1음극 및 제2음극 사이에 이격되도록 배치된 양극을 포함하며, 상기 양극이 자성체로 이루어지고,상기 제1음극과 상기 제2음극이 마주보는 벽면 내측에 구비되고, 제1음극 및 제2음극의 상면보다 높게 돌출된 형태인, 절연층을 더 포함하며,상기 제1음극 및 상기 제2음극은 상면이 외부로 노출된 형태인, 아킹이 제어된 이온빔 소스
2 2
제1음극;상기 제1음극을 둘러싸며, 상기 제1음극과 사이에 이온빔 인출부를 형성하는 제2음극;상기 이온빔 인출부 하부에서 제1음극 및 제2음극 사이에 이격되도록 배치된 제1양극 및 제2양극을 포함하며,상기 제1양극 및 제2양극의 하부에 자성체가 구비되고,상기 제1음극과 상기 제2음극이 마주보는 벽면 내측에 구비되고, 제1음극 및 제2음극의 상면보다 높게 돌출된 형태인, 절연층을 더 포함하며,상기 제1음극 및 상기 제2음극은 상면이 외부로 노출된 형태인, 아킹이 제어된 이온빔 소스
3 3
제2항에 있어서,상기 제2음극의 외측에 구비되는 자성체를 더 포함하는 아킹이 제어된 이온빔 소스
4 4
제2항에 있어서,상기 자성체는 전자석 코일 또는 영구자석인 아킹이 제어된 이온빔 소스
5 5
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 자성체에 의해 상기 이온빔 인출부와 상기 양극 사이의 공간에 형성되는 방전 영역 내 자기장이 우물형으로 형성되는 아킹이 제어된 이온빔 소스
6 6
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,상기 자성체는 Fe, Ni, Cr, Co, Si, 마르텐사이트계 스테인리스 스틸 및 이의 혼합물로부터 선택되는 것인 아킹이 제어된 이온빔 소스
7 7
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,상기 자성체의 투자율(permeability, μr)은 1 내지 30000인 아킹이 제어된 이온빔 소스
8 8
삭제
9 9
삭제
10 10
삭제
11 11
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,상기 이온빔 형성을 위해 제1양극 및 제2양극에 인가되는 방전개시전압은 2kV 이하인 아킹이 제어된 이온빔 소스
12 12
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,상기 이온빔 소스의 운전압력이 0
13 13
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,상기 이온빔 소스의 자기 거울 비율이 1 내지 20인 아킹이 제어된 이온빔 소스
14 14
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,상기 이온빔 형성을 위해 제1양극 및 제2양극에 인가되는 방전전압이 1 kHz 내지 13
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 한국기계연구원 부설 재료연구소 주요사업 에너지 소자용 기판 연속 플라즈마처리 기술(2/3)