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저항성 메모리 소자 및 이의 제조 방법

  • 기술번호 : KST2018009543
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 저항성 메모리 소자 및 이의 제조 방법에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시예에 따른 저항성 메모리 소자는, 제 1 배선과 전기적으로 결합되는 비반응성 제 1 전극; 상기 제 1 전극에 대향하는 제 2 전극; 및 상기 제 1 전극과 상기 제 2 전극 사이를 연결하는 스위칭 구조로서 산소 공공에 의한 가역적 도전성 필라멘트를 포함하는 가변 저항 층을 포함하는 메모리 셀을 포함한다. 또한, 상기 제 2 전극은 상기 가변 저항 층 상에 형성되고 상기 도전성 필라멘트의 스위칭에 필요한 산소 및 산소 공공을 제한적으로 교환하기 위한 체적 또는 산화력을 갖는 유한 산소 공공 저장원 및 상기 유한 산소 공공 저장원과 전기적으로 연결되어 제 2 배선에 전기적으로 결합되는 콘택 전극을 포함할 수 있다. 본 발명의 다른 실시예에 따른 저항성 메모리 소자는, 상기 도전성 필라멘트가 산화 및 환원이 급속히 일어나는 금속 이온 물질로 형성될 수도 있으며, 이때 한쪽 전극에 형성되는 이온 저장원의 부피는 도전성 필라멘트의 형성시 필요한 양만큼 제한될 수 있다.
Int. CL H01L 45/00 (2006.01.01)
CPC H01L 45/1253(2013.01) H01L 45/1253(2013.01) H01L 45/1253(2013.01) H01L 45/1253(2013.01)
출원번호/일자 1020160184598 (2016.12.31)
출원인 에스케이하이닉스 주식회사, 서울대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2018-0079137 (2018.07.10) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 17

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 에스케이하이닉스 주식회사 대한민국 경기도 이천시
2 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 황철성 대한민국 서울특별시 강남구
2 이재연 대한민국 경기도 군포시 번영로 *** 한라*차아파트 *

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김권석 대한민국 서울특별시 서초구 논현로**, B동 *층(양재동, 삼호물산빌딩)(아이피맥스특허법률사무소)

