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광 핀셋을 사용하여 입자를 분석하는 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2018009187
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 광 핀셋을 사용한 입자 분석 방법은, 분석 대상 입자를 포함하는 시료의 영상을 연속적으로 촬영하는 시료 촬영 단계; 사용자의 선택에 따라 상기 분석 대상 입자를 결정하고, 광 핀셋을 사용하여 상기 분석 대상 입자를 포획하는 분석 대상 입자 포획 단계; 시간이 지남에 따라 상기 포획된 입자의 움직임에 따른 궤적을 추적하고, 추적된 궤적을 표시하는 궤적 추적 단계; 및 상기 분석 대상 입자의 움직임 특성을 포함하는 물리적 특성, 생화학적 특성, 및 전기적 특성 중 적어도 하나의 특성을 분석하는 입자 특성 분석 단계를 포함한다. 본 발명에 의하여, 광 핀셋의 특성과 라즈베리파이의 장점을 이용하여 영상과 조작에 응용을 함으로써 자동으로 단일 세포나 미세입자를 포획 및 추적하고 실시간으로 분석 가능하며, 더 나아가 이를 통해서 다양한 전기적, 물리적 특성을 이해하는데 도움이 되는 플랫폼이 제공된다.
Int. CL G02B 6/255 (2006.01.01) G02B 6/02 (2006.01.01) G02B 6/38 (2006.01.01)
CPC G02B 6/255(2013.01) G02B 6/255(2013.01) G02B 6/255(2013.01) G02B 6/255(2013.01)
출원번호/일자 1020160179950 (2016.12.27)
출원인 부산대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2018-0075956 (2018.07.05) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.12.27)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 부산대학교 산학협력단 대한민국 부산광역시 금정구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김규정 대한민국 부산광역시 동래구
2 서민교 대한민국 부산광역시 사상구
3 강태영 대한민국 경기도 용인시 수지구
4 안성민 대한민국 부산광역시 금정구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김성현 대한민국 부산광역시 연제구 중앙대로 ****, *층 (거제동)(아너스특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.12.27 수리 (Accepted) 1-1-2016-1279282-02
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2017-5004005-98
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2017-5004797-18
4 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2017.06.22 수리 (Accepted) 1-1-2017-0600805-34
5 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2017.11.15 수리 (Accepted) 1-1-2017-1135196-75
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.12.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0880786-90
7 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2018.02.13 수리 (Accepted) 1-1-2018-0159723-00
8 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2018.03.13 수리 (Accepted) 1-1-2018-0251698-82
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.04.13 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0371185-53
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.04.13 수리 (Accepted) 1-1-2018-0371184-18
11 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2018.08.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0585228-83
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
광 핀셋(optical tweezer)을 사용하여 입자를 분석하는 방법으로서,분석 대상 입자를 포함하는 시료의 영상을 연속적으로 촬영하는 시료 촬영 단계;사용자의 선택에 따라 상기 분석 대상 입자를 결정하고, 광 핀셋을 사용하여 상기 분석 대상 입자를 포획하는 분석 대상 입자 포획 단계;시간이 지남에 따라 상기 포획된 입자의 움직임에 따른 궤적을 추적하고, 추적된 궤적을 표시하는 궤적 추적 단계; 및상기 분석 대상 입자의 움직임 특성을 포함하는 물리적 특성, 생화학적 특성, 및 전기적 특성 중 적어도 하나의 특성을 분석하는 입자 특성 분석 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 광 핀셋을 사용하여 입자를 분석하는 방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 시료 촬영 단계는 고속 CCD 카메라를 사용하여 수행되는 것을 특징으로 하는, 광 핀셋을 사용하여 입자를 분석하는 방법
