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스캐닝 마이크로 미러(SCANNING MICROMIRROR)

  • 기술번호 : KST2018000842
  • 담당센터 : 인천기술혁신센터
  • 전화번호 : 032-420-3580
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 이하, 스캐닝 마이크로 미러가 개시된다. 일 실시예에 따른 스캐닝 마이크로 미러는, 기판, 상기 기판과 연결되고, 외부 코일이 구비된 외부 김블, 상기 외부 김블과 연결되고, 내부 코일이 구비된 내부 김블, 상기 내부 김블과 연결되고, 일 측면에 반사면이 형성되는 미러 및 상기 기판 밑에 배치되는 자석 어셈블리를 포함할 수 있고, 상기 내부 김블 및 상기 미러 사이에 복수의 가닥으로 형성된 스프링이 마련되고, 상기 복수의 가닥이 상기 스프링의 길이 방향의 축을 기준으로 대칭을 이룰 수 있다.
Int. CL G02B 26/08 (2016.08.30) G02B 26/10 (2016.08.30)
CPC G02B 26/085(2013.01) G02B 26/085(2013.01)
출원번호/일자 1020160088522 (2016.07.13)
출원인 이화여자대학교 산학협력단, 주식회사 센플러스
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2018-0007468 (2018.01.23) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.07.13)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 이화여자대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구
2 주식회사 센플러스 대한민국 경기 수원시 영통구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 지창현 대한민국 서울특별시 서초구
2 부종욱 대한민국 경기도 성남시 분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 무한 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(역삼동,화물재단빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 이화여자대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구
2 주식회사 센플러스 경기 수원시 영통구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.07.13 수리 (Accepted) 1-1-2016-0677567-10
2 보정요구서
Request for Amendment
2016.07.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2016-0107759-04
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2016.07.26 수리 (Accepted) 1-1-2016-0724792-68
4 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2017.07.04 수리 (Accepted) 1-1-2017-0639458-96
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.08.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0559794-14
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.09.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0948028-36
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.09.27 수리 (Accepted) 1-1-2017-0948027-91
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.02.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0133541-35
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.04.18 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0384207-74
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.04.18 수리 (Accepted) 1-1-2018-0384206-28
11 등록결정서
Decision to grant
2018.06.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0375695-66
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번호 청구항
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자석 어셈블리;상기 자석 어셈블리 위에 배치되고, 제1 축에 관하여 회전 가능한 미러;상기 미러에 연결되고, 일 측면 상에 내부 코일이 형성된 내부 김블; 및상기 내부 김블을 지지하고, 일 측면 상에 외부 코일이 형성되고, 제2 축에 관하여 회전 가능한 외부 김블;을 포함하고,상기 자석 어셈블리는, 상기 외부 코일 및 상기 내부 코일과 전자계를 형성하고,상기 내부 김블의 관성 모멘트가 조절되도록 상기 내부 김블의 일 측의 두께가 상기 미러에 연결되는 상기 내부 김블의 타 측의 두께보다 얇게 상기 내부 김블의 일 측이 식각되는, 스캐닝 마이크로 미러
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제6항에 있어서,상기 내부 김블 및 상기 미러 사이에 복수의 가닥으로 형성된 스프링이 마련되고, 상기 복수의 가닥이 상기 스프링의 길이 방향의 축을 기준으로 대칭을 이루는, 스캐닝 마이크로 미러
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제6항에 있어서,상기 자석 어셈블리는,폴 피스;상기 폴 피스 위에 배치되고, 상기 폴 피스의 중앙부에 극성이 교번하도록 배열된 내부 자석; 및상기 내부 자석에 인접하게 상기 폴 피스 위에 배치되고, 상기 내부 자석의 극성과 교번하도록 배열된 외부 자석;을 포함하고,상기 자석 어셈블리는, 상기 내부 자석 및 상기 외부 자석으로부터 형성된 자기장의 방향이 상기 제1 축 또는 상기 제2 축에 대해 각을 이루도록 배열되는, 스캐닝 마이크로 미러
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제8항에 있어서,상기 미러의 중심과 상기 내부 코일 사이의 거리는 상기 내부 자석의 간격보다 더 큰, 스캐닝 마이크로 미러
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2 US2018017783 US 미국 DOCDBFAMILY
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1 산업통상자원부 (주)센플러스 SW융합형부품기술개발사업 3DHD급영상을위한스마트피코프로젝터부품및엔진개발
2 교육부 이화여자대학교 산학협력단 일반연구자지원사업-기본연구 스캐닝LIDAR센서용2축구동스캐닝마이크로미러원천기술개발