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배열 와전류 탐촉자에 있어서,몸체;상기 몸체의 둘레를 따라 하나의 열로 배치되는 복수개의 자기여기용 소자;상기 하나의 열 상에서 상기 자기여기용 소자와 기 설정된 간격만큼 이격된 위치에 배치되는 복수개의 자장검출용 소자;상기 복수개의 자기여기용 소자에 연결되는 복수개의 자기여기용 멀티플렉서;상기 복수개의 자장검출용 소자에 연결되는 복수개의 자장검출용 멀티플렉서; 및와전류 검사 장치로부터 수신한 선택 신호에 따라 상기 복수개의 자기여기용 소자 및 상기 복수개의 자장검출용 소자 중 적어도 하나를 선택하는 제어기를 포함하되,상기 복수개의 자기여기용 멀티플렉서는,상기 복수개의 자기여기용 소자 중 제1 자기여기용 소자군에 연결되는 제1 자기여기용 멀티플렉서 및 상기 복수개의 자기여기용 소자 중 제2 자기여기용 소자군에 연결되는 제2 자기여기용 멀티플렉서를 포함하고,상기 복수개의 자장검출용 멀티플렉서는,상기 복수개의 자장검출용 소자 중 제1 자장검출용 소자군에 연결되는 제1 자장검출용 멀티플렉서, 상기 복수개의 자장검출용 소자 중 제2 자장검출용 소자군에 연결되는 제2 자장검출용 멀티플렉서, 상기 복수개의 자장검출용 소자 중 제3 자장검출용 소자군에 연결되는 제3 자장검출용 멀티플렉서 및 상기 복수개의 자장검출용 소자 중 제4 자장검출용 소자군에 연결되는 제4 자장검출용 멀티플렉서를 포함하고,상기 제어기는,각각의 타임 슬롯마다 상기 제1 자기여기용 소자군 및 상기 제2 자기여기용 소자군 각각에서 각각 하나의 자기여기용 소자에 의해 와전류가 발생되도록 상기 제1 자기여기용 멀티플렉서와 상기 제2 자기여기용 멀티플렉서를 제어하고, 상기 제1 자장검출용 소자군 내지 상기 제4 자장검출용 소자군 각각에서 각각 하나의 자장검출용 소자에 의해 자장 신호가 검출되도록 상기 제1 자장검출용 멀티플렉서 내지 상기 제4 자장검출용 멀티플렉서를 제어하는 것을 특징으로 하는 배열 와전류 탐촉자
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제1항에 있어서,상기 복수개의 자기여기용 소자는,원형, 타원형 및 사각형 형태 중 어느 하나의 형태의 코일인 것을 특징으로 하는 배열 와전류 탐촉자
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제1항에 있어서,상기 복수개의 자장검출용 소자는,원형, 타원형 및 사각형 중 어느 하나의 형태의 코일이거나, PCB(Printed Circuit Board) 형태의 코일, 홀 센서 및 거대 자기 저항 소자 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 배열 와전류 탐촉자
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제1항에 있어서,상기 복수개의 자기여기용 소자와 상기 복수개의 자장검출용 소자는 상기 하나의 열 상에서 등간격으로 2개씩 번갈아 가며 배치되는 것을 특징으로 하는 배열 와전류 탐촉자
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삭제
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삭제
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제1항에 있어서,상기 복수개의 자장검출용 멀티플렉서에 각각 연결되어 상기 자장검출용 소자에 의해 검출된 자장 신호를 증폭하는 복수개의 신호 증폭기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 배열 와전류 탐촉자
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제7항에 있어서,상기 자장 신호는,상기 복수개의 자장검출용 소자 중 와전류를 발생시킨 자기여기용 소자로부터 상기 하나의 열 상에서 한 소자씩 이격된 위치의 자장검출용 소자에 의해 검출되는 것을 특징으로 하는 배열 와전류 탐촉자
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제1항에 있어서,상기 복수개의 자기여기용 소자는,상기 와전류 검사 장치로부터 수신한 교류 전류를 이용하여 와전류를 발생시키는 것을 특징으로 하는 배열 와전류 탐촉자
