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III-V족 화합물의 결정구조를 이용하여 식각 속도를 향상시키기 위한 반도체 소자의 제조 방법으로서,제1 기판상에 결정면 방향별로 상이한 식각 속도를 갖는 III-V족 화합물을 포함하는 희생층을 형성하는 단계; 상기 희생층상에 소자층을 형성하는 단계; 상기 희생층 및 상기 소자층을, 상기 희생층의 상기 III-V족 화합물의 결정면 방향에 기초하여 결정되는 제1 방향을 따라 연장되는 부분을 가지는 형상으로 패터닝하는 단계; 패터닝된 상기 소자층을 제2 기판상에 접합하는 단계; 및 상기 희생층 및 상기 제1 기판을 제거하기 위하여, 상기 소자층이 상기 제2 기판상에 접합된 상태에서 식각 용액을 이용하여 상기 희생층을 식각하는 단계를 포함하는 에피택셜 리프트오프에 의한 반도체 소자의 제조 방법
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제 1항에 있어서,상기 제1 방향은 상기 희생층의 상기 III-V족 화합물의 식각 속도가 가장 빠른 격자 방향과 직교하는 방향인 에피택셜 리프트오프에 의한 반도체 소자의 제조 방법
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제 1항에 있어서,상기 희생층을 식각하는 단계는, 상기 희생층의 측면을 상기 제1 방향과 직교하는 제2 방향으로부터 식각하는 단계를 포함하는 에피택셜 리프트오프에 의한 반도체 소자의 제조 방법
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제 1항에 있어서,상기 희생층의 상기 III-V족 화합물은 (100) 결정면을 가지며, 상기 제1 방향은 003c#001003e# 격자 방향인 에피택셜 리프트오프에 의한 반도체 소자의 제조 방법
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제 1항에 있어서,상기 희생층의 상기 III-V족 화합물은 (110) 결정면을 가지며, 상기 제1 방향은 003c#-100003e# 격자 방향인 에피택셜 리프트오프에 의한 반도체 소자의 제조 방법
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제 1항에 있어서, 상기 식각 용액은 불화수소(HF) 및 탈이온수를 포함하는 에피택셜 리프트오프에 의한 반도체 소자의 제조 방법
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제 6항에 있어서, 상기 식각 용액에서 불화수소(HF) 및 탈이온수의 부피 비율은 1:3인 에피택셜 리프트오프에 의한 반도체 소자의 제조 방법
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제 1항에 있어서, 상기 희생층을 형성하는 단계 전에, 상기 제1 기판상에 에치스톱층을 형성하는 단계를 더 포함하는 에피택셜 리프트오프에 의한 반도체 소자의 제조 방법
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제 1항에 있어서, 상기 제1 기판은 III-V족 화합물을 포함하며, 상기 희생층은 에피택시 성장 방식으로 상기 제1 기판상에 형성되는 에피택셜 리프트오프에 의한 반도체 소자의 제조 방법
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제 1항에 있어서, 상기 제2 기판은 실리콘(Si)을 포함하는 에피택셜 리프트오프에 의한 반도체 소자의 제조 방법
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