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메모리 관리 시스템 및 그 방법(Memory management system and method thereof)

  • 기술번호 : KST2018000207
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 메모리 관리 시스템 및 그 방법을 개시한다. 즉, 본 발명은 메모리의 결함을 복구하는 시스템에서 제한된 스페어 셀을 물리 영역과 가상 영역에 대해 최적으로 분배(또는 할당)함으로써, 메모리 칩의 수율을 높일 수 있다.
Int. CL G06F 11/14 (2016.08.09) G11C 29/00 (2016.08.09)
CPC G06F 11/1402(2013.01) G06F 11/1402(2013.01)
출원번호/일자 1020160086017 (2016.07.07)
출원인 고려대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2018-0005844 (2018.01.17) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.07.07)
심사청구항수 32

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김선욱 대한민국 경기도 남양주시 도농로 **,
2 김호권 대한민국 경기도 성남시 분당구
3 전재영 대한민국 서울특별시 강동구
4 최규현 대한민국 서울특별시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 전종학 대한민국 서울특별시 강남구 논현로 ***, 성지*차빌딩 **층 대표:****호 경은국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 서울특별시 성북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2016.07.07 수리 (Accepted) 1-1-2016-0657495-52
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2017.01.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2017.07.04 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0107610-77
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2018.02.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0112713-55
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2018.04.13 수리 (Accepted) 1-1-2018-0369715-59
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2018.04.13 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0369695-23
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2018.08.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0587175-08
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2018.10.25 수리 (Accepted) 1-1-2018-1054740-15
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2018.10.25 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-1054731-15
10 등록결정서
Decision to grant		 2019.02.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0149049-36
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5210941-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
물리적으로 고정된 셀의 집합으로 구성된 물리 영역(PX)을 위한 제 1 스페어 셀(spare cell)과 해싱을 이용하여 논리적으로 재구성된 가상 영역(VY)을 위한 제 2 스페어 셀이 존재하며, 결함을 상기 물리 영역의 제 1 스페어 셀 또는 상기 가상 영역의 제 2 스페어 셀로 복구(repair)하는 메모리 관리 방법에 있어서,분석 장치를 통해, 상기 물리 영역(PX)에서 가상 영역의 결함 컬럼의 개수를 고려하여 스페어 로우(spare row)의 주소로 결함 주소를 대체하여 결함을 복구하는 단계; 및상기 분석 장치를 통해, 상기 가상 영역(VY)에서 스페어 컬럼(spare column)의 주소로 결함 주소를 대체하여 결함을 복구하는 단계를 포함하는 메모리 관리 방법
2 2
물리적으로 고정된 셀의 집합으로 구성된 물리 영역(PX)을 위한 제 1 스페어 셀과 해싱을 이용하여 논리적으로 재구성된 가상 영역(VY)을 위한 제 2 스페어 셀이 존재하며, 결함을 상기 물리 영역의 제 1 스페어 셀 또는 상기 가상 영역의 제 2 스페어 셀로 복구하는 메모리 관리 방법에 있어서,분석 장치를 통해, 상기 가상 영역에서 물리 영역의 결함 컬럼의 개수를 고려하여 우선적으로 결함을 복구하는 단계를 포함하는 메모리 관리 방법
3 3