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.12.31 수리 (Accepted) 1-1-2016-1298602-10
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2020-5265458-48
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번호 청구항
1 1
제 1 배선과 전기적으로 결합되는 비반응성 제 1 전극; 상기 제 1 전극에 대향하고, 제 2 배선과 전기적으로 결합되는 제 2 전극; 및상기 제 1 전극과 상기 제 2 전극 사이를 연결하는 스위칭 구조로서 산소 공공에 의한 가역적 도전성 필라멘트를 포함하는 가변 저항 층을 포함하는 메모리 셀을 포함하며, 상기 제 2 전극은 상기 가변 저항 층 상에 형성되고 상기 도전성 필라멘트의 스위칭에 필요한 산소 및 산소 공공을 제한적으로 교환하기 위한 체적 또는 산화력을 갖는 유한 산소 공공 저장원 및 상기 유한 산소 공공 저장원과 전기적으로 연결되어 제 2 배선에 전기적으로 결합되는 콘택 전극을 포함하는 저항성 메모리 소자
2 2
제 1 항에 있어서,상기 가변 저항 층은 화학양론적 조성을 갖거나 산소 결핍 조성을 갖는 금속 산화물을 포함하는 저항성 메모리 소자
3 3
제 1 항에 있어서,상기 금속 산화물은 탄탈륨(Ta), 스칸듐(Sc), 이트륨(Y), 타이타늄(Ti), 지르코늄(Zr), 바나듐(V), 크롬(Cr), 니오븀(Nb), 오스뮴(Os), 망간(Mn), 철(Fe), 니켈(Ni), 구리(Cu), 은(Ag), 아연(Zn), 하프늄(Hf), 및 텅스텐(W) 중 적어도 어느 하나의 산화물을 포함하는 저항성 메모리 소자
4 4
제 1 항에 있어서,상기 가변 저항 층은 상기 산소 공공 저장원보다 산화 포텐셜 에너지가 더 큰 금속 산화물인 저항성 메모리 소자
5 5
제 1 항에 있어서,상기 산소 공공 저장원은, 탄탈륨(Ta), 타이타늄(Ti), 지르코늄(Zr), 바나듐(V), 텅스텐 (W), 및 루테늄 (Ru) 중 적어도 어느 하나인 금속 또는 상기 금속의 산화물을 포함하는 저항성 메모리 소자
6 6
제 1 항에 있어서,상기 산소 공공 저장원의 체적은 상기 도전성 필라멘트를 구성하기 위해 필요한 산소 공공의 개수, 상기 도전성 필라멘트의 평균 직경, 및 상기 산소 공공 저장원의 상온의 산소의 고용도 중 적어도 어느 하나를 고려하여 결정되는 저항성 메모리 소자
7 7
제 1 항에 있어서,상기 산소 공공 저장원은 도트 형상을 가지며, 상기 가변 저항 층의 일부 영역 상에 국지적으로 배치되는 저항성 메모리 소자
8 8
제 1 항에 있어서,상기 산소 공공 저장원의 평균 두께는 상기 가변 저항 층의 두께보다 3 배 내지 20 배 범위 내의 크기를 갖는 저항성 메모리 소자
9 9
제 1 배선과 전기적으로 결합되는 비반응성 제 1 전극; 상기 제 1 전극에 대향하고, 제 2 배선과 전기적으로 결합되는 제 2 전극; 및상기 제 1 전극과 상기 제 2 전극 사이를 연결하는 스위칭 구조로서 금속 이온에 의한 가역적 도전성 브릿지를 포함하는 가변 저항 층을 포함하는 메모리 셀을 포함하며, 상기 제 1 전극은 상기 제 1 배선에 전기적으로 결합되는 콘택 전극 및 상기 콘택 전극 상에 형성되고 상기 도전성 브릿지의 스위칭에 필요한 금속 이온을 제한적으로 교환하기 위한 체적 또는 이온화도를 갖는 유한 이온 저장원을 포함하는 저항성 메모리 소자
10 10
제 9 항에 있어서,상기 가변 저항 층은 칼코겐화물 및 금속 산화물 중 적어도 어느 하나를 포함하는 고체 전해질을 포함하는 저항성 메모리 소자
11 11
제 9 항에 있어서,상기 이온 저장원의 체적은 상기 도전성 브릿지를 구성하기 위해 필요한 금속 이온의 개수, 및 상기 금속 이온의 평균 직경 중 적어도 어느 하나를 고려하여 결정되는 저항성 메모리 소자
12 12
제 9 항에 있어서,상기 이온 저장원은, 은(Ag), 테루륨(Te), 구리(Cu), 니켈(Ni) 및 아연(Zn) 중 적어도 어느 하나를 포함하는 저항성 메모리 소자
13 13
제 9 항에 있어서,상기 이온 저장원은 도트 형상을 갖도록 상기 콘택 전극 상에 국지적으로 배치되는 저항성 메모리 소자
14 14
제 13 항에 있어서,상기 이온 저장원은 팁 부를 갖는 저항성 메모리 소자
15 15
제 9 항에 있어서,상기 이온 저장원의 평균 두께는 상기 가변 저항 층의 두께보다 3 배 내지 20 배 범위 내의 크기를 갖는 저항성 메모리 소자
16 16
전극용 도전층을 제공하는 단계;상기 도전층 상에 상기 도전층의 일부 표면을 노출시키는 개구들을 갖는 스크린 마스크를 형성하는 단계; 물리적 기상 증착에 의해 상기 도전층의 일부 표면 상에 팁 부를 갖는 산소 공공 저장원 또는 이온 저장원을 형성하는 단계; 및상기 스크린 마스크를 제거하는 단계를 포함하는 저항성 메모리 소자의 제조 방법
17 17
가변 저항 층을 제공하는 단계;상기 가변 저항 층 상에 상기 가변 저항 층의 일부 표면을 노출시키는 개구들을 갖는 스크린 마스크를 형성하는 단계; 물리적 기상 증착에 의해 상기 가변 저항 층의 일부 표면 상에 팁 부를 갖는 산소 공공 저장원 또는 이온 저장원을 형성하는 단계; 및상기 스크린 마스크를 제거하는 단계를 포함하는 저항성 메모리 소자의 제조 방법
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US10325654 US 미국 FAMILY
2 US10515695 US 미국 FAMILY
3 US20180190352 US 미국 FAMILY
4 US20190272875 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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1 US10325654 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US10515695 US 미국 DOCDBFAMILY
3 US2018190352 US 미국 DOCDBFAMILY
4 US2019272875 US 미국 DOCDBFAMILY
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