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이진배수 저항 증가를 이용한 저항값 및 측정장치 저항측정기능 교정장치 및 이를 이용한 저항 교정방법

  • 기술번호 : KST2018009204
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 기준저항의 저항값을 통해 대상저항의 저항값 오차를 측정하여 대상저항의 저항값 오차를 조정하고, 측정부의 저항 측정기능의 오차를 조정할 수 있도록 하는 이진배수 저항 증가를 이용한 저항값 및 측정장치 저항측정기능 교정장치 및 이를 이용한 저항 교정방법에 관한 것으로서, 기준이 되는 설정값을 갖는 기준저항; 상기 기준저항과 대응되는 저항값을 가지며, 점차적으로 증가되고, 동일한 저항값을 갖는 한쌍의 대상저항; 상기 기준저항의 양단 및 대상저항에 연결되어 기준저항 및 대상저항의 저항값을 측정하는 측정부; 상기 측정부에 연결되어 기준저항을 측정한 기준저항 측정값과 대상저항을 측정한 측정값을 비교하는 비교부; 상기 비교부에서 비교되는 기준저항 측정값과 대상저항 측정값을 표시하는 표시부 및 상기 표시부에 표시되는 기준저항 측정값과 대상저항 측정값을 저장하는 저장부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL G01R 35/00 (2006.01.01) G01R 1/20 (2006.01.01) G01R 27/02 (2006.01.01) G01R 17/12 (2006.01.01)
CPC G01R 35/005(2013.01) G01R 35/005(2013.01) G01R 35/005(2013.01) G01R 35/005(2013.01)
출원번호/일자 1020160178906 (2016.12.26)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2018-0075734 (2018.07.05) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.12.26)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 유광민 대한민국 대전시 유성구
2 김완섭 대한민국 대전시 유성구
3 강전홍 대한민국 대전시 유성구
4 이상화 대한민국 대전시 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 진용석 대한민국 대전광역시 서구 청사로 ***, 청사오피스텔 ***호 세빈 국제특허법률사무소 (둔산동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.12.26 수리 (Accepted) 1-1-2016-1272096-08
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.12.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0892991-79
3 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.02.19 수리 (Accepted) 1-1-2018-0169279-18
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.02.19 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0169280-54
5 등록결정서
Decision to grant
2018.06.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0420198-21
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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이진배수 저항 증가를 이용한 저항값 및 측정장치 저항측정기능 교정장치를 이용한 저항 교정방법은,교정하고자 하는 대상저항(20)의 저항값에 해당하는 기준저항(10)을 선정하여 측정부(30)와 연결하고, 측정부(30)가 연결된 기준저항(10)의 저항값을 측정하는 단계(S10);상기 기준저항(10)의 저항값을 측정하는 단계(S10)를 통해 측정되는 기준저항(10) 측정값과 비교될 교정하고자 하는 대상저항(20)을 직렬로 배열하여 측정부(30)를 통해 대상저항(20)의 저항값을 