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플라즈마의 전자 에너지 분포 함수 진단 방법 및 모니터링 방법

  • 기술번호 : KST2018010557
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 플라즈마의 전자 에너지 분포 함수 진단 방법 및 모니터링 방법으로서, 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마의 EEDF 진단 방법은, 플라즈마의 전자 에너지 분포 함수(EEDF)를 진단하는 방법으로서, (a) 대상 플라즈마의 EEDF 함수식을 선정하는 단계; (b) 여기 분광 물성의 특성을 기반으로 하는 파장 선택과 빛 방출 모델을 설립하는 단계; 및 (c) 상기 설립된 빛 방출 모델에 기초하여 상기 EEDF를 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL H01J 37/32 (2006.01.01) H05H 1/00 (2006.01.01)
CPC H01J 37/32926(2013.01)H01J 37/32926(2013.01)H01J 37/32926(2013.01)
출원번호/일자 1020170009779 (2017.01.20)
출원인 서울대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2018-0085986 (2018.07.30) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.01.20)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김곤호 대한민국 경기도 안양시 동안구
2 노현준 대한민국 서울특별시 관악구
3 장윤창 대한민국 충청남도 천안시 서북구
4 유상원 대한민국 서울특별시 관악구
5 박설혜 대한민국 경기도 안양시 만안구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김남식 대한민국 서울특별시 서초구 남부순환로***길 *-*, *층 (양재동, 가람빌딩)(율민국제특허법률사무소)
2 이인행 대한민국 서울특별시 서초구 남부순환로***길 *-*, *층 (양재동, 가람빌딩)(율민국제특허법률사무소)
3 김한 대한민국 서울특별시 서초구 남부순환로***길 *-*, *층 (양재동, 가람빌딩)(율민국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교 산학협력단 서울특별시 관악구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.01.20 수리 (Accepted) 1-1-2017-0071983-88
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2017.09.18 수리 (Accepted) 1-1-2017-0908046-21
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2017.11.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2018.01.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2018-0011312-37
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.01.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0049792-84
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.03.19 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0270452-58
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.03.19 수리 (Accepted) 1-1-2018-0270451-13
8 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2018.04.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0291118-07
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.05.16 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2018-0482488-52
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.05.16 수리 (Accepted) 1-1-2018-0482489-08
11 등록결정서
Decision to grant
2018.05.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0346875-19
12 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2018.11.26 수리 (Accepted) 1-1-2018-1176024-71
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2020-5265458-48
