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피진단체 내의 타겟 위치로 이온 빔을 주입하는 것;상기 피진단체 내에 주입된 상기 이온 빔의 브래그 피크 위치를 측정하는 것; 및상기 측정된 브래그 피크 위치를 이용하여 상기 타겟 위치를 조절하는 것을 포함하되,상기 브래그 피크 위치를 측정하는 것은, 상기 피진단체 내에 생성되는 미세 기포의 위치를 측정하는 것을 포함하는 이온 빔을 이용하는 치료 방법
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제 1 항에 있어서,상기 이온 빔을 주입하는 것과 상기 브래그 피크 위치를 측정하는 것은 동시에 수행되는 이온 빔을 이용하는 치료 방법
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제 1 항에 있어서,상기 타겟 위치를 조절하는 것은, 상기 측정된 브래그 피크 위치를 기준으로 상기 이온 빔의 주입 방향 및 세기 중 적어도 하나를 조절하는 것을 포함하는 이온 빔을 이용하는 치료 방법
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제 1 항에 있어서,상기 브래그 피크 위치를 측정하는 것은:상기 피진단체 내로 X선을 주입하는 것;상기 X선으로부터 상기 피진단체의 X선 영상을 획득하는 것; 및상기 X선 영상으로부터 상기 이온 빔 내에 생성된 상기 미세 기포의 위치를 측정하는 것을 포함하는 이온 빔을 이용하는 치료 방법
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제 4 항에 있어서,상기 X선 영상은 X선 위상차 영상, X선 감산 영상, X선 위상차 감산 영상, 및 X선 단층 영상 중 적어도 하나인 이온 빔을 이용하는 치료 방법
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제 4 항에 있어서,상기 이온 빔과 상기 X선은 상기 피진단체 내의 상기 타겟 위치로 주입되되, 상기 피진단체를 향하는 상기 이온 빔의 주입 방향과 상기 피진단체를 향하는 상기 X선의 주입 방향은 서로 중첩되지 않는 이온 빔을 이용하는 치료 방법
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제 4 항에 있어서,상기 이온 빔을 주입하는 것과 상기 X선을 주입하는 것은 상기 피진단체를 기준으로 회전되며 수행되는 이온 빔을 이용하는 치료 방법
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제 4 항에 있어서,상기 미세 기포의 직경은 약 수백 Å 내지 수백 um인 이온 빔을 이용하는 치료 방법
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피진단체 내로 이온 빔을 주입하는 것;상기 이온 빔이 주입되는 상기 피진단체 내로 X선을 주입하는 것;상기 X선으로부터 상기 피진단체의 X선 영상을 획득하는 것; 상기 X선 영상으로부터 상기 이온 빔 내에 생성된 미세 기포의 위치를 측정하여 상기 이온 빔의 브래그 피크 위치를 검사하는 것을 포함하는 이온 빔을 이용하는 치료 방법
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제 9 항에 있어서,상기 미세 기포의 직경은 약 수백 Å 내지 수백 um인 이온 빔을 이용하는 치료 방법
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제 9 항에 있어서,상기 X선 영상은 X선 위상차 영상, X선 감산 영상, X선 위상차 감산 영상, 및 X선 단층 영상 중 적어도 하나인 이온 빔을 이용하는 치료 방법
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제 9 항에 있어서,상기 이온 빔과 상기 X선은 상기 피진단체 내의 상기 타겟 위치로 주입되되, 상기 피진단체를 향하는 상기 이온 빔의 주입 방향과 상기 피진단체를 향하는 상기 X선의 주입 방향은 서로 중첩되지 않는 이온 빔을 이용하는 치료 방법
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제 9 항에 있어서,상기 브래그 피크 위치를 이용하여 상기 타겟 위치를 조절하는 것을 더 포함하되,상기 타겟 위치를 조절하는 것은, 상기 브래그 피크 위치를 기준으로 상기 이온 빔의 주입 방향 및 세기 중 적어도 하나를 조절하는 것을 포함하는 이온 빔을 이용하는 치료 방법
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이온 빔을 생성하는 이온 빔 생성부;피진단체로 상기 이온 빔을 주입하는 이온 빔 주입부;상기 피진단체를 둘러싸도록 배치되어, 상기 피진단체를 중심으로 회전되는 갠트리; 및상기 피진단체 내의 미세 기포의 위치를 측정하는 X선 영상 장치를 포함하는 이온 치료 장치
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제 14 항에 있어서,상기 X선 영상 장치는 X선 위상차 영상 장치, X선 감산 영상 장치, X선 위상차 감산 영상 장치, 및 X선 단층 영상 장치 중 적어도 하나인 이온 치료 장치
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제 14 항에 있어서,상기 이온 빔 주입부는 상기 갠트리의 일측에 결합되는 이온 치료 장치
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