측정하는 단계(S20);상기 기준저항(10)의 저항값을 측정하는 단계(S10)와 대상저항(20)의 저항값을 측정하는 단계(S20)에서 측정부(30)를 통해 측정된 기준저항(10) 측정값과 대상저항(20) 측정값을 비교부(40)에서 비교하는 단계(S30);상기 비교부(40)에서 비교하는 단계(S30)를 통해 비교된 기준저항(10) 측정값과 대상저항(20) 측정값 및 기준저항(10) 측정값과 대상저항(20) 측정값을 비교하여 산출되는 오차값을 표시부(50)에 표시하고, 대상저항(20)의 오차값에 따라 저항값을 조정하는 단계(S40);상기 오차값에 따라 저항값을 조정하는 단계(S40)를 통해 표시되는 기준저항(10) 측정값과 대상저항(20) 측정값 및 기준저항(10) 측정값과 대상저항(20) 측정값에 대한 오차값을 저장부(60)에 저장하는 단계(S50) 및상기 교정하고자 하는 대상저항(20)을 변경하여 대상저항(20)의 저항값을 측정하는 단계(S20), 비교부(40)에서 비교하는 단계(S30), 저항값을 조정하는 단계(S40) 및 저장부(60)에 저장하는 단계(S50)를 반복수행하여 대상저항(20)의 저항값을 기준저항(10)에 맞도록 반복 교정하는 단계(S60)를 포함하고,상기 비교부(40)에서 비교하는 단계(S30)는 기준저항(10) 측정값과 대상저항(20) 측정값을 비교하여 기준저항(10) 측정값에 따른 대상저항(20) 측정값에 대한 오차값을 산출하고, 산출된 오차값을 표시부(50)로 전송하여 표시하며,상기 저항값을 조정하는 단계(S40)는 측정된 기준저항(10)의 저항값과 대상저항(20)의 저항값을 비교하여 기준저항(10)의 저항값과 차이가 나는 대상저항(20)의 저항값 만큼 대상저항(20)의 저항값을 기준저항(10)의 저항값에 근접하도록 조정하며,상기 기준저항(10)의 저항값을 측정하는 단계(S10) 및 대상저항(20)의 저항값을 측정하는 단계(S20)에서 저항값을 측정하는 측정부(30)는 미리 확인되는 기준저항(10)의 저항값을 통해 측정부(30) 자체의 측정값이 정상인지 여부를 확인하여 측정부(30)의 측정 오차를 조정할 수 있는 것을 특징으로 하는 이진배수 저항 증가를 이용한 저항값 및 측정장치 저항측정기능 교정장치를 이용한 저항 교정방법
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제1항에 있어서,상기 저항값 및 측정장치 저항측정기능 교정장치는,기준이 되는 설정값을 갖는 기준저항(10);상기 기준저항(10)과 대응되는 저항값을 가지며, 점차적으로 증가되고, 동일한 저항값을 갖는 한쌍의 대상저항(20);상기 기준저항(10)의 양단 및 대상저항(20)에 연결되어 기준저항(10) 및 대상저항(20)의 저항값을 측정하는 측정부(30);상기 측정부(30)에 연결되어 기준저항(10)을 측정한 기준저항(10) 측정값과 대상저항(20)을 측정한 측정값을 비교하는 비교부(40);상기 비교부(40)에서 비교되는 기준저항(10) 측정값과 대상저항(20) 측정값을 표시하는 표시부(50) 및상기 표시부(50)에 표시되는 기준저항(10) 측정값과 대상저항(20) 측정값을 저장하는 저장부(60)를 포함하며,상기 대상저항(20)은 한쌍으로 이루어지며, 각 저항의 양단에서 각 저항값을 측정할 수 있고, 각 저항이 기준저항(10)의 배수로 증가되며 이루어지며, 교정하고자 하는 대상저항(20)으로 변경이 가능하고,상기 기준저항(10)의 측정된 저항값과 대상저항(20)의 측정된 저항값을 비교하여 기준저항(10)과 대상저항(20) 간의 오차를 표시부(50)를 통해 표시하고, 대상저항(20)의 오차를 조정하여 기준저항(10)의 저항값과 유사하도록 조정하며,상기 측정부(30)는 측정된 저항값을 디지털화 하여 표시하고, 기준저항(10) 및 대상저항(20)을 동시 또는 각각 측정이 가능하며,상기 대상저항(20), 기준저항(10), 비교부(40), 표시부(50) 및 저장부(60)는 하나의 모듈로 구성되어 측정시스템으로 구성될 수 있고, 대상저항(20) 및 기준저항(10)은 교체가 가능하도록 형성되며, 측정부(30)는 별도로 분리 결합될 수 있도록 하여 교체가 가능하도록 형성되는 것을 특징으로 하는 이진배수 저항 증가를 이용한 저항값 및 측정장치 저항측정기능 교정장치를 이용한 저항 교정방법
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