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플라스틱 및 유연 기판 위에 적용 가능한 투명전극용 산화물-금속-산화물(Oxide-Metal-Oxide, OMO) 적층구조를 가지는 메시의 제조방법에 있어서,상기 기판 위에 스핀코팅법으로 포토레지스트층을 형성하는 단계;상기 포토레지스트 층에 마스크를 이용하여 패터닝하는 단계;상기 패터닝된 포토레지스트층 위에 스퍼터링으로 하부 산화물층을 형성하는 단계;상기 하부 산화물층 위에 스퍼터링으로 금속층을 형성하는 단계;상기 금속층 위에 스퍼터링으로 상부 산화물층을 형성하는 단계;상기 상부 산화물층이 형성된 기판을 리프트 오프 방식으로 포토레지스트를 제거하는 단계;를 포함하는 투명전극용 메시 제조방법
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제 1항에 있어서, 상기 상부 산화물층 및 하부 산화물층은, 펄스 레이저 증착(PLD) 공정, 열증착(thermal deposition) 공정, 전자빔증착(electron beam deposition) 공정, 인쇄(printing) 공정, 습식 용액(wet solution) 공정, 스퍼터링(sputtering) 공정 중 어느 하나의 방법으로 형성하는 것을 특징으로 하는 투명전극용 메시 제조방법
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제 1항에 있어서, 상기 금속층은, 펄스 레이저 증착(PLD) 공정, 열증착(thermal deposition) 공정, 전자빔증착(electron beam deposition) 공정, 스퍼터링(sputtering) 공정 중 어느 하나의 방법으로 형성하는 것을 특징으로 하는 투명전극용 메시 제조방법
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제 1항에 있어서, 포토레지스트를 제거한 후,산화물-금속-산화물(Oxide-Metal-Oxide, OMO)구조를 갖는 메시를 50-900℃로 열처리하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 투명전극용 메시 제조방법
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플라스틱 및 유연 기판 위에 적용 가능한 투명전극용 메시에 있어서,상기 기판 위에 상부 산화물층, 금속층 및 하부 산화물층의 적층구조를 형성하며,상기 상부 산화물층 및 하부 산화물층은 산화물 반도체로서 실리콘 산화인듐아연(Si-In-ZnO, SIZO) 박막으로 이루어지고,상기 SIZO박막에 포함된 실리콘의 함량은 0
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제 5항에 있어서, 상기 기판은,폴리이미드(polyimide, PI), 폴리아미드(polyamide, PA), 폴리아미드-이미드(polyamide-imide), 폴리우레탄(polyurethane, PU), 폴리우레탄아크릴레이트(polyurethaneacrylate, PUA), 폴리아크릴아미드(polyacrylamide, PA), 폴리에틸렌 테레프탈레이트(polyethyleneterephthalate, PET), 폴리에테르 설폰(Polyether sulfone, PES), 폴리에틸렌 나프탈레이트(polyethylene naphthalate, PEN), 폴리카보네이트(polycarbonate, PC), 폴리메틸메타크릴레이트(polymethylmethacrylate, PMMA), 폴리에테르이미드(polyetherimide, PEI), 폴리다이메틸실록세인(polydimethylsiloxane, PDMS), 폴리에틸렌(polyethylene, PE), 폴리비닐알코올(Polyvinyl alcohol, PVA), 폴리스틸렌(Polystyrene, PS), 이축연신폴리스틸렌(biaxially oriented PS, BOPS), 아크릴수지, 실리콘수지, 불소수지, 변성에폭시수지, 유리 또는 강화유리인 것을 특징으로 하는 투명전극용 메시
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제 5항에 있어서, 상부 산화물층 및 하부 산화물층은,10-1000nm의 두께를 갖는 것을 특징으로 하는 투명전극용 메시
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제 5항에 있어서, 상기 금속층은, 10-200nm의 두께를 갖는 것을 특징으로 하는 투명전극용 메시
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제 5항에 있어서, 상기 투명전극용 메시의 선 폭이 1-10㎛인 것을 특징으로 하는 투명전극용 메시
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제 5항에 있어서, 상기 금속층은, 구리(Cu) 및 알루미늄(Al) 박막 중 어느 하나로 이루어지는 것을 특징으로 하는 투명전극용 메시
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