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정적 랜덤 액세스 메모리 장치(STATIC RANDOM ACCESS MEMORY DEVICE)

  • 기술번호 : KST2018003426
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 정적 랜덤 액세스 메모리 장치 및 그 구동 방법을 개시한다. 본 발명의 일실시 예에 따른 메모리 장치는 상호간에 교차되게 연결되는 제1 및 제2 인버터, 상기 제1 인버터의 입력단 및 상기 제2 인버터의 출력단에 드레인단이 연결되고, 제1 로컬 비트 라인에 소스단이 연결되고, 제1 워드 라인에 게이트단이 연결되는 제1 패스 게이트 트랜지스터, 상기 제1 인버터의 출력단 및 상기 제2 인버터의 입력단에 소스단이 연결되고, 제2 로컬 비트 라인에 드레인단이 연결되고, 상기 제1 워드 라인에 게이트단이 연결되는 제2 패스 게이트 트랜지스터를 각각 포함하는 적어도 하나 이상의 비트셀들; 및 상기 제1 인버터 및 상기 제2 인버터의 전원 입력단에 드레인단이 연결되는 쓰기 지원 트랜지스터를 포함하고, 상기 쓰기 지원 트랜지스터는, 쓰기 동작 시, 상기 적어도 하나 이상의 비트셀들 중 선택된 비트셀의 그라운드 전압을 일시적으로 차단한다.
Int. CL G11C 11/417 (2006.01.01) G11C 5/14 (2006.01.01)
CPC G11C 11/417(2013.01) G11C 11/417(2013.01)
출원번호/일자 1020160120927 (2016.09.21)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2018-0032118 (2018.03.29) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.09.21)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정성욱 대한민국 서울특별시 서대문구
2 박주현 대한민국 서울특별시 서대문구
3 정한울 대한민국 서울특별시 서대문구
4 김현준 대한민국 서울특별시 서대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김연권 대한민국 서울특별시 송파구 법원로 ***, ****/****호(문정동, 문정대명벨리온)(시안특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.09.21 수리 (Accepted) 1-1-2016-0916469-28
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.02.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0124092-25
3 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.03.13 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0248751-33
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.03.13 수리 (Accepted) 1-1-2018-0248745-69
5 등록결정서
Decision to grant
2018.05.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0363951-24
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번호 청구항
1 1
상호간에 교차되게 연결되는 제1 및 제2 인버터,상기 제1 인버터의 입력단 및 상기 제2 인버터의 출력단에 드레인단이 연결되고, 제1 로컬 비트 라인에 소스단이 연결되고, 제1 워드 라인에 게이트단이 연결되는 제1 패스 게이트 트랜지스터,상기 제1 인버터의 출력단 및 상기 제2 인버터의 입력단에 소스단이 연결되고, 제2 로컬 비트 라인에 드레인단이 연결되고, 상기 제1 워드 라인에 게이트단이 연결되는 제2 패스 게이트 트랜지스터를각각 포함하는 적어도 하나 이상의 비트셀들; 및상기 제1 인버터 및 상기 제2 인버터의 전원 입력단에 드레인단이 연결되는 쓰기 지원 트랜지스터를 포함하고,상기 쓰기 지원 트랜지스터는, 쓰기 동작 시, 상기 적어도 하나 이상의 비트셀들 중 선택된 비트셀의 그라운드 전압을 일시적으로 차단하며,상기 제1 로컬 비트 라인에 게이트단이 연결되고, 제1 읽기용 비트 라인에 소스단이 연결되고, 제6 워드라인에 드레인단이 연결되는 제1 읽기 버퍼 트랜지스터; 및상기 제2 로컬 비트 라인에 게이트단이 연결되고, 제2 읽기용 비트 라인에 소스단이 연결되고, 제6 워드라인에 드레인단이 연결되는 제2 읽기 버퍼 트랜지스터를 더 포함하는 메모리 장치
2 2
제1 항에 있어서,상기 제1 및 제2 패스 게이트 트랜지스터는, 상기 제1 워드 라인으로부터 그라운드 전압을 입력 받을 경우, 턴온되고,상기 제1 워드 라인으로부터 전압을 입력 받을 경우, 턴오프되는메모리 장치