제 2 항에 있어서,상기 가상 영역에서 우선적으로 결함을 복구하는 단계는,상기 분석 장치를 통해, 상기 물리 영역(PX) 및 가상 영역(VY)과 관련한 결함 정보 관리 테이블을 생성하는 단계;상기 분석 장치를 통해, 상기 결함 정보 관리 테이블에 포함된 각 가상 영역에서 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AY)와 각 가상 영역에서 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CY)의 차(AY-CY)가 최대값을 갖는 제 1 가상 영역(VQ)을 선택하는 단계;상기 분석 장치를 통해, 상기 선택된 제 1 가상 영역(VQ)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AQ)가 상기 제 1 가상 영역(VQ)에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CQ)보다 작거나 같은지 여부를 확인하는 단계; 및상기 확인 결과, 상기 선택된 제 1 가상 영역(VQ)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AQ)가 상기 제 1 가상 영역(VQ)에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CQ)보다 클 때, 상기 분석 장치를 통해, 스페어 컬럼만으로는 복구가 불가능한 상태로 판단하여, 스페어 로우로 복구하기 위해서, 상기 제 1 가상 영역(VQ)에서, 모든 물리 영역(PX)에 대해 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 미리 설정된 0보다 큰 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 존재하는지 여부를 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 관리 방법
4 4
제 3 항에 있어서,상기 결함 정보 관리 테이블은,상기 물리 영역(PX)과 상기 가상 영역(VY)에 대해서, 결함 개수(fX,Y), 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX), 상기 각 가상 영역에서 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CY) 및 상기 각 가상 영역에서 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AY)의 관계를 나타내는 것을 특징으로 하는 메모리 관리 방법
5 5
제 3 항에 있어서,상기 확인 결과, 상기 선택된 제 1 가상 영역(VQ)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AQ)가 상기 제 1 가상 영역(VQ)에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CQ)보다 작거나 같을 때, 상기 분석 장치를 통해, 결함 복구가 성공적으로 완료된 것으로 확인하고, 결함 복구 완료 시점에서의 상기 가상 영역과 관련한 K 비트의 위치 정보, 상기 가상 영역과 관련한 M+N-K 비트의 위치 정보 및 스페어 셀의 할당 결과에 따른 결함 주소를 상기 가상 영역에 대응하는 저장 매체 내의 물리 영역과 가상 영역으로 관리되는 결함 주소 저장 공간에 저장하고, 전체 과정을 종료하는 단계를 더 포함하며,상기 K 비트의 위치 정보의 값과 상기 M+N-K 비트의 위치 정보의 값은 벡터 형태로 구성되며, 각 비트의 위치를 가상 기본영역의 키 값에 대응하는 '0'과, 가상 서브영역의 키 값에 대응하는 '1'로 구성하며,상기 M, N 및 K는 자연수이고, 상기 K는 M+N보다 작거나 같은 것을 특징으로 하는 메모리 관리 방법
6 6
제 3 항에 있어서,상기 판단 결과, 상기 모든 물리 영역(PX)에 대해 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 미리 설정된 0보다 큰 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 존재하지 않을 때, 상기 분석 장치를 통해, 결함 복구가 실패한 것으로 판단하고, 전체 과정을 종료하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 관리 방법
7 7
제 3 항에 있어서,사용 가능한 스페어 로우가 없으면서 각 가상 영역에서 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AY)와 각 가상 영역에서 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CY)의 차(AY-CY)가 최대값을 가지는 가상 영역 VY의 AY 값이 CY 값을 초과할 때, 상기 분석 장치를 통해, 결함 복구가 실패한 것으로 판단하고, 전체 과정을 종료하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 관리 방법
8 8
제 3 항에 있어서,상기 판단 결과, 상기 모든 물리 영역(PX)에 대해 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 미리 설정된 0보다 큰 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 존재할 때, 상기 분석 장치를 통해, 상기 제 1 가상 영역(VQ)의 모든 물리 영역(PX)에 대해서, (PX,VQ)에 결함이 있고, 상기 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 최대인 물리 영역(PA)을 하나 선택하는 단계;상기 분석 장치를 통해, 상기 선택된 물리 영역(PA)에 대응하는 (PA, VQ)에서 상기 선택된 제 1 가상 영역(VQ)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AQ)를 최대로 감소시킬 수 있는 로우를 확인하는 단계;상기 분석 장치를 통해, 상기 선택된 물리 영역(PA)에 대응하는 (PA, VQ)의 (fA,Q)의 값을 스페어 로우를 통해 복구될 수 있는 결함의 개수만큼 감소시키는 단계;상기 분석 장치를 통해, 상기 선택된 물리 영역(PA)에 대응하는 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AQ)를 상기 스페어 로우를 통해 복구될 수 있어 결함 복구가 필요없는 컬럼의 개수만큼 감소시키는 단계;상기 분석 장치를 통해, 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RA)를 사용한 스페어 로우의 개수만큼 감소시키는 단계; 및상기 분석 장치를 통해, 상기 각 가상 영역에서 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AY)와 각 가상 영역에서 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CY)의 차(AY-CY)가 최대값을 갖는 제 1 가상 영역(VQ)을 선택하는 과정으로 복귀하여, 스페어 로우를 할당하는 과정을 상기 선택된 제 1 가상 영역(VQ)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AQ)가 상기 제 1 가상 영역(VQ)에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CQ)보다 작거나 같을 때까지 반복 수행하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 관리 방법
9 9
제 2 항에 있어서,상기 가상 영역에서 우선적으로 결함을 복구하는 단계는,상기 분석 장치를 통해, 물리 영역 및 가상 영역과 관련한 결함 정보 관리 테이블을 생성하는 단계;상기 분석 장치를 통해, 상기 결함 정보 관리 테이블에 포함된 각 가상 영역에서 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AY)와 각 가상 영역에서 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CY)의 차이 값(AY-CY)을 각각 연산하는 단계;상기 분석 장치를 통해, 상기 연산된 차이 값(AY-CY)을 근거로 상기 연산된 차이 값(AY-CY) 및 상기 차이 값(AY-CY)에 대응하는 가상 영역(VY)을 정렬하는 단계;상기 분석 장치를 통해, 상기 정렬된 순서대로, 결함이 복구되지 않은 제 2 가상 영역(VD)을 선택하는 단계;상기 분석 장치를 통해, 상기 선택된 제 2 가상 영역(VD)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AD)가 해당 제 2 가상 영역(VD)에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CD)보다 작거나 같은지 여부를 1차로 확인하는 단계; 및상기 1차 확인 결과, 상기 선택된 제 2 가상 영역(VD)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AD)가 해당 제 2 가상 영역(VD)에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CD)보다 클 때, 상기 분석 장치를 통해, 스페어 컬럼만으로는 복구가 불가능한 상태로 판단하여, 스페어 로우로 복구하기 위해서, 상기 제 2 가상 영역(VD)에서, 모든 물리 영역(PX)에 대해 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 미리 설정된 0보다 큰 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 존재하는지 여부를 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 관리 방법
10 10
제 9 항에 있어서,상기 결함 정보 관리 테이블은,상기 물리 영역(PX)과 상기 가상 영역(VY)에 대해서, 결함 개수(fX,Y), 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX), 상기 각 가상 영역에서 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CY) 및 상기 각 가상 영역에서 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AY)의 관계를 나타내는 것을 특징으로 하는 메모리 관리 방법
11 11
제 9 항에 있어서,상기 판단 결과, 상기 모든 물리 영역(PX)에 대해 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 미리 설정된 0보다 큰 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 존재할 때, 상기 분석 장치를 통해, 상기 제 2 가상 영역(VD)의 모든 물리 영역(PX)에 대해서, (PX,VD)에 결함이 있고, 상기 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 최대인 물리 영역(PA)을 하나 선택하는 단계;상기 분석 장치를 통해, 상기 선택된 물리 영역(PA)에 대응하는 (PA, VD)에서 상기 선택된 제 2 가상 영역(VD)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AD)를 최대로 감소시킬 수 있는 로우를 확인하는 단계;상기 분석 장치를 통해, 상기 선택된 물리 영역(PA)에 대응하는 (PA, VD)의 (fA,D)의 값을 스페어 로우를 통해 복구될 수 있는 결함의 개수만큼 감소시키는 단계;상기 분석 장치를 통해, 상기 선택된 물리 영역(PA)에 대응하는 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AD)를 상기 스페어 로우를 통해 복구될 수 있어 결함 복구가 필요없는 