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바디의 말단에 형성된 팁 및 상기 팁의 표면에 표적 DNA와 상보적으로 결합할 수 있는 염기서열을 포함하는 검출 DNA가 고정된 원자간력 현미경용 캔틸레버; 및 표적 DNA와 상보적으로 결합할 수 있는 염기서열을 포함하는 프로브 DNA가 고정된 인쇄 기판을 포함하는 표적 DNA 정량 분석 키트
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제 1항에 있어서,상기 프로브 DNA는 기판 위에 지름 100 nm ~ 10 μm의 스팟으로 인쇄된 것을 특징으로 하는 표적 DNA 정량 분석 키트
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제 1항에 있어서,상기 프로브 DNA는 3' 말단에 아민기를 포함하는 것을 특징으로 하는 표적 DNA 정량 분석 키트
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제 1항에 있어서,상기 인쇄 기판은 유리, 금속, 플라스틱, 실리콘, 실리케이트, 세라믹, 반도체, 합성 유기 금속, 합성 반도체 및 합금으로 이루어진 군에서 선택되는 1 이상인 것을 특징으로 하는 표적 DNA 정량 분석 키트
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5
제 1항에 있어서,상기 검출 DNA는 5' 말단에 아민기를 포함하는 것을 특징으로 하는 표적 DNA 정량 분석 키트
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제 1항 내지 제 5항 중 어느 한 항에 있어서,상기 키트는 원자간력 현미경을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표적 DNA 정량분석 키트
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7
인쇄 기판을 준비하는 단계;상기 인쇄 기판에 10 ~ 900 μm2 면적, 10 ~ 900 nm 깊이의 패턴을 식각하는 단계; 및상기 식각된 패턴에 표적 DNA와 상보적으로 결합할 수 있는 염기서열을 포함하는 프로브 DNA 수용액을 떨어뜨려서 프로브 DNA 스팟을 인쇄하는 단계를 포함하는 표적 DNA 정량 분석용 인쇄 기판의 제조방법
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제 7항에 있어서,상기 프로브 DNA 인쇄 단계는 기판 위에 프로브 DNA 수용액을 지름 100 nm ~ 10 μm의 스팟으로 인쇄하는 것을 특징으로 하는 표적 DNA 정량 분석용 인쇄 기판의 제조방법
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제 7항에 있어서,상기 프로브 DNA는 3' 말단에 아민기를 포함하는 것을 특징으로 하는 표적 DNA 정량 분석용 인쇄 기판의 제조방법
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제 7항에 있어서,상기 인쇄 기판은 유리, 금속, 플라스틱, 실리콘, 실리케이트, 세라믹, 반도체, 합성 유기 금속, 합성 반도체 및 합금으로 이루어진 군에서 선택되는 1 이상인 것을 특징으로 하는 표적 DNA 정량 분석용 인쇄 기판의 제조방법
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제 7항에 있어서,상기 기판을 식각한 후에 기판 표면에 아민 작용기를 도입하는 단계 및 아민 작용기와 선택적으로 공유 결합하는 링커를 결합시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표적 DNA 정량 분석용 인쇄 기판의 제조방법
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(a) 표적 DNA가 포함된 시료를 상기 표적 DNA와 상보적으로 결합할 수 있는 염기서열을 포함하는 프로브 DNA 인쇄 기판에 접촉하여 DNA/DNA 이합체를 형성하는 혼성화 단계; (b) 상기 표적 DNA와 상보적으로 결합할 수 있는 염기서열을 포함하는 검출 DNA가 고정된 원자간력 현미경용 캔틸레버를 상기 DNA/DNA 이합체가 형성된 인쇄 기판에 접촉하여 개별 프로브 DNA 스팟 내 결합힘-지도화를 수행하는 단계; 및(c) 상기 결합힘-지도 상의 결합힘이 관찰되는 스팟에서 상기 프로브 DNA와 표적 DNA의 DNA/DNA 이합체의 존재를 검출하고, 공간적 분포를 분석하는 단계를 포함하는 표적 DNA 정량 분석 방법
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제 12항에 있어서,상기 표적 DNA가 포함된 시료는 표적 DNA가 10 zM ~ 1 aM 농도로 포함된 것을 특징으로 하는 표적 DNA 정량 분석 방법
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제 12항에 있어서,상기 프로브 DNA 인쇄 기판은 기판 표면에 표적 DNA를 지름 100 nm ~ 10 μm의 스팟으로 형성하여 고정시킨 것인 표적 DNA 정량 분석 방법
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제 12항에 있어서,상기 (b) 단계의 결합힘-지도화 수행 단계는 상기 원자간력 현미경용 캔틸레버가 접촉한 위치에서 상기 검출 DNA와 표적 DNA 사이의 상호작용으로 나타나는 특이적인 힘-거리 곡선을 측정함으로써 수행되는 것을 특징으로 하는 표적 DNA 정량 분석 방법
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제 12항에 있어서,상기 (c) 단계의 공간적 분포 분석은 시료 내 결합힘이 관찰되는 DNA/DNA 이합체의 개수를 카운팅하여 수행되는 것인 표적 DNA 정량 분석 방법
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제 16항에 있어서,상기 DNA/DNA 이합체의 개수를 카운팅하는 방법은 동일 프로브 DNA 스팟 내에서 연속적으로 복수 개의 결합힘-지도를 얻는 단계; 상기 복수 개의 결합힘-지도를 겹쳤을 때 2 이상의 인접한 픽셀에서 특이적인 결합힘이 관찰되는 클러스터를 분리하는 단계;상기 분리된 클러스터 중 동일 픽셀에서 2회 이상 반복적으로 특이적인 결합힘이 관찰되는 클러스터를 분리하는 단계; 및 상기 복수 개의 픽셀이 겹쳐서 생기는 픽셀 클러스터 중 직경이 단일 표적 DNA 클러스터 직경 이상의 크기를 갖는 클러스터의 개수를 카운팅하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표적 DNA 정량 분석 방법
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제 12항에 있어서,상기 (c) 단계 이후에 표적 DNA의 농도를 결정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표적 DNA 정량 분석 방법
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