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입자 빔의 깊이 프로파일 측정방법

  • 기술번호 : KST2018007737
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 입자 빔 깊이 프로파일을 측정 방법을 개시한다. 그의 측정 방법은, 인체의 청각 기관들 내에 제 1 방향으로 제 1 센서들을 제공하는 단계와, 상기 인체의 정수리와 구강 내에 상기 제 1 방향과 교차하는 제 2 방향으로 제 2 센서들을 제공하는 단계와, 상기 인체의 머리 내에 입자 빔을 제공하는 단계와, 상기 입자 빔에 의해 생성된 음향 신호를 상기 제 1 및 제 2 센서들을 통해 검출하는 단계와, 상기 음향 신호로부터 상기 머리 내에서의 상기 입자 빔의 브래그 피크 위치에 대응되는 상기 입자 빔의 깊이 프로파일을 계산하는 단계를 포함한다.
Int. CL G01J 1/42 (2006.01.01) G01B 9/02 (2006.01.01) G01S 15/02 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020170153300 (2017.11.16)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2018-0064973 (2018.06.15) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020160165324   |   2016.12.06
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2020.09.02)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 신동호 대전광역시 유성구
2 정문연 대전 유성구
3 김승환 대전시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 고려 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.11.16 수리 (Accepted) 1-1-2017-1141469-20
2 [심사청구]심사청구서·우선심사신청서
2020.09.02 수리 (Accepted) 1-1-2020-0928760-64
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
인체의 청각 기관들 내에 제 1 방향으로 제 1 센서들을 제공하는 단계;상기 인체의 정수리와 구강 내에 상기 제 1 방향과 교차하는 제 2 방향으로 제 2 센서들을 제공하는 단계;상기 인체의 머리 내에 입자 빔을 제공하는 단계;상기 입자 빔에 의해 생성된 음향 신호를 상기 제 1 및 제 2 센서들을 통해 검출하는 단계; 및상기 음향 신호로부터 상기 머리 내에서의 상기 입자 빔의 브래그 피크 위치에 대응되는 상기 입자 빔의 깊이 프로파일을 계산하는 단계를 포함하는 입자 빔의 깊이 프로파일 측정 방법
2 2
제 1 항에 있어서,상기 제 1 센서들은 압전 센서 또는 광 센서를 포함하는 입자 빔의 깊이 프로파일 측정 방법
3 3
제 2 항에 있어서,상기 제 1 센서들은 상기 청각 기관의 고막의 진동을 감지하는 입자 빔의 깊이 프로파일 측정 방법
4 4
제 3 항에 있어서,상기 제 1 센서들은 상기 청각 기관들의 중이 내에 제공되는 입자 빔의 깊이 프로파일 측정방법
5 5
제 1 항에 있어서,상기 제 2 센서들은 압전 센서들을 포함하는 입자 빔의 깊이 프로파일 측정 방법
6 6
제 1 항에 있어서,상기 제 1 센서들을 제공하는 단계는 상기 제 1 센서들 사이의 제 1 거리를 측정하는 단계를 포함하되,상기 제 2 센서들을 제공하는 단계는 상기 제 2 센서들 사이의 제 2 거리를 측정하는 단계를 포함하는 입자 빔의 깊이 프로파일 측정방법
7 7
제 1 항에 있어서,상기 입자 빔은 양성자 빔을 포함하는 입자 빔의 깊이 프로파일 측정방법
8 8
제 1 항에 있어서,상기 입자 빔은 상기 제 1 및 제 2 방향들과 교차하는 제 3 방향으로 입사되는 입자 빔의 깊이 프로파일 측정방법
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