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MULTI-BLOCK LUT 기반 디지털 전치 왜곡 방법 및 시스템(METHOD AND SYSYEM FOR PERFORMING DIGITAL PREDISTORTION TECHNIQUE BASED ON MULTI-BLOCK LUT)

기술번호 : KST2018002369
담당센터 : 서울동부기술혁신센터
전화번호 : 02-2155-3662

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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약	Multi-Block(MB) LUT 기반 디지털 전치 왜곡 계수의 추정 방법은, 전력 증폭기의 입력 및 출력 데이터를 추출하는 단계, 상기 추출한 입력 및 출력 데이터를 기반으로 후치 왜곡기 연산을 통해 역함수 계수를 추정하는 단계, 상기 추정한 역함수 계수를 후치 왜곡기LUT에 저장하는 단계 및 상기 후치 왜곡기 LUT에 저장된 역함수 계수를 전치 왜곡기의 LUT 전치 왜곡 계수로 반영하는 단계를 포함하고, 상기 역함수 계수를 추정하는 단계는, 전력 증폭기의 블록 크기만큼의 입력 및 출력 데이터를 이용하여 추정하되, 추정되지 못한 역함수 계수가 존재하는 경우, 선형 보간(Linear Interpolation)기법을 적용하여 역특성 계수를 추정할 수 있다.
Int. CL	H03F 1/32 (2006.01.01) H03F 3/24 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자	1020170106321 (2017.08.22)
출원인	건국대학교 산학협력단
등록번호/일자	10-1970784-0000 (2019.04.15)
공개번호/일자	10-2018-0022596 (2018.03.06) 문서열기
공고번호/일자	(20190422) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보	대한민국 \| 1020160107643 \| 2016.08.24
법적상태	등록
심사진행상태	수리
심판사항
구분	신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자	Y (2017.08.22)
심사청구항수	10

출원인

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번호	이름	국적	주소
1	건국대학교 산학협력단	대한민국	서울특별시 광진구

발명자

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번호	이름	국적	주소
1	김준태	대한민국	서울특별시 강남구
2	손예슬	대한민국	경기도 수원시 장안구
3	김현준	대한민국	서울특별시 중구

대리인

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번호	이름	국적	주소
1	유민규	대한민국	서울특별시 강남구 논현로 *** , 층 **호 (역삼동, 여산빌딩)(온유특허법률사무소)
2	박기갑	대한민국	서울특별시 강남구 논현로 **(역삼동) 여산빌딩 층 ***호(온유특허법률사무소)

최종권리자

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번호	이름	국적	주소
1	건국대학교 산학협력단		서울특별시 광진구

번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호	서류명	접수/발송일자	처리상태	접수/발송번호
1	[특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application	2017.08.22	수리 (Accepted)	1-1-2017-0812992-14
2	의견제출통지서 Notification of reason for refusal	2019.01.30	발송처리완료 (Completion of Transmission)	9-5-2019-0074149-67
3	[거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)	2019.03.28	수리 (Accepted)	1-1-2019-0317664-01
4	[명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment	2019.03.28	보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment)	1-1-2019-0317666-92
5	등록결정서 Decision to grant	2019.04.12	발송처리완료 (Completion of Transmission)	9-5-2019-0266485-96

