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시간에 따라 파장을 변화시켜 광원을 방출하는 스웹 소스(Swept source)로부터 입사된 입사광을 기준광과 물체광으로 각각 분리하는 분광기, 기준 거울로부터 반사된 상기 기준광과 대상체로부터 반사된 상기 물체광을 광섬유로 집광시켜 간섭광을 생성하는 광커플러, 각 파장별로 빛을 검출하기 위한 포토디텍터어레이가 적용되며, 상기 기준 거울의 위치에 대응하여 상기 생성된 간섭광의 파장 분포 정보를 검출하는 광 검출기를 포함하는 광 검출부;상기 광 검출부를 통해 상기 기준 거울의 위치에 대응하여 수집된 상기 대상체의 각 깊이 위치별로 검출된 간섭광의 파장 분포 정보를 입력받아 전산지능을 학습하는 전산지능학습부; 및상기 학습된 전산지능을 이용하여 상기 대상체의 피하지방의 두께를 추정하는 전산지능추정부를 포함하고,상기 전산지능학습부는,상기 파장 분포 정보에 대한 학습 데이터를 생성하고, 상기 학습 데이터를 이용하여 상기 간섭광의 파장과 상기 대상체의 피하지방층 두께와의 상관 관계를 학습하는 스웹 소스 간섭계를 이용한 피하지방층 두께 추정 장치
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제1항에 있어서, 상기 기준 거울은,상기 입사광이 조사되는 방향과 직교하는 방향으로 이동하여 상기 기준광을 반사하는 스웹 소스 간섭계를 이용한 피하지방층 두께 추정 장치
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제1항에 있어서, 상기 기준광과 상기 물체광의 경로 길이는 동일한 스웹 소스 간섭계를 이용한 피하지방층 두께 추정 장치
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제1항에 있어서,상기 전산지능은 데이터의 학습 기능을 가지는 신경망 또는 퍼지 논리를 포함하는 스웹 소스 간섭계를 이용한 피하지방층 두께 추정 장치
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피하지방층 두께 추정 장치를 이용한 피하지방층 두께 추정 방법에 있어서,시간에 따라 파장을 변화시켜 광원을 방출하는 스웹 소스(Swept source)로부터 입사된 입사광을 기준광과 물체광으로 각각 분리하고, 기준 거울로부터 반사된 상기 기준광과 대상체로부터 반사된 상기 물체광을 광섬유로 집광시켜 간섭광을 생성하고 각 파장별로 빛을 검출하기 위한 포토디텍터어레이가 적용되는 광검출기를 이용하여 상기 기준 거울의 위치에 대응하여 상기 생성된 간섭광의 파장 분포 정보를 검출하는 단계;상기 대상체의 각 깊이 위치별로 검출된 간섭광의 파장 분포 정보를 입력받아 전산지능을 학습하는 단계; 및상기 학습된 전산지능을 이용하여 상기 대상체의 피하지방의 두께를 추정하는 단계를 포함하고,상기 전산지능을 학습하는 단계는,상기 기준 거울의 위치에 대응하여 수집된 상기 대상체의 각 깊이 위치별로 검출된 간섭광의 파장 분포 정보에 대한 학습 데이터를 생성하고, 상기 학습 데이터를 이용하여 상기 간섭광의 파장과 상기 대상체의 피하지방층 두께와의 상관 관계를 학습하는 피하지방층 두께 추정 방법
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제8항에 있어서, 상기 기준 거울은,상기 입사광이 조사되는 방향과 직교하는 방향으로 이동하여 상기 기준광을 반사하는 피하지방층 두께 추정 방법
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제8항에 있어서, 상기 기준광과 상기 물체광의 경로 길이는 동일한 피하지방층 두께 추정 방법
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제8항에 있어서,상기 전산지능은 데이터의 학습 기능을 가지는 신경망 또는 퍼지 논리를 포함하는 피하지방층 두께 추정 방법
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