컬럼의 개수만큼 감소시키는 단계;상기 분석 장치를 통해, 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RA)를 사용한 스페어 로우의 개수만큼 감소시키는 단계; 및상기 분석 장치를 통해, 상기 선택된 제 2 가상 영역(VD)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AD)가 상기 제 2 가상 영역(VD)에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CD)보다 작거나 같은지 여부를 1차로 확인하는 과정으로 복귀하여, 상기 선택된 제 2 가상 영역(VD)에 대해서 상기 스페어 로우를 할당하는 과정을 상기 선택된 제 2 가상 영역(VD)에 대해서 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AD)가 상기 제 2 가상 영역(VD)에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CD)보다 작거나 같을 때까지 반복 수행하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 관리 방법
12 12
제 9 항에 있어서,상기 판단 결과, 상기 모든 물리 영역(PX)에 대해 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 미리 설정된 0보다 큰 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 존재하지 않을 때, 상기 분석 장치를 통해, 결함 복구가 실패한 것으로 판단하고, 전체 과정을 종료하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 관리 방법
13 13
제 9 항에 있어서,상기 1차 확인 결과, 상기 선택된 제 2 가상 영역(VD)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AD)가 해당 제 2 가상 영역(VD)에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CD)보다 작거나 같을 때, 상기 분석 장치를 통해, 모든 가상 영역(VY)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AY)가 해당 모든 가상 영역(VY)에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CY)보다 작거나 같은지 여부를 2차로 확인하는 단계;상기 2차 확인 결과, 상기 모든 가상 영역(VY)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AY)가 해당 모든 가상 영역(VY)에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CY)보다 작거나 같을 때, 상기 분석 장치를 통해, 결함 복구가 성공적으로 완료된 것으로 확인하고, 해당 결함 복구 완료 시점에서의 해당 가상 영역과 관련한 K 비트의 위치 정보, 해당 가상 영역과 관련한 M+N-K 비트의 위치 정보 및 해당 스페어 셀의 할당 결과에 따른 결함 주소를 상기 가상 영역에 대응하는 저장 매체 내의 물리 영역과 가상 영역으로 관리되는 결함 주소 저장 공간에 저장하고, 전체 과정을 종료하는 단계;상기 2차 확인 결과, 상기 모든 가상 영역(VY)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AY)가 해당 모든 가상 영역(VY)에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CY)보다 클 때, 상기 분석 장치를 통해, 상기 정렬된 제 2 가상 영역(VD) 중에서 결함이 복구되지 않은 다음 순서의 가상 영역을 선택하는 단계를 더 포함하며,상기 K 비트의 위치 정보의 값과 상기 M+N-K 비트의 위치 정보의 값은 벡터 형태로 구성되며, 각 비트의 위치를 가상 기본영역의 키 값에 대응하는 '0'과, 가상 서브영역의 키 값에 대응하는 '1'로 구성하며,상기 M, N 및 K는 자연수이고, 상기 K는 M+N보다 작거나 같은 것을 특징으로 하는 메모리 관리 방법
14 14
제 9 항에 있어서,사용 가능한 스페어 로우가 없으면서 각 가상 영역에서 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AY)와 각 가상 영역에서 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CY)의 차(AY-CY)가 최대값을 가지는 가상 영역 VY의 AY 값이 CY 값을 초과할 때, 상기 분석 장치를 통해, 결함 복구가 실패한 것으로 판단하고, 전제 과정을 종료하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 관리 방법
15 15
물리적으로 고정된 셀의 집합으로 구성된 물리 영역(PX)을 위한 위한 제 1 스페어 셀과 해싱을 이용하여 논리적으로 재구성된 가상 영역(VY)을 위한 제 2 스페어 셀이 존재하며, 결함을 상기 물리 영역의 제 1 스페어 셀 또는 상기 가상 영역의 제 2 스페어 셀로 복구하는 메모리 관리 시스템에 있어서,상기 물리 영역 및 상기 가상 영역과 관련한 결함 정보 관리 테이블을 저장하는 저장 매체; 및상기 가상 영역에서 물리 영역의 결함 컬럼의 개수를 고려하여 우선적으로 결함을 복구하는 분석 장치를 포함하는 메모리 관리 시스템
16 16
