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레이저를 금속 대상물에 조사하는 단계;상기 금속 대상물로부터 검출된 스펙트럼 데이터로부터 다수의 파장을 선택하는 단계;상기 선택된 파장에 의하여 획득되는 스펙트럼 데이터에 의하여 상기 금속 대상물을 분류하는 단계를 포함하고,상기 다수의 파장을 선택하는 단계는,상기 검출된 스펙트럼 데이터에서 1차 파장 후보들을 선택하는 단계;상기 선택된 1차 파장 후보들 각각의 오차율을 산출하는 단계; 및상기 산출된 오차율이 가장 작은 파장과 상기 1차 파장 후보들에 포함된 나머지 파장들을 순차적으로 조합하고, 상기 조합된 파장들의 오차율을 산출하고, 상기 산출된 오차율에 기반하여 다수의 최적 파장들을 선택하는 단계를 포함하는,레이저 유도 붕괴 분광장치(LIBS)에서 금속 대상물을 분류하기 위한 방법
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제1항에 있어서,상기 1차 파장 후보들을 선택하는 단계는,최대 우도 추정법에 기반하여, 상기 검출된 스펙트럼 데이터에서 상기 1차 파장 후보를 선택하는 단계를 포함하는,레이저 유도 붕괴 분광장치(LIBS)에서 금속 대상물을 분류하기 위한 방법
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제1항에 있어서,상기 다수의 최적 파장을 선택하는 단계는,로 표현되는 수학식에 의하여 이루어지는 것을 특징으로 하며, l은 파장 인텍스, k는 상기 1차 파장 후보로부터 선택되는 최적 파장의 수인, 레이저 유도 붕괴 분광장치(LIBS)에서 금속 대상물을 분류하기 위한 방법
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제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 따른 방법을 수행하기 위한 컴퓨터 프로그램을 저장하는 컴퓨터-판독가능 기록 매체
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금속 대상물이 지지되기 위한 지지부;상기 금속 대상물에 레이저를 조사하기 위한 레이저 광원부; 및상기 레이저가 조사됨으로써 상기 금속 대상물로부터 검출된 스펙트럼 데이터로부터 다수의 파장을 선택하며, 상기 선택된 파장에 의하여 획득되는 스펙트럼 데이터에 의하여 상기 금속 대상물을 분류하기 위한 데이터 프로세싱부를 포함하고,상기 데이터 프로세싱부는,상기 검출된 스펙트럼 데이터에서 1차 파장 후보들을 선택하고, 상기 선택된 1차 파장 후보들 각각의 오차율을 산출하고, 상기 산출된 오차율이 가장 작은 파장과 상기 1차 파장 후보들에 포함된 나머지 파장들을 순차적으로 조합하고, 상기 조합된 파장들의 오차율을 산출하고, 상기 산출된 오차율에 기반하여 상기 다수의 최적 파장들을 선택하는,레이저 유도 붕괴 분광장치(LIBS)에서 금속 대상물을 분류하기 위한 장치
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제5항에 있어서,상기 데이터 프로세싱부는,최대 우도 추정법에 기반하여, 상기 검출된 스펙트럼 데이터에서 상기 1차 파장 후보를 선택하는,레이저 유도 붕괴 분광장치(LIBS)에서 금속 대상물을 분류하기 위한 장치
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제5항에 있어서,상기 데이터 프로세싱부는,로 표현되는 수학식에 기반하여 상기 다수의 최적 파장들을 선택하고, 여기서 l은 파장 인텍스, k는 상기 1차 파장 후보로부터 선택되는 최적 파장의 수인, 레이저 유도 붕괴 분광장치(LIBS)에서 금속 대상물을 분류하기 위한 장치
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