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
플라즈마의 전자 에너지 분포 함수(EEDF)를 진단하는 방법으로서, (a) 10 eV 이상 고에너지 전자의 분포 확률이 맥스웰 분포보다 큰, 대상 플라즈마의 EEDF 함수식을 벌크 전자(fbulk)의 맥스웰리안 EEDF 및 빔전자(fbeam)의 쉬프트된 맥스웰리안 EEDF의 선형 결합으로 선정하는 단계;(b) 여기 분광 물성의 특성을 기반으로 하는 파장 선택과 빛 방출 모델 설립 단계; 및(c) 상기 설립된 빛 방출 모델에 기초하여 상기 EEDF를 진단하는 단계를 포함하고,상기 (b) 단계에서, 상기 여기 분광 물성의 특성을 기반으로 한 파장 선택은, 상기 대상 플라즈마의 10 eV 이상의 고에너지 전자와의 충돌에 의한 여기 입자의 스핀-포비든(spin-forbidden) 준위에서 방출되는 빛과 다이폴-포비든(dipole-forbidden) 준위에서 방출되는 빛의 파장을 선택하는 것이고,상기 (b) 단계에서, 선택한 파장의 빛의 세기 비율에 따른 빛 방출 모델은,(Ipk는 p 상태에서 k 상태로 천이에 의한 빛의 세기, Ipr은 p 상태에서 r 상태로 천이에 의한 빛의 세기, θpk는 p 상태에서 k 상태로의 단방향 탈출 인자(mono-directional escape factor), Apk 및 Apr은 천이 확률 또는 방사 감쇠 계수(radiative dacay coefficient)(s-1))로 설립하는 것이며,상기 (c) 단계에서, 상기 빛 방출 모델로부터 측정되는 빛(Imeasured)의 세기 비 및 예상되는 빛(Iexpected)의 세기 비의 절대 오차(AE)를 만족하는, 2개의 솔루션 곡선의 교차점으로부터 빔전자의 분률(α) 및 빔전자의 에너지 (E0)를 결정하여 상기 EEDF를 진단하는, 플라즈마의 EEDF 진단 방법
2 2
제1항에 있어서,상기 고에너지 전자는 비등방성으로 가속되어 가열된 것을 포함하는, 플라즈마의 EEDF 진단 방법
3 3
제1항에 있어서,상기 대상 플라즈마는, 수평 방향으로 형성되고 대향하는 한 쌍의 전극 사이에서 상기 전극에 수직한 방향으로 가속되어 BRH(bounce-resonance heating)에 의해 증진된 에너지의 전자군을 포함하는, 플라즈마의 EEDF 진단 방법
4 4
삭제
5 5
삭제
6 6
삭제
7 7
제1항에 있어서,상기 EEDF 함수식 fe(E)는, 맥스웰 분포를 가지는 벌크 전자의 EEDF(fbulk)와 빔전자의 쉬프트된 맥스웰리안(shifted Maxwellian) EEDF(fbeam)의 합으로서,(α는 빔전자의 분률(%), N은 정규화 요소(normalization factor))으로 선정하는, 플라즈마의 EEDF 진단 방법
8 8
제7항에 있어서,(E는 전자 역학적 에너지, Te는 전자 온도)및(E0는 빔전자의 전파 에너지)인, 플라즈마의 EEDF 진단 방법
9 9
삭제
10 10
플라즈마의 전자 에너지 분포 특성 변동을 모니터링하는 방법으로서,(a) 10 eV 이상 고에너지 전자의 분포 확률이 맥스웰 분포보다 큰, 대상 플라즈마의 EEDF 함수식을 벌크 전자(fbulk)의 맥스웰리안 EEDF 및 빔전자(fbeam)의 쉬프트된 맥스웰리안 EEDF의 선형 결합으로 선정하는 단계;(b) 여기 분광 물성의 특성을 기반으로 하는 파장 선택과 빛 방출 모델을 설립하는 단계;(c) 상기 설립된 빛 방출 모델에 기초하여 상기 EEDF를 진단하는 단계; 및(d) 상기 진단된 EEDF의 변동에 기초하여 대상 플라즈마 상태에 관한 전자 에너지 분포 특성 변동의 모니터링을 수행하는 단계를 포함하고,상기 (b) 단계에서, 상기 여기 분광 물성의 특성을 기반으로 한 파장 선택은, 상기 대상 플라즈마의 10 eV 이상의 고에너지 전자와의 충돌에 의한 여기 입자의 스핀-포비든(spin-forbidden) 준위에서 방출되는 빛과 다이폴-포비든(dipole-forbidden) 준위에서 방출되는 빛의 파장을 선택하는 것이고,상기 (b) 단계에서, 선택한 파장의 빛의 세기 비율에 따른 빛 방출 모델은,(Ipk는 p 상태에서 k 상태로 천이에 의한 빛의 세기, Ipr은 p 상태에서 r 상태로 천이에 의한 빛의 세기, θpk는 p 상태에서 k 상태로의 단방향 탈출 인자(mono-directional escape factor), Apk 및 Apr은 천이 확률 또는 방사 감쇠 계수(radiative dacay coefficient)(s-1))로 설립하는 것이며,상기 (c) 단계에서, 상기 빛 방출 모델로부터 측정되는 빛(Imeasured)의 세기 비 및 예상되는 빛(Iexpected)의 세기 비의 절대 오차(AE)를 만족하는, 2개의 솔루션 곡선의 교차점으로부터 빔전자의 분률(α) 및 빔전자의 에너지 (E0)를 결정하여 상기 EEDF를 진단하는, 플라즈마의 전자 에너지 분포 특성 변동 모니터링 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 서울대학교 산학협력단 미래소자원천기술개발사업 10 nm급 반도체 식각 효율화를 위한 플라즈마 모니터링 기반의 공정 장치 제어용 알고리즘 기술의 개발