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다이 연결 배선의 일단에 연결되며, 테스트 신호를 상기 다이 연결 배선으로 전송하는 신호 입력부;상기 다이 연결 배선의 타단에 연결되며, 상기 신호 입력부로부터 전송된 상기 테스트 신호를 반사하는 신호 반사부; 상기 다이 연결 배선의 상기 일단에 연결되며, 상기 신호 반사부로부터 반사된 테스트 신호를 수신하는 신호 수신부; 및상기 반사된 테스트 신호의 도달 시간에 기초하여 멀티다이 집적회로에서 폴트가 발생한 위치를 판단하는 폴트 위치 분석부를 포함하는, 멀티다이 집적회로의 폴트 위치 분석 장치
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제 1 항에 있어서,상기 반사된 테스트 신호의 도달 시간이 기준 시간보다 짧은 경우, 상기 신호 수신부는 폴트가 발생하였다고 판단하는, 멀티다이 집적회로의 폴트 위치 분석 장치
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제 2 항에 있어서,상기 다이 연결 배선의 상기 타단에 연결된 다이에서 폴트가 발생할 때의 상기 반사된 테스트 신호의 도달 시간은 상기 다이 연결 배선에서 폴트가 발생할 때의 상기 반사된 테스트 신호의 도달 시간보다 긴, 멀티다이 집적회로의 폴트 위치 분석 장치
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제 3 항에 있어서,상기 다이 연결 배선의 상기 일단에 연결된 다이에서 폴트가 발생할 때의 상기 반사된 테스트 신호의 도달 시간은 상기 다이 연결 배선에서 폴트가 발생할 때의 상기 반사된 테스트 신호의 도달 시간보다 짧은, 멀티다이 집적회로의 폴트 위치 분석 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 신호 입력부는 직렬 연결된 제 1 및 제 2 트랜지스터를 포함하며, 상기 제 1 및 제 2 트랜지스터의 게이트에는 각각 제 1 및 제 2 활성화 신호가 입력되고, 상기 제 1 트랜지스터의 소스 및 상기 제 2 트랜지스터의 드레인은 상기 다이 연결 배선의 상기 일단에 연결된, 멀티다이 집적회로의 폴트 위치 분석 장치
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제 5 항에 있어서,상기 제 1 트랜지스터는 PMOS 트랜지스터이고, 상기 제 2 트랜지스터는 NMOS 트랜지스터인, 멀티다이 집적회로의 폴트 위치 분석 장치
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제 5 항에 있어서, 상기 신호 반사부는 직렬 연결된 제 3 및 제 4 트랜지스터를 포함하며, 상기 제 3 트랜지스터의 게이트 및 상기 제 4 트랜지스터의 게이트는 상기 다이 연결 배선의 상기 타단에 연결되고, 상기 제 3 트랜지스터의 소스 및 상기 제 4 트랜지스터의 드레인은 제 1 노드에 연결된, 멀티다이 집적회로의 폴트 위치 분석 장치
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8
제 7 항에 있어서,상기 신호 반사부는 직렬 연결된 제 5 및 제 6 트랜지스터를 더 포함하며, 상기 제 5 트랜지스터의 게이트 및 상기 제 6 트랜지스터의 게이트는 상기 제 1 노드에 연결되고, 상기 제 5 트랜지스터의 소스 및 상기 제 6 트랜지스터의 드레인은 제 1 저항에 연결된, 멀티다이 집적회로의 폴트 위치 분석 장치
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9
제 8 항에 있어서,상기 제 3 트랜지스터 및 상기 제 5 트랜지스터는 PMOS 트랜지스터이고, 상기 제 4 트랜지스터 및 상기 제 6 트랜지스터는 NMOS 트랜지스터인, 멀티다이 집적회로의 폴트 위치 분석 장치
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10
제 8 항에 있어서,상기 신호 수신부는 직렬 연결된 제 7 및 제 8 트랜지스터를 포함하며, 상기 제 7 트랜지스터의 게이트 및 상기 제 8 트랜지스터의 게이트는 상기 다이 연결 배선의 상기 일단에 연결되고, 상기 제 7 트랜지스터의 소스 및 상기 제 8 트랜지스터의 드레인은 제 2 노드에 연결된, 멀티다이 집적회로의 폴트 위치 분석 장치
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11
제 10 항에 있어서,상기 신호 수신부는 직렬 연결된 제 9 트랜지스터 및 제 10 트랜지스터를 더 포함하며, 상기 제 9 트랜지스터의 게이트 및 상기 제 10 트랜지스터의 게이트는 상기 제 2 노드에 연결되고, 상기 제 9 트랜지스터의 소스 및 상기 제 10 트랜지스터의 드레인은 제 2 저항에 연결된, 멀티다이 집적회로의 폴트 위치 분석 장치
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제 11 항에 있어서,상기 제 7 트랜지스터 및 상기 제 9 트랜지스터는 PMOS 트랜지스터이고, 상기 제 8 트랜지스터 및 상기 제 10 트랜지스터는 NMOS 트랜지스터인, 멀티다이 집적회로의 폴트 위치 분석 장치
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제 1 항에 있어서,상기 신호 입력부, 상기 신호 반사부 및 상기 신호 수신부 중 적어도 하나는 SoC 다이의 물리 영역에 구비되는, 멀티다이 집적회로의 폴트 위치 분석 장치
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