번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호	청구항
1	1 Multi-Block(MB) LUT 기반 디지털 전치 왜곡 계수의 추정 방법에 있어서,전력 증폭기의 입력 및 출력 데이터를 추출하는 단계;상기 추출한 입력 및 출력 데이터를 기반으로 후치 왜곡기 연산을 통해 역함수 계수를 추정하는 단계;상기 추정한 역함수 계수를 후치 왜곡기LUT에 저장하는 단계; 및상기 후치 왜곡기 LUT에 저장된 역함수 계수를 전치 왜곡기의 LUT 전치 왜곡 계수로 반영하는 단계;를 포함하고,상기 역함수 계수를 추정하는 단계는,전력 증폭기의 블록 크기만큼의 입력 및 출력 데이터를 이용하여 추정하되, 추정되지 못한 역함수 계수가 존재하는 경우, 선형 보간(Linear Interpolation)기법을 적용하여 역함수 계수를 추정하고,상기 역함수 계수를 추정하는 단계는,제 1 반복(Iteration)일 경우, 제 1 블록에 대한 역함수 계수를 전력 증폭기의 입력 및 출력 데이터를 이용하여 추정하고, 제 2 반복일 경우, 제 2 블록에 대한 역함수 계수를 상기 전력 증폭기의 입력 및 출력 데이터를 이용하여 추정하되, 상기 제 1 반복에서 추정된 제1블록의 계수와 상기 전력 증폭기의 입력 및 출력 데이터를 이용하여 추정된 제2블록의 계수의 가중치를 두어 제 2 블록에 대한 역함수 계수를 추정하는 것인, 디지털 전치 왜곡 계수의 추정 방법
2	2 제 1 항에 있어서,상기 역함수 계수를 추정하는 단계는,상기 제 1 반복에서 생성되지 못한 제1블록에 대한 LUT 전치 왜곡 계수가 존재하는 경우, 선형 보간 기법을 적용하여 역함수 계수를 추정하는 것인, 디지털 전치 왜곡 계수의 추정 방법
3	3 삭제
4	4 제 1 항에 있어서, 상기 역함수 계수를 추정하는 단계는,제 N반복일 경우, 제N 블록에 대한 역함수 계수를 상기 전력 증폭기의 입력 및 출력 데이터를 이용하여 추정하되, 제 N-1반복부터 제N-M반복까지 추정된 제N-1블록의 계수 내지 제N-M블록의 계수와 상기 전력 증폭기의 입력 및 출력 데이터를 이용하여 추정된 제N블록의 계수의 가중치를 두어 제 N 블록에 대한 역함수 계수를 추정하고,상기 N은 3 이상인 자연수이고, 상기 M은 1 이상이고 N보다 작은 자연수인 것인, 디지털 전치 왜곡 계수의 추정 방법
5	5 제 4항에 있어서,상기 N-1블록의 계수에서 상기 N-M블록의 계수로 갈수록 가중치가 작아지는 것인, 디지털 전치 왜곡 계수의 추정 방법
6	6 Multi-Block(MB) LUT 기반 디지털 전치 왜곡 시스템에 있어서,입력 신호를 증폭하는 전력증폭기;상기 입력 신호를 입력받으며 상기 전력증폭기로 연결되고, 후치 왜곡기에서 생성한 LUT(Lookup Table)를 사용하여 상기 입력 신호를 전치 왜곡하는 전치 왜곡기; 및상기 전치 왜곡기를 통과한 신호 및 상기 전력 증폭기를 통과한 신호에 기반하여, 역함수 계수를 추정하여 LUT를 생성하는 후치 왜곡기;를 포함하되, 상기 후치 왜곡기는, 상기 전력 증폭기의 블록 크기 만큼의 입력 및 출력 데이터를 이용하여 역함수 계수를 추정하되, 추정되지 못한 역함수 계수가 존재하는 경우, 선형 보간(Linear Interpolation)기법을 적용하여 역함수 계수를 추정하고, 제 1 반복(Iteration)일 경우, 제 1 블록에 대한 역함수 계수를 전력 증폭기의 입력 및 출력 데이터를 이용하여 추정하고, 제 2 반복일 경우, 제 2 블록에 대한 역함수 계수를 상기 전력 증폭기의 입력 및 출력 데이터를 이용하여 추정하되, 상기 제 1 반복에서 추정된 제1블록의 계수와 상기 전력 증폭기의 입력 및 출력 데이터를 이용하여 추정된 제2블록의 계수의 가중치를 두어 제 2 블록에 대한 역함수 계수를 추정하는 것인, 디지털 전치 왜곡 시스템
7	7 제 6항에 있어서,상기 후치 왜곡기는, 전력 증폭기의 입력 및 출력 데이터를 추출하는 추출부;상기 추출한 입력 및 출력 데이터를 기반으로 역함수 계수를 추정하는 추정부;상기 추정한 역함수 계수를 상기 후치 왜곡기 LUT에 저장하는 저장부;상기 후치 왜곡기 LUT에 저장된 역함수 계수를 전치 왜곡기의 LUT 전치 왜곡 계수로 반영하는 반영부;를 포함하는 것인, 디지털 전치 왜곡 시스템
8	8 제 6항에 있어서,상기 후치 왜곡기는, 상기 제 1 반복에서 생성되지 못한 제1블록에 대한 LUT 전치 왜곡 계수가 존재하는 경우, 선형 보간 기법을 적용하여 역함수 계수를 추정하는 것인, 디지털 전치 왜곡 시스템
9	9 삭제
10	10 제 6 항에 있어서, 상기 후치 왜곡기는, 제 N반복일 경우, 제N 블록에 대한 역함수 계수를 상기 전력 증폭기의 입력 및 출력 데이터를 이용하여 추정하되, 제 N-1반복부터 제N-M반복까지 추정된 제N-1블록의 계수 내지 제N-M블록의 계수와 상기 전력 증폭기의 입력 및 출력 데이터를 이용하여 추정된 제N블록의 계수의 가중치를 두어 제 N 블록에 대한 역함수 계수를 추정하고,상기 N은 3 이상인 자연수이고, 상기 M은 1 이상이고 N보다 작은 자연수인 것인, 디지털 전치 왜곡 시스템
11	11 제10항에 있어서,상기 N-1블록의 계수에서 상기 N-M블록의 계수로 갈수록 가중치가 작아지는 것인, 디지털 전치 왜곡 시스템
12	12 제1항, 제2항, 제4항 및 제5항 중 어느 한 항의 방법을 컴퓨터에서 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체

