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미리 설정된 크기와 형태의 전류를 공급하는 전원 공급부;상기 인가된 전류를 이용하여 커패시터를 충방전하는 충방전부; 및상기 커패시터의 전압 및 전류를 측정하는 데이터 측정부를 포함하며,상기 충방전부는 상기 커패시터에 인가되는 전류를 미리 설정된 패턴으로 쵸핑하는 전류 쵸핑부를 포함하는 것을 특징으로 하는 커패시터 검사 시스템
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청구항 1에 있어서,상기 전류 쵸핑부는 상기 커패시터로 인가되는 전류를 미리 설정된 바이패스 경로로 바이패스시킴으로써 상기 커패시터에 인가되는 전류를 쵸핑하는 것을 특징으로 하는 커패시터 검사 시스템
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청구항 2에 있어서,상기 충방전부는 상기 커패시터와 직렬 연결되고, 서로 반대 방향으로 직렬 연결된 한 쌍의 스위치를 포함하며,상기 스위치는 서로 역병렬 연결된 트랜지스터와 다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 커패시터 검사 시스템
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청구항 3에 있어서,상기 전류 쵸핑부는 상기 바이패스 경로에 위치하고,서로 반대 방향으로 직렬 연결된 한 쌍의 스위치를 포함하며, 상기 스위치는 서로 역병렬 연결된 트랜지스터와 다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 커패시터 검사 시스템
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청구항 4에 있어서,상기 충방전부는 상기 커패시터의 양단에 각각 상기 한 쌍의 스위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 커패시터 검사 시스템
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청구항 5에 있어서,상기 바이패스 경로는 상기 커패시터 및 상기 커패시터 일단의 상기 한 쌍의 스위치와 병렬 연결되는 것을 특징으로 하는 커패시터 검사 시스템
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청구항 6에 있어서,상기 전류 쵸핑부는 상기 전류 쵸핑부에 포함된 한 쌍의 스위치 중 선택된 하나의 스위치를 개폐함으로써 상기 커패시터에 인가되는 전류를 미리 설정된 패턴으로 쵸핑하는 것을 특징으로 하는 커패시터 검사 시스템
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청구항 1에 있어서,상기 데이터 측정부에 의해 측정된 상기 커패시터의 전압 및 전류를 이용하여 상기 커패시터의 용량을 산출하는 용량 산출부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 커패시터 검사 시스템
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청구항 8에 있어서,상기 커패시터의 용량 CTest은, 의 수학식에 의해 산출되고, △Vc1 과 △Vc2는 각각 정현파 반주기 시간 △T1 과 △T2 동안의 커패시터의 최대 충전 전압의 차이이고, ic
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청구항 1에 있어서,상기 전원 공급부는 직류 전력을 교류 전력으로 변환할 수 있는 인버터부를 포함하는 것을 특징으로 하는 커패시터 검사 시스템
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11
청구항 10에 있어서,상기 인버터부를 이용하여 상기 커패시터에서의 전류 및 전압을 제어하는 인버터 제어부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 커패시터 검사 시스템
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청구항 11에 있어서,상기 인버터부는 상기 충방전부와 연결되는 인덕터를 포함하고,상기 인덕터에 흐르는 전류를 제어함으로써, 상기 커패시터에서의 전류 및 전압을 제어하는 것을 특징으로 하는 커패시터 검사 시스템
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