제 15 항에 있어서,상기 분석 장치는,물리 영역 및 가상 영역과 관련한 결함 정보 관리 테이블을 생성하고, 상기 결함 정보 관리 테이블에 포함된 각 가상 영역에서 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AY)와 각 가상 영역에서 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CY)의 차(AY-CY)가 최대값을 갖는 제 1 가상 영역(VQ)을 선택하고, 상기 선택된 제 1 가상 영역(VQ)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AQ)가 상기 제 1 가상 영역(VQ)에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CQ)보다 작거나 같은지 여부를 확인하고, 상기 확인 결과, 상기 선택된 제 1 가상 영역(VQ)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AQ)가 상기 제 1 가상 영역(VQ)에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CQ)보다 클 때, 상기 제 1 가상 영역(VQ)에서, 모든 물리 영역(PX)에 대해 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 미리 설정된 0보다 큰 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 존재하는지 여부를 판단하는 것을 특징으로 하는 메모리 관리 시스템
17 17
제 15 항에 있어서,상기 결함 정보 관리 테이블은,상기 물리 영역(PX)과 상기 가상 영역(VY)에 대해서, 결함 개수(fX,Y), 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX), 상기 각 가상 영역에서 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CY) 및 상기 각 가상 영역에서 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AY)의 관계를 나타내는 것을 특징으로 하는 메모리 관리 시스템
18 18
제 16 항에 있어서,상기 분석 장치는,상기 확인 결과, 상기 선택된 제 1 가상 영역(VQ)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AQ)가 상기 제 1 가상 영역(VQ)에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CQ)보다 작거나 같을 때, 결함 복구가 성공적으로 완료된 것으로 확인하고, 결함 복구 완료 시점에서의 상기 가상 영역과 관련한 K 비트의 위치 정보, 상기 가상 영역과 관련한 M+N-K 비트의 위치 정보 및 스페어 셀의 할당 결과에 따른 결함 주소를 상기 가상 영역에 대응하는 저장 매체 내의 물리 영역과 가상 영역으로 관리되는 결함 주소 저장 공간에 저장하고, 전체 과정을 종료하며,상기 K 비트의 위치 정보의 값과 상기 M+N-K 비트의 위치 정보의 값은 벡터 형태로 구성되며, 각 비트의 위치를 가상 기본영역의 키 값에 대응하는 '0'과, 가상 서브영역의 키 값에 대응하는 '1'로 구성하며,상기 M, N 및 K는 자연수이고, 상기 K는 M+N보다 작거나 같은 것을 특징으로 하는 메모리 관리 시스템
19 19
제 16 항에 있어서,상기 분석 장치는,상기 판단 결과, 상기 모든 물리 영역(PX)에 대해 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 미리 설정된 0보다 큰 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 존재하지 않을 때, 결함 복구가 실패한 것으로 판단하고, 전체 과정을 종료하는 것을 특징으로 하는 메모리 관리 시스템
20 20
제 15 항에 있어서,상기 분석 장치는,사용 가능한 스페어 로우가 없으면서 각 가상 영역에서 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AY)와 각 가상 영역에서 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CY)의 차(AY-CY)가 최대값을 가지는 가상 영역 VY의 AY 값이 CY 값을 초과할 때, 결함 복구가 실패한 것으로 판단하고, 전체 과정을 종료하는 것을 특징으로 하는 메모리 관리 시스템
21 21
제 16 항에 있어서,상기 분석 장치는,상기 판단 결과, 상기 모든 물리 영역(PX)에 대해 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 미리 설정된 0보다 큰 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 존재할 때, 상기 제 1 가상 영역(VQ)의 모든 물리 영역(PX)에 대해서, (PX,VQ)에 결함이 있고, 상기 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 최대인 물리 영역(PA)을 하나 선택하고, 상기 선택된 물리 영역(PA)에 대응하는 (PA, VQ)에서 상기 선택된 제 1 가상 영역(VQ)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AQ)를 최대로 감소시킬 수 있는 로우를 확인하고, 상기 선택된 물리 영역(PA)에 대응하는 (PA, VQ)의 (fA,Q)의 값을 스페어 로우를 통해 복구될 수 있는 결함의 개수만큼 감소시키고, 상기 선택된 물리 영역(PA)에 대응하는 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AQ)를 상기 스페어 로우를 통해 복구될 수 있어 결함 복구가 필요없는 컬럼의 개수만큼 감소시키고, 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RA)를 사용한 스페어 로우의 개수만큼 감소시키고, 상기 각 가상 영역에서 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AY)와 각 가상 영역에서 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CY)의 차(AY-CY)가 최대값을 갖는 제 1 가상 영역(VQ)을 선택하는 과정으로 복귀하여, 스페어 로우를 할당하는 과정을 상기 선택된 제 1 가상 영역(VQ)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AQ)가 상기 제 1 가상 영역(VQ)에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CQ)보다 작거나 같을 때까지 반복 수행하는 것을 특징으로 하는 메모리 관리 시스템
