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X선 형광분석 원자층 증착 장치 및 X선 형광분석 원자층 증착 방법(X-RAY FLUORESCENT ANALYSIS AND ATOMIC LAYER DEPOSITION APPARATUS AND METHOD OF PERFORMING A X-RAY FLUORESCENT ANALYSIS AND ATOMIC LAYER DEPOSITION)

  • 기술번호 : KST2018005975
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 X선 형광분석 원자층 증착 장치는, 기판을 지지하며, 공정 공간을 제공하는 반응 챔버, 상기 공정 공간 내의 제1 진공 상태에서, 화학-흡착 공정을 통하여 상기 기판 상에 박막을 형성하기 위하여 공정 가스 공급 라인을 통하여 공급되는 공정 가스를 공급하는 가스 공급 모듈, 상기 공정 공간 내에 상기 제1 진공 상태보다 높은 제2 진공 상태에서, 상기기판 상에 형성된 박막으로부터 발생한 X선 형광 물질을 분석하여 상기 박막에 관한 정보를 실시간으로 확보할 수 있는 검출 공정을 수행하는 X선 형광 분석 모듈 및 상기 제1 진공 및 제2 진공 상태로 사이에 진공도를 스위칭하는 스위칭 진공 모듈을 포함한다.
Int. CL C23C 16/455 (2006.01.01) C23C 16/52 (2018.01.01) G01N 23/223 (2018.01.01)
CPC C23C 16/45544(2013.01) C23C 16/45544(2013.01) C23C 16/45544(2013.01)
출원번호/일자 1020160149056 (2016.11.09)
출원인 고려대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2018-0052019 (2018.05.17) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항 심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.11.09)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 심준형 대한민국 서울특별시 강남구
2 박석원 대한민국 서울특별시 서대문구
3 최형종 대한민국 전라북도 전주시 덕진구
4 한권덕 대한민국 경기도 성남시 분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이동건 대한민국 서울특별시 강남구 논현로***길 *, *층 ***호 (논현동)(차암특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.11.09 수리 (Accepted) 1-1-2016-1097119-54
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2017.07.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.09.07 수리 (Accepted) 9-1-2017-0029145-78
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.01.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0035488-36
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.03.15 수리 (Accepted) 1-1-2018-0258376-04
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.03.15 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0258369-84
7 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2018.06.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0371188-36
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.07.02 수리 (Accepted) 1-1-2018-0647691-95
9 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2018.07.02 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2018-0647639-20
10 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2018.08.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0518571-79
11 [법정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
2018.08.31 수리 (Accepted) 1-1-2018-0868683-02
12 법정기간연장승인서
2018.09.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2018-0139231-73
