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PCB 제조 공정에서 불량 컴포넌트의 위치를 검출하기 위한 불량 컴포넌트 위치 검출 시스템에서의 불량 컴포넌트 위치 검출 방법에서, PCB 제조 공정의 데이터가 선정되면, 해당 데이터에 대해 DBSCAN을 기반으로 클러스터링을 수행하는 단계; 상기 클러스터링 수행 결과, 해당 PCB 이미지 상에 클러스터를 표시하는 단계; 및상기 클러스터 중에서 불량 컴포넌트가 밀집한 클러스터를 검출하는 단계를 포함하며, PCB 이미지 상에서 데이터를 나타내는 표시를 데이터 포인트라고 할 때, Ε(epsilon)은 각 데이터 포인트로부터의 거리 반경이고, N은 클러스터로 인정하기 위해 필요한 최소 포인트의 수라고 할 때, 한 데이터 포인트로부터 반경 Ε 내에 존재하는 다른 데이터 포인트를 이웃 포인트라 정의하고, 최소의 데이터 포인트인 N개 이상의 이웃 포인트를 갖는 데이터 포인트를 코어 포인트 p라 정의하고, 코어 포인트 p의 이웃 포인트 q에 대하여, 이웃 포인트 q는 직접 접근 가능한 포인트라고 정의하고, 데이터 포인트 p, q에 대하여 직접 접근 가능한 포인트 배열이 존재하면 q는 p로부터 접근 가능한 포인트로 정의하고, 상기 DBSCAN을 기반으로 클러스터링을 수행하는 단계에서, 하나의 코어 포인트 p 에 대하여 접근 가능한 포인트(density-reachable)들의 집합으로 클러스터를 정의하고, 하나의 클러스터 내의 모든 데이터 포인트들은 서로 연결된 포인트(density-connected)로 정의하며,균질도(homogeneity)는 두 개의 데이터 포인트 사이의 유사도를 상관계수로 정의하는 것으로서, 균질도 기반의 성능 평가 계산방법은 각 클러스터의 중심점들과 해당 클러스터 안에 속한 포인트 간의 평균거리를 계산하는 것으로서, Npoint는 전체 포인트 수이고, D는 거리 계산 알고리즘이고, pi=i번째 포인트이고, C(pi)는 pi가 속해있는 클러스터의 중심점이라고 할 때, 의 수학식으로 계산할 수 있으며, 균질도 기반의 성능 평가에서, 균질도가 높을수록, DBSCAN을 기반으로 클러스터링 수행 결과, 불량 컴포넌트가 밀집한 클러스터 검출 성능이 우수한 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 불량 컴포넌트 위치 검출 방법
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청구항 1에 있어서, 상기 클러스터를 표시하는 단계에서, 해당 PCB 이미지 상에 데이터 포인트가 함께 표시되고, 어느 데이터 포인트가 클릭되면 해당 데이터 포인트의 컴포넌트를 표시하는 것을 특징으로 하는 불량 컴포넌트 위치 검출 방법
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청구항 2에 있어서, 상기 클러스터를 표시하는 단계에서, 각 클러스터 별로 데이터 포인트의 색상을 달리하여 표시하는 방식으로 클러스터를 표시하는 것을 특징으로 하는 불량 컴포넌트 위치 검출 방법
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청구항 1에 있어서,상기 클러스터링을 수행하는 단계에서,데이터베이스에 저장되어 있는 PCB 제조 공정의 디테일 테이블(detail table)과 헤더 테이블의 바코드(Barcode), 날짜(date), 결과(result)를, 선정된 컴포넌트(component) 좌표와 매칭하여 DBSCAN 기반 클러스터링을 수행하는 것을 특징으로 하는 불량 컴포넌트 위치 검출 방법
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PCB 제조 공정에서 불량 컴포넌트의 위치를 검출하기 위한 불량 컴포넌트 위치 검출 시스템에서, 사용자가 이용하는 단말; 및상기 단말로부터 PCB 제조 공정의 데이터가 선정되면, 데이터베이스에 저장되어 있는 해당 데이터에 대해 DBSCAN을 기반으로 클러스터링을 수행하고, 상기 클러스터링 수행 결과, 상기 단말에 해당 PCB 이미지 상에 클러스터가 표시되도록 하고, 상기 클러스터 중에서 불량 컴포넌트가 밀집한 클러스터를 검출하는 서버를 포함하고, PCB 이미지 상에서 데이터를 나타내는 표시를 데이터 포인트라고 할 때, Ε(epsilon)은 각 데이터 포인트로부터의 거리 반경이고, N은 클러스터로 인정하기 위해 필요한 최소 포인트의 수라고 할 때, 한 데이터 포인트로부터 반경 Ε 내에 존재하는 다른 데이터 포인트를 이웃 포인트라 정의하고, 최소의 데이터 포인트인 N개 이상의 이웃 포인트를 갖는 데이터 포인트를 코어 포인트 p라 정의하고, 코어 포인트 p의 이웃 포인트 q에 대하여, 이웃 포인트 q는 직접 접근 가능한 포인트라고 정의하고, 데이터 포인트 p, q에 대하여 직접 접근 가능한 포인트 배열이 존재하면 q는 p로부터 접근 가능한 포인트로 정의하고, 상기 서버는 상기 DBSCAN을 기반으로 클러스터링을 수행함에 있어서, 하나의 코어 포인트 p 에 대하여 접근 가능한 포인트(density-reachable)들의 집합으로 클러스터를 정의하고, 하나의 클러스터 내의 모든 데이터 포인트들은 서로 연결된 포인트(density-connected)로 정의하며,균질도(homogeneity)는 두 개의 데이터 포인트 사이의 유사도를 상관계수로 정의하는 것으로서, 균질도 기반의 성능 평가 계산방법은 각 클러스터의 중심점들과 해당 클러스터 안에 속한 포인트 간의 평균거리를 계산하는 것으로서, Npoint는 전체 포인트 수이고, D는 거리 계산 알고리즘이고, pi=i번째 포인트이고, C(pi)는 pi가 속해있는 클러스터의 중심점이라고 할 때, 의 수학식으로 계산할 수 있으며, 상기 서버는 균질도 기반의 성능 평가에서, 균질도가 높을수록, DBSCAN을 기반으로 클러스터링 수행 결과, 불량 컴포넌트가 밀집한 클러스터 검출 성능이 우수한 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 불량 컴포넌트 위치 검출 시스템
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청구항 5에 있어서, 상기 서버는 해당 PCB 이미지 상에 데이터 포인트가 함께 표시되도록 하고, 어느 데이터 포인트가 클릭되면 해당 데이터 포인트의 컴포넌트를 표시하는 것을 특징으로 하는 불량 컴포넌트 위치 검출 시스템
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청구항 6에 있어서, 상기 서버는 각 클러스터 별로 데이터 포인트의 색상을 달리하여 표시하는 방식으로 클러스터가 표시되도록 하는 것을 특징으로 하는 불량 컴포넌트 위치 검출 시스템
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청구항 5에 있어서,상기 서버는 데이터베이스에 저장되어 있는 PCB 제조 공정의 디테일 테이블(detail table)과 헤더 테이블의 바코드(Barcode), 날짜(date), 결과(result)를, 선정된 컴포넌트(component) 좌표와 매칭하여 DBSCAN 기반 클러스터링을 수행하는 것을 특징으로 하는 불량 컴포넌트 위치 검출 시스템
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