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배열 와전류 탐촉자를 이용한 와전류 탐상 검사 방법에 있어서,상기 배열 와전류 탐촉자의 둘레를 따라 하나의 열로 배치되는 복수개의 자기여기용 소자 중 적어도 하나에 교류 전류를 인가하여 와전류를 발생시키는 단계;상기 하나의 열 상에서 상기 자기여기용 소자와 기 설정된 간격만큼 이격된 위치에 배치되는 복수개의 자장검출용 소자 중 상기 하나의 열 상에서 상기 와전류를 발생시킨 자기여기용 소자로부터 기 설정된 간격만큼 이격된 위치에 배치된 자장검출용 소자를 선택하는 단계; 및상기 선택한 자장검출용 소자를 이용하여 자장 신호를 검출하는 단계를 포함하고,상기 발생시키는 단계는,상기 복수개의 자기여기용 소자 중 제1 자기여기용 소자군에 연결되는 제1 자기여기용 멀티플렉서 및 상기 복수개의 자기여기용 소자 중 제2 자기여기용 소자군에 연결되는 제2 자기여기용 멀티플렉서를 제어하여 각각의 타임 슬롯마다 상기 제1 자기여기용 소자군 및 상기 제2 자기여기용 소자군 각각에서 각각 하나의 자기여기용 소자에 교류 전류를 인가하는 단계를 포함하고,상기 선택하는 단계는,상기 각각의 타임 슬롯마다 상기 복수개의 자장검출용 소자 중 제1 자장검출용 소자군에 연결되는 제1 자장검출용 멀티플렉서, 상기 복수개의 자장검출용 소자 중 제2 자장검출용 소자군에 연결되는 제2 자장검출용 멀티플렉서, 상기 복수개의 자장검출용 소자 중 제3 자장검출용 소자군에 연결되는 제3 자장검출용 멀티플렉서 및 상기 복수개의 자장검출용 소자 중 제4 자장검출용 소자군에 연결되는 제4 자장검출용 멀티플렉서를 제어하여 상기 제1 자장검출용 소자군 내지 상기 제4 자장검출용 소자군 각각에서 각각 하나의 자장검출용 소자를 선택하는 단계를 포함하는 와전류 탐상 검사 방법
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제10항에 있어서,상기 복수개의 자기여기용 소자는,원형, 타원형 및 사각형의 코일 중 어느 하나의 형태의 코일인 것을 특징으로 하는 와전류 탐상 검사 방법
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제10항에 있어서,상기 복수개의 자장검출용 소자는,원형, 타원형 및 사각형 중 어느 하나의 형태의 코일이거나, PCB(Printed Circuit Board) 형태의 코일, 홀 센서 및 거대 자기 저항 소자 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 와전류 탐상 검사 방법
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제10항에 있어서,상기 복수개의 자기여기용 소자와 상기 복수개의 자장검출용 소자는 상기 하나의 열 상에서 등간격으로 2개씩 번갈아 가며 배치되는 것을 특징으로 하는 와전류 탐상 검사 방법
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제10항에 있어서,상기 복수개의 자기여기용 소자와 상기 복수개의 자장검출용 소자는 각각 자기여기용 멀티플렉서와 자장검출용 멀티플렉서에 분리되어 연결되는 것을 특징으로 하는 와전류 탐상 검사 방법
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제10항에 있어서,상기 선택한 자장검출용 소자에 의해 검출된 자장 신호를 증폭하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 와전류 탐상 검사 방법
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제10항에 있어서,상기 선택하는 단계는,상기 와전류를 발생시킨 자기여기용 소자로부터 상기 하나의 열 상에서 한 소자씩 이격된 위치에 배치된 자장검출용 소자를 선택하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 와전류 탐상 검사 방법
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