22 22
물리적으로 고정된 셀의 집합으로 구성된 물리 영역(PX)을 위한 제 1 스페어 셀과 해싱을 이용하여 논리적으로 재구성된 가상 영역(VY)을 위한 제 2 스페어 셀이 존재하며, 결함을 상기 물리 영역의 제 1 스페어 셀 또는 상기 가상 영역의 제 2 스페어 셀로 복구(repair)하는 메모리 관리 방법에 있어서,분석 장치를 통해, 상기 물리 영역(PX)에서 가상 영역의 결함 컬럼의 개수를 고려하여 우선적으로 결함을 복구하는 단계를 포함하는 메모리 관리 방법
23 23
제 22 항에 있어서,상기 물리 영역에서 우선적으로 결함을 복구하는 단계는,상기 분석 장치를 통해, 물리 영역 및 가상 영역과 관련한 결함 정보 관리 테이블을 생성하는 단계;상기 분석 장치를 통해, 상기 결함 정보 관리 테이블에 포함된 각 가상 영역에서 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AY)와 각 가상 영역에서 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CY)의 차(AY-CY)가 최대값을 갖는 제 1 가상 영역(VQ)을 선택하는 단계;상기 분석 장치를 통해, 모든 물리 영역(PX)에 대해 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 미리 설정된 0보다 큰 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 존재하는지 여부를 판단하는 단계; 및상기 판단 결과, 상기 모든 물리 영역(PX)에 대해 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 미리 설정된 0보다 큰 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 존재하지 않을 때, 상기 분석 장치를 통해, 모든 가상 영역에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AY)가 상기 가상 영역에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CY)보다 작거나 같은지 여부를 확인하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 관리 방법
24 24
제 23 항에 있어서,상기 확인 결과, 상기 모든 가상 영역에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AY)가 상기 가상 영역에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CY)보다 작거나 같을 때, 상기 분석 장치를 통해, 결함 복구가 성공적으로 완료된 것으로 확인하고, 결함 복구 완료 시점에서의 상기 가상 영역과 관련한 K 비트의 위치 정보, 상기 가상 영역과 관련한 M+N-K 비트의 위치 정보 및 스페어 셀의 할당 결과에 따른 결함 주소를 상기 가상 영역에 대응하는 저장 매체 내의 물리 영역과 가상 영역으로 관리되는 결함 주소 저장 공간에 저장하고, 전체 과정을 종료하는 단계를 더 포함하며,상기 K 비트의 위치 정보의 값과 상기 M+N-K 비트의 위치 정보의 값은 벡터 형태로 구성되며, 각 비트의 위치를 가상 기본영역의 키 값에 대응하는 '0'과, 가상 서브영역의 키 값에 대응하는 '1'로 구성하며,상기 M, N 및 K는 자연수이고, 상기 K는 M+N보다 작거나 같은 것을 특징으로 하는 메모리 관리 방법
25 25
제 23 항에 있어서,상기 확인 결과, 상기 모든 가상 영역에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AY)가 상기 가상 영역에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CY)보다 클 때, 상기 분석 장치를 통해, 상기 가상 영역(VY)에서의 사용 가능한 스페어 로우만으로는 복구가 불가능한 상태로 판단하여, 결함 복구가 실패한 것으로 판단하고, 전체 과정을 종료하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 관리 방법
26 26
제 23 항에 있어서,상기 판단 결과, 모든 물리 영역(PX)에 대해 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 미리 설정된 0보다 큰 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 존재할 때, 상기 분석 장치를 통해, 상기 가상 영역의 모든 물리 영역(PX)에 대해서), (PX,VQ)에 결함이 있고, 상기 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 최대인 물리 영역(PA)을 하나 선택하는 단계;상기 분석 장치를 통해, 상기 선택된 물리 영역(PA)에 대응하는 (PA, VQ)에서 상기 선택된 제 1 가상 영역(VQ)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AQ)를 최대로 감소시킬 수 있는 로우를 확인하는 단계;상기 분석 장치를 통해, 상기 선택된 물리 영역(PA)에 