요약 | 제 1전극; 상기 제 1전극 상에 형성된 반도체 층; 상기 반도체 층 내부에 형성된 중성자 전환층; 및 상기 반도체 층 상에 형성된 제 2 전극을 포함하는 반도체 중성자 검출기에 관한 것이다. |
---|---|
Int. CL | G01T 3/08 (2006.01.01) H01L 31/08 (2006.01.01) |
CPC | G01T 3/08(2013.01) G01T 3/08(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020170028512 (2017.03.06) |
출원인 | 성균관대학교산학협력단 |
등록번호/일자 | |
공개번호/일자 | 10-2018-0101934 (2018.09.14) 문서열기 |
공고번호/일자 | |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 공개 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | N |
심사청구항수 | 4 |