3 3
제1 항에 있어서,상기 적어도 하나 이상의 비트셀들은, 상기 제1 패스 게이트 트랜지스터와 상기 제1 및 제2 인버터의 사이의 제1 데이터 저장 노드가 위치하고, 상기 제2 패스 게이트 트랜지스터와 상기 제1 및 제2 인버터의 사이에 제2 데이터 저장 노드가 위치하는메모리 장치
4 4
제3 항에 있어서,상기 선택된 비트셀은, 상기 제1 워드 라인을 통하여 그라운드 전압을 입력받아 턴온된 제1 및 제2 패스 게이트 트랜지스터를 포함하고,상기 쓰기 동작 시, 상기 제1 데이터 저장 노드에 "0"을 입력하고, 상기 제2 데이터 저장 노드에 "1"을 입력하는 차등 쓰기 동작을 수행하는메모리 장치
5 5
삭제
6 6
제1 항에 있어서,상기 제1 및 제2 읽기 버퍼 트랜지스터는, 상기 쓰기 동작 시, 상기 제6 워드 라인을 통해 전압을 입력받아 턴오프되는메모리 장치
7 7
제1 항에 있어서,상기 제1 패스 게이트 트랜지스터의 소스단에 드레인단이 연결되고, 제5 워드 라인에 게이트단이 연결되고, 제1 쓰기 동작용 비트라인이 소스단에 연결되는 제1 쓰기 동작 트랜지스터; 및상기 제2 패스 게이트 트랜지스터의 드레인단에 소스단이 연결되고, 상기 제5 워드 라인에 게이트단이 연결되고, 제2 쓰기 동작용 비트라인이 드레인단에 연결되는 제2 쓰기 동작 트랜지스터를 더 포함하는메모리 장치
8 8
제7 항에 있어서,상기 제1 및 제2 쓰기 동작 트랜지스터는, 쓰기 동작 시 상기 제5 워드 라인을 통하여 그라운드 전압을 입력받아 턴온되는메모리 장치
9 9
제8 항에 있어서,상기 선택된 비트셀은, 상기 쓰기 동작 시 상기 제1 쓰기 동작 트랜지스터로부터의 데이터 "1"을 전달 받고, 상기 제1 패스 게이트 트랜지스터를 통하여, 제1 데이터 저장 노드에 저장하고, 상기 제1 인버터를 통하여, 제2 데이터 저장 노드에 데이터 "0"을 저장하고, 상기 제2 데이터 저장 노드에 저장된 데이터"0"을 상기 제2 패스 게이트 트랜지스터를 통하여 상기 제2 쓰기 동작 트랜지스터로 전달하는메모리 장치
10 10
상호간에 교차되게 연결되는 제1 및 제2 인버터,상기 제1 인버터의 입력단 및 상기 제2 인버터의 출력단에 드레인단이 연결되고, 제1 로컬 비트 라인에 소스단이 연결되고, 제1 워드 라인에 게이트단이 연결되는 제1 패스 게이트 트랜지스터,상기 제1 인버터의 출력단 및 상기 제2 인버터의 입력단에 소스단이 연결되고, 제2 로컬 비트 라인에 드레인단이 연결되고, 상기 제1 워드 라인에 게이트단이 연결되는 제2 패스 게이트 트랜지스터를각각 포함하는 적어도 하나 이상의 비트셀들;상기 제1 로컬 비트 라인에 게이트단이 연결되고, 제1 읽기용 비트 라인에 소스단이 연결되고, 제6 워드 라인에 드레인단이 연결되는 제1 읽기 버퍼 트랜 지스터; 및 상기 제2 로컬 비트 라인에 게이트단이 연결되고, 제2 읽기용 비트 라인에 소스단이 연결되고, 제6 워드 라인에 드레인단이 연결되는 제2 읽기 버퍼 트랜지스터를 포함하고,상기 제1 읽기 버퍼 트랜 지스터는, 홀드 동작시 상기 제6 워드 라인의 전압이 그라운드 전압으로 전환되어, 읽기 동작 시 상기 제1 읽기용 비트라인이 디스차지되는 메모리 장치
11 11
제10 항에 있어서,상기 제1 및 제2 읽기 버퍼 트랜지스터는, 상기 읽기 동작 시 상기 제6 워드 라인을 통해 그라운드 전압을 입력받아 턴온되는 메모리 장치
12 12
제10 항에 있어서,상기 적어도 하나 이상의 비트셀들은, 상기 제1 패스 게이트 트랜지스터와 상기 제1 및 제2 인버터의 사이의 제1 데이터 저장 노드가 위치하고, 상기 제2 패스 게이트 트랜지스터와 상기 제1 및 제2 인버터의 사이에 제2 데이터 저장 노드가 위치하는메모리 장치
13 13
제12 항에 있어서,상기 적어도 하나 이상의 비트셀들 중 선택된 비트셀은, 상기 제1 워드 라인을 통하여 그라운드 전압을 입력받아 턴온된 제1 및 제2 패스 게이트 트랜지스터를 포함하고,상기 읽기 동작 시, 상기 제1 데이터 저장 노드로부터 "1"을 읽고, 상기 제2 데이터 저장 노드로부터 "0"을 읽는메모리 장치
14 14
제10 항에 있어서,상기 제1 패스 게이트 트랜지스터의 소스단에 드레인단이 연결되고, 제5 워드 라인에 게이트단이 연결되고, 제1 쓰기 동작용 비트라인이 소스단에 연결되는 제1 쓰기 동작 트랜지스터; 및상기 제2 패스 게이트 트랜지스터의 드레인단에 소스단이 연결되고, 상기 제5 워드 라인에 게이트단이 연결되고, 제2 쓰기 동작용 비트라인이 드레인단에 연결되는 제2 쓰기 동작 트랜지스터를 더 포함하는메모리 장치
15 15
제14 항에 있어서,상기 제1 및 제2 쓰기 동작 트랜지스터는, 상기 읽기 동작 시 상기 제5 워드 라인을 통하여 전압을 입력받아 턴오프되는메모리 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 연세대학교 산학협력단 산업기술혁신사업 스마트 센서 SoC용 초저전압 회로 및 IP 설계 기술 개발(2/5)