3 3
제2항에 있어서, 상기 분석 대상 입자 포획 단계는 홀로그래픽 광 핀셋(holographic optical tweezer), 홀로핸드 광 핀셋(holohand optical tweezer), 고성능 광 핀셋(high performance optical tweezer) 중 적어도 하나를 사용하여, 상기 분석 대상 입자에 작용되는 인력 및 척력을 조절하여 수행되는 것을 특징으로 하는, 광 핀셋을 사용하여 입자를 분석하는 방법
4 4
제3항에 있어서, 상기 궤적 추적 단계는,촬영된 시료의 영상의 프레임을 복수 개의 블록으로 분할하는 단계;상기 블록에 포함된 분석 대상 입자의 일부분을 마킹하고, 상기 분석 대상 입자의 일부분이 마킹된 영상의 연속적인 프레임을 획득하는 단계;상기 연속적인 프레임에서 절대 차의 합을 추정하여 상기 분석 대상 입자의 마킹된 부분을 추적하는 단계;상기 추정된 절대 차의 합을 기 정의된 임계값의 합과 비교하는 단계;상기 비교 결과에 따라, 다중 경로 추적 모드 및 단일 경로 추적 모드 중 하나에서 다른 하나로 전환하는 단계; 및상기 단일 경로 추적 모드 및 다중 경로 추적 모드 중 적어도 하나의 추적 결과를 조합하여 상기 일 부분이 마킹된 분석 대상 입자의 궤적을 획득하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 광 핀셋을 사용하여 입자를 분석하는 방법
5 5
제4항에 있어서, 상기 추적하는 단계는, 연속적인 프레임에서, 상기 분석 대상 입자에 속할 수 있는 후보 블록과 상기 마킹된 부분 사이의 절대 차의 합을 추정하는 단계; 및절대 차 기준의 최소 합에 따라 상기 후보 블록 중에서 상기 마킹된 부분에 대한 최상의 블록을 선택하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 광 핀셋을 사용하여 입자를 분석하는 방법
6 6
제1항에 있어서,상기 입자 특성 분석 단계는, 상기 분석 대상 입자의 이동 방향, 이동 속도, 및 이동 거리를 분석하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 광 핀셋을 사용하여 입자를 분석하는 방법
7 7
제6항에 있어서,상기 입자 특성 분석 단계는, 코딩된 라즈베리파이(Raspberry pi)를 사용하여 수행되는 것을 특징으로 하는, 광 핀셋을 사용하여 입자를 분석하는 방법
8 8
광 핀셋(optical tweezer)을 사용하여 입자를 분석하는 장치로서,분석 대상 입자를 포함하는 시료의 영상을 연속적으로 촬영하는 시료 촬영부;사용자의 선택에 따라 상기 분석 대상 입자를 결정하고, 광 핀셋을 사용하여 상기 분석 대상 입자를 포획하는 분석 대상 입자 포획부;시간이 지남에 따라 상기 포획된 입자의 움직임에 따른 궤적을 추적하고, 추적된 궤적을 표시하는 궤적 추적부; 및상기 분석 대상 입자의 움직임 특성을 포함하는 물리적 특성, 생화학적 특성, 및 전기적 특성 중 적어도 하나의 특성을 분석하는 입자 특성 분석부를 포함하는 것을 특징으로 하는, 광 핀셋을 사용하여 입자를 분석하는 장치
9 9
제8항에 있어서, 상기 시료 촬영부는 고속 CCD 카메라를 포함하는 것을 특징으로 하는, 광 핀셋을 사용하여 입자를 분석하는 장치
10 10
제9항에 있어서, 상기 분석 대상 입자 포획부는, 홀로그래픽 광 핀셋(holographic optical tweezer), 홀로핸드 광 핀셋(holohand optical tweezer), 고성능 광 핀셋(high performance optical tweezer) 중 적어도 하나를 포함하고, 상기 분석 대상 입자에 작용되는 인력 및 척력을 조절하여 상기 분석 대상 입자를 포획하는 것을 특징으로 하는, 광 핀셋을 사용하여 입자를 분석하는 장치
11 11
제10항에 있어서, 상기 궤적 추적부는,촬영된 시료의 영상의 프레임을 복수 개의 블록으로 분할하고,상기 블록에 포함된 분석 대상 입자의 일부분을 마킹하고, 상기 분석 대상 입자의 일부분이 마킹된 영상의 연속적인 프레임을 획득하며,상기 연속적인 프레임에서 절대 차의 합을 추정하여 상기 분석 대상 입자의 마킹된 부분을 추적하고,상기 추정된 절대 차의 합을 기 정의된 임계값의 합과 비교하며,상기 비교 결과에 따라, 다중 경로 추적 모드 및 단일 경로 추적 모드 중 하나에서 다른 하나로 전환하고,상기 단일 경로 추적 모드 및 다중 경로 추적 모드 중 적어도 하나의 추적 결과를 조합하여 상기 일 부분이 마킹된 분석 대상 입자의 궤적을 획득하도록 구성되는 것을 특징으로 하는, 광 핀셋을 사용하여 입자를 분석하는 장치
12 12
제11항에 있어서, 상기 궤적 추적부는,연속적인 프레임에서, 상기 분석 대상 입자에 속할 수 있는 후보 블록과 상기 마킹된 부분 사이의 절대 차의 합을 추정하고,절대 차 기준의 최소 합에 따라 상기 후보 블록 중에서 상기 마킹된 부분에 대한 최상의 블록을 선택하도록 더욱 구성되는 것을 특징으로 하는, 광 핀셋을 사용하여 입자를 분석하는 장치
13 13
제8항에 있어서,상기 입자 특성 분석부는, 코딩된 라즈베리파이(Raspberry pi)를 사용하여 상기 분석 대상 입자의 이동 방향, 이동 속도, 및 이동 거리를 분석하도록 구성되는 것을 특징으로 하는, 광 핀셋을 사용하여 입자를 분석하는 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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