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5210941-09
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번호 청구항
1 1
기판을 지지하며, 공정 공간을 제공하는 반응 챔버;상기 공정 공간 내의 제1 진공 상태에서, 화학-흡착 공정을 통하여 상기 기판 상에 박막을 형성하기 위하여 공정 가스 공급 라인을 통하여 공급되는 공정 가스를 공급하는 가스 공급 모듈;상기 공정 공간 내에 상기 제1 진공 상태보다 높은 제2 진공 상태에서, 상기기판 상에 형성된 박막으로부터 발생한 X선 형광 물질을 분석하여 상기 박막에 관한 정보를 실시간으로 확보할 수 있는 검출 공정을 수행하는 X선 형광 분석 모듈; 및상기 제1 진공 및 제2 진공 상태로 사이에 진공도를 스위칭하는 스위칭 진공 모듈을 포함하는 X선 형광분석 원자층 증착 장치
2 2
제1항에 있어서, 상기 X선 형광 분석 모듈은, 상기 박막을 향하여 X선을 조사하는 X선 조사기;상기 박막으로부터 발생하는 X선 형광의 경로를 가이드 하는 가이드 라인; 및상기 가이드 라인과 연결되며, 상기 가이드 라인에 의하여 가이드된 상기 X선 형광을 검출하는 검출기를 포함하는 X선 형광분석 원자층 증착 장치
3 3
제2항에 있어서, 상기 X선 형광 분석 모듈은, 상기 가이드 라인에 구비되고 상기 X선 형광을 투과시키는 윈도우 및 상기 박막 형성 공정으로부터 상기 윈도우를 보호하는 개폐 밸브를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 X선 형광분석 원자층 증착 장치
4 4
제2항에 있어서, 상기 X선 조사기는 상기 기판의 표면에 대하여 20ㅀ이하의 각도로 X선을 조사하는 것을 특징으로 하는 X선 형광분석 원자층 증착 장치
5 5
제1항에 있어서, 상기 스위칭 진공 모듈은, 상기 화학-흡착 공정을 위하여 상기 반응 챔버에 상기 제1 진공 상태를 형성하는 제1 진공 펌프 및 상기 검출 공정을 위하여 상기 반응 챔버에 상기 제2 진공 상태를 형성하는 제2 진공 펌프를 포함하는 진공 펌핑 유닛;상기 진공 펌핑 유닛 및 상기 반응 챔버에 연통되어 상기 반응 챔버의 압력을 센싱하는 압력 센싱 유닛; 및상기 진공 펌핑 유닛, 상기 압력 센싱 유닛 및 상기 반응 챔버 사이를 연결하고, 3-방향 밸브를 구비한 진공 라인 유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 X선 형광분석 원자층 증착 장치
6 6
제5항에 있어서, 상기 진공 라인 모듈은,상기 제1 진공 펌프 및 상기 반응 챔버를 상호 연결하며, 상기 공정 가스 공급 라인과 연결된 제1 진공 라인;상기 제1 진공 라인으로부터 분기되어 상기 제2 진공 펌프와 연결되는 제2 진공 라인; 및상기 제1 및 제2 진공 펌프들을 상호 연결시키는 펌핑 라인을 포함하는 것을 특징으로 하는 X선 형광분석 원자층 증착 장치
7 7
제6항에 있어서, 상기 압력 센싱 유닛은 상기 반응 챔버의 제1 진공 상태를 감지하는 제1 압력 센서;상기 반응 챔버의 제2 진공 상태를 감지하는 제2 압력 센서; 및상기 제1 진공 라인으로부터 분기되어 상기 제1 및 제2 압력 센서들과 상기 반응 챔버를 연결시키는 센싱 라인을 포함하는 것을 특징으로 X선 형광분석 원자층 증착 장치
8 8
제1항에 있어서, 상기 제2 진공 상태는 1ㅧ10-5 Torr 이하의 압력을 갖는 것을 특징으로 하는 X선 형광분석 원자층 증착 장치
9 9
반응 챔버 내에서 제1 진공 상태에서, 공정 가스를 이용하는 화학-흡착 공정을 통하여 기판 상에 박막을 형성하는 박막 형성 공정을 수행하는 단계; 및상기 공정 공간 내에서 상기 제1 진공 상태보다 높은 제2 진공 상태에서 상기 기판 상에 형성된 박막으로부터 발생한 X선 형광 물질을 분석하여 상기 박막에 관한 정보를 실시간으로 확보할 수 있는 검출 공정을 수행하는 단계를 포함하고,상기 박막 형성 공정 및 상기 검출 공정 사이에 상기 제1 진공 상태 및 제2 진공 상태로 진공도를 스위칭하는 진공도 스위칭 단계를 수행하는 것을 특징으로 하는 X선 형광분석 원자층 증착 방법
10 10
제9항에 있어서, 상기 진공도 스위칭 단계는 3-방향 밸브를 이용하여 수행되는 것을 특징으로 하는 X선 형광분석 원자층 증착 방법
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1 WO2018088771 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

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1 WO2018088771 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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1 중소기업청 고려대학교산학협력단 산학연협력기술개발사업 연구 및 코팅서비스를 위한 초소형 저가 ALD 장치