| 1 |
1
파형 역산(waveform inversion)을 이용하여 지하 매질의 물성을 추정하는 장치에 있어서,송신원에서 발생된 파동이 상기 지하 매질을 통과하여 측정된 측정 데이터로부터 평면파 데이터를 생성하는 평면파 데이터 생성부;상기 지하 매질에 대해 설정된 가상 모델을 이용하여, 상기 평면파 데이터의 모델링 데이터인 평면파 모델링 데이터를 생성하는 모델링 데이터 생성부; 및상기 평면파 데이터 및 평면파 모델링 데이터의 잔차를 산출하고, 상기 잔차가 최소가 되는 방향으로 상기 가상 모델을 갱신하는 갱신부;를 포함하는 지하 매질의 물성 추정 장치
|
| 2 |
2
제 1 항에 있어서, 상기 측정 데이터는, 시간 영역의 데이터인 지하 매질의 물성 추정 장치
|
| 3 |
3
제 1 항에 있어서, 상기 평면파 데이터 또는 평면파 모델링 데이터는,상기 주파수 영역의 데이터인 지하 매질의 물성 추정 장치
|
| 4 |
4
제 1 항에 있어서, 상기 송신원은, 소정의 거리를 두고 복수개로 배치되는 지하 매질의 물성 추정 장치
|
| 5 |
5
제 4 항에 있어서, 상기 평면파 데이터 생성부는,상기 송신원의 위치에 따른 시간지연을 반영하여, 상기 측정 데이터로부터 시간 영역의 평면파 데이터를 생성하는 지하 매질의 물성 추정 장치
|
| 6 |
6
제 5 항에 있어서, 상기 평면파 데이터 생성부는, 영역 변환을 통해, 상기 시간 영역의 평면파 데이터를 주파수 영역의 평면파 데이터로 변환하는 지하 매질의 물성 추정 장치
|
| 7 |
7
제 5 항에 있어서, 상기 시간지연은, 하기의 [수학식 1]을 이용하는 지하 매질의 물성 추정 장치
|
| 8 |
8
제 6 항에 있어서, 상기 영역 변환은, 라플라스 변환, 푸리에 변환, 및 라플라스-푸리에 변환 중 적어도 하나를 이용하는 지하 매질의 물성 추정 장치
|
| 9 |
9
제 1 항에 있어서, 상기 모델링 데이터 생성부는, 하기의 [수학식 3]를 이용하여, 상기 평면파 모델링 데이터를 생성하는 지하 매질의 물성 추정 장치
|
| 10 |
10
제 9 항에 있어서,상기 평면파 변환함수는,하기의 [수학식 4]를 이용하여 산출되는 지하 매질의 물성 추정 장치
|
| 11 |
11
제 1 항에 있어서, 상기 갱신부는, 상기 잔차가 기설정된 임계값 이하가 되는지 여부를 판단하는 지하 매질의 물성 추정 장치
|
| 12 |
12
제 11 항에 있어서, 상기 갱신부는, 상기 잔차가 상기 임계값을 초과하는 경우, 상기 가상 모델을 갱신하는 지하 매질의 물성 추정 장치
|
| 13 |
13
제 1 항에 있어서,최종적으로 갱신된 상기 가상 모델을 상기 지하 매질의 물성으로 출력하는 출력부;를 더 포함하는 지하 매질의 물성 추정 장치
|
| 14 |
14
파형 역산(waveform inversion)을 이용하여 지하 매질의 물성을 추정하는 방법에 있어서,송신원에서 발생된 파동이 상기 지하 매질을 통과하여 측정된 측정 데이터로부터 평면파 데이터를 생성하고;상기 지하 매질에 대해 설정된 가상 모델을 이용하여, 상기 평면파 데이터의 모델링 데이터인 평면파 모델링 데이터를 생성하고; 상기 평면파 데이터 및 평면파 모델링 데이터의 잔차를 산출하고; 및상기 잔차가 최소가 되는 방향으로 상기 가상 모델을 갱신하는;것을 포함하는 지하 매질의 물성 추정 방법
|