대응하는 (PA, VQ)의 (fA,Q)의 값을 스페어 로우를 통해 복구될 수 있는 결함의 개수만큼 감소시키는 단계;상기 분석 장치를 통해, 상기 선택된 물리 영역(PA)에 대응하는 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AQ)를 상기 스페어 로우를 통해 복구될 수 있어 결함 복구가 필요없는 컬럼의 개수만큼 감소시키는 단계;상기 분석 장치를 통해, 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RA)를 사용한 스페어 로우의 개수만큼 감소시키는 단계; 및상기 분석 장치를 통해, 상기 각 가상 영역에서 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AY)와 각 가상 영역에서 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CY)의 차(AY-CY)가 최대값을 갖는 제 1 가상 영역(VQ)을 선택하는 과정으로 복귀하여, 상기 스페어 로우를 할당하는 과정을 모든 물리 영역(PX)에 대해 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 미리 설정된 0보다 큰 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 0일 때까지 반복 수행하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 관리 방법
27 27
제 22 항에 있어서,상기 물리 영역에서 우선적으로 결함을 복구하는 단계는,상기 분석 장치를 통해, 물리 영역 및 가상 영역과 관련한 결함 정보 관리 테이블을 생성하는 단계;상기 분석 장치를 통해, 상기 결함 정보 관리 테이블에 포함된 각 가상 영역에서 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AY)와 각 가상 영역에서 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CY)의 차이 값(AY-CY)을 각각 연산하는 단계;상기 분석 장치를 통해, 상기 연산된 차이 값(AY-CY)을 근거로 상기 연산된 차이 값(AY-CY) 및 상기 차이 값(AY-CY)에 대응하는 가상 영역(VY)을 정렬하는 단계;상기 분석 장치를 통해, 상기 정렬된 순서대로, 결함이 복구되지 않은 제 2 가상 영역(VD)을 선택하는 단계;상기 분석 장치를 통해, 상기 선택된 제 2 가상 영역(VD)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AD)가 해당 제 2 가상 영역(VD)에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CD)보다 작거나 같은지 여부를 1차로 확인하는 단계;상기 1차 확인 결과, 상기 선택된 제 2 가상 영역(VD)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AD)가 해당 제 2 가상 영역(VD)에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CD)보다 클 때, 상기 분석 장치를 통해, 스페어 컬럼만으로는 복구가 불가능한 상태로 판단하여, 스페어 로우로 복구하기 위해서, 상기 제 2 가상 영역(VD)에서, 모든 물리 영역(PX)에 대해 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 미리 설정된 0보다 큰 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 존재하는지 여부를 1차로 판단하는 단계;상기 1차 판단 결과, 상기 모든 물리 영역(PX)에 대해 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 미리 설정된 0보다 큰 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 존재할 때, 상기 분석 장치를 통해, 상기 제 2 가상 영역(VD)의 모든 물리 영역(PX)에 대해서, (PX,VD)에 결함이 있고, 상기 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 최대인 물리 영역(PA)을 하나 선택하는 단계; 및상기 분석 장치를 통해, 상기 선택된 물리 영역(PA)에 대응하는 (PA, VD)에서 상기 선택된 제 2 가상 영역(VD)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AD)를 최대로 감소시킬 수 있는 로우를 확인하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 관리 방법
28 28
제 27 항에 있어서,상기 결함 정보 관리 테이블은,상기 물리 영역(PX)과 상기 가상 영역(VY)에 대해서, 결함 개수(fX,Y), 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX), 상기 각 가상 영역에서 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CY) 및 상기 각 가상 영역에서 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AY)의 관계를 나타내는 것을 특징으로 하는 메모리 관리 방법
29 29