순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번	연구부처	주관기관	연구사업	연구과제
1	미래창조과학부	서울여자대학교 산학협력단	정보통신 방송 연구개발 사업	네트워크가 결합된 매체 독립형 차세대 융합방송 시스템 및 모니터링 시스템 개발

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데이터 이관에 따른 소요기간(1일)으로 인하여 등록원부와 일부 차이가 발생할 수 있으며, 일부 정보(부기, 상세 주소 등)를 제공하지 않고 있습니다.
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특허 등록번호	10-1970784-0000

권리란

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표시번호	사항
1	출원 연월일 : 20170822 출원 번호 : 1020170106321 공고 연월일 : 20190422 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20190412 청구범위의 항수 : 10 유별 : H03F 1/32 발명의 명칭 : MULTI-BLOCK LUT 기반 디지털 전치 왜곡 방법 및 시스템 존속기간(예정)만료일 :

특허권자란

순위번호, 사항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 등록사항 > 특허권자란 표입니다.
순위번호	사항
1	(권리자) 건국대학교 산학협력단 서울특별시 광진구...

등록료란

순위번호, 사항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 등록사항 > 등록료란 표입니다.
제 1 - 3 년분	금 액	217,500 원	2019년 04월 16일	납입

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번호	서류명	접수/발송일자	처리상태	접수/발송번호
1	[특허출원]특허출원서	2017.08.22	수리 (Accepted)	1-1-2017-0812992-14
2	의견제출통지서	2019.01.30	발송처리완료 (Completion of Transmission)	9-5-2019-0074149-67
3	[거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서	2019.03.28	수리 (Accepted)	1-1-2019-0317664-01
4	[명세서등 보정]보정서	2019.03.28	보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment)	1-1-2019-0317666-92
5	등록결정서	2019.04.12	발송처리완료 (Completion of Transmission)	9-5-2019-0266485-96

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