제 27 항에 있어서,상기 분석 장치를 통해, 상기 선택된 물리 영역(PA)에 대응하는 (PA, VD)의 (fA,D)의 값을 스페어 로우를 통해 복구될 수 있는 결함의 개수만큼 감소시키는 단계;상기 분석 장치를 통해, 상기 선택된 물리 영역(PA)에 대응하는 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AD)를 상기 스페어 로우를 통해 복구될 수 있어 결함 복구가 필요없는 컬럼의 개수만큼 감소시키는 단계;상기 분석 장치를 통해, 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RA)를 사용한 스페어 로우의 개수만큼 감소시키는 단계; 및상기 분석 장치를 통해, 상기 선택된 제 2 가상 영역(VD)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AD)가 상기 제 2 가상 영역(VD)에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CD)보다 작거나 같은지 여부를 1차로 확인하는 과정으로 복귀하여, 상기 선택된 제 2 가상 영역(VD)에 대해서 상기 스페어 로우를 할당하는 과정을 상기 선택된 제 2 가상 영역(VD)에 대해서 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AD)가 상기 제 2 가상 영역(VD)에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CD)보다 작거나 같을 때까지 반복 수행하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 관리 방법
30 30
제 27 항에 있어서,상기 1차 판단 결과, 상기 모든 물리 영역(PX)에 대해 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 미리 설정된 0보다 큰 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 존재하지 않을 때, 상기 분석 장치를 통해, 결함 복구가 실패한 것으로 판단하고, 전체 과정을 종료하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 관리 방법
31 31
제 27 항에 있어서,상기 1차 확인 결과, 상기 선택된 제 2 가상 영역(VD)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AD)가 해당 가상 영역(VD)에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CD)보다 작거나 같을 때, 상기 분석 장치를 통해, 모든 가상 영역(VY)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AY)가 해당 모든 가상 영역(VY)에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CY)보다 작거나 같은지 여부를 2차로 확인하는 단계;상기 2차 확인 결과, 모든 가상 영역(VY)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AY)가 해당 가상 영역(VY)에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CY)보다 작거나 같을 때, 상기 분석 장치를 통해, 모든 물리 영역(PX)에 대해 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 미리 설정된 0보다 큰 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 존재하는지 여부를 2차로 판단하는 단계;상기 2차 판단 결과, 상기 모든 물리 영역(PX)에 대해 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 미리 설정된 0보다 큰 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 존재할 때, 상기 분석 장치를 통해, 상기 정렬된 순서대로, 결함이 복구되지 않은 다음 순서의 제 2 가상 영역(VD)을 선택하는 단계;상기 2차 판단 결과, 상기 모든 물리 영역(PX)에 대해 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 미리 설정된 0보다 큰 각 물리 영역에서 사용 가능한 스페어 로우의 개수(RX)가 존재하지 않을 때, 상기 분석 장치를 통해, 결함 복구가 성공적으로 완료된 것으로 확인하고, 해당 결함 복구 완료 시점에서의 해당 가상 영역과 관련한 K 비트의 위치 정보, 해당 가상 영역과 관련한 M+N-K 비트의 위치 정보 및 해당 스페어 셀의 할당 결과에 따른 결함 주소를 상기 가상 영역에 대응하는 저장 매체 내의 물리 영역과 가상 영역으로 관리되는 결함 주소 저장 공간에 저장하고, 전체 과정을 종료하는 단계; 및상기 2차 확인 결과, 제 2 가상 영역(VD)에서의 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AD)가 해당 제 2 가상 영역(VD)에서의 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CD)보다 클 때, 상기 분석 장치를 통해, 상기 정렬된 모든 가상 영역(VY) 중에서 결함이 복구되지 않은 가상 영역(VD)을 선택하는 과정으로 복귀하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 관리 방법
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제 27 항에 있어서,사용 가능한 스페어 로우가 없으면서 각 가상 영역에서 복구되지 않고 결함이 있는 컬럼의 개수(AY)와 각 가상 영역에서 사용 가능한 스페어 컬럼의 개수(CY)의 차(AY-CY)가 최대값을 가지는 가상 영역 VY의 AY 값이 CY 값을 초과할 때, 상기 분석 장치를 통해, 결함 복구가 실패한 것으로 판단하고, 전제 과정을 종료하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 관리 방법
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