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(a)피사체를 설정된 파장영역 범위와 설정된 온도범위 내에서 중성밀도필터를 사용한 열화상카메라에 의해 촬영한 뒤 상기 설정된 온도 범위에 대응되어 상기 열화상카메라에 의해 센싱된 디지털레벨값을 산출하는 단계;(b)상기 설정된 온도 범위내에서 온도와 디지털레벨값과의 관계를 보여주는 측정그래프와 상기 측정그래프를 기초로 선형회귀분석을 이용한 선형회귀분석그래프를 작성한 뒤 상기 측정그래프와 상기 선형회귀분석그래프를 비교하는 단계;(c)상기 측정그래프와 상기 선형회귀분석그래프와의 오차가 설정된 오차범위내로 들어오도록 상기 측정되는 온도 범위의 시작점을 재설정하는 단계;(d)상기 재설정된 온도를 시작점으로 하여 온도와 디지털레벨값과의 관계를 나타내는 새로운 교정곡선을 산출하는 단계; 를 포함하는, 고온계측이 가능한 교정곡선 산출 방법
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청구항 1에 있어서,상기 (d)단계 이후에,상기 (d)단계에 의해 도출된 새로운 교정곡선이,(e)설정된 온도 이상에서도 백화현상이 발생하지 않는 것을 검증하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는, 고온계측이 가능한 교정곡선 산출 방법
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청구항 2에 있어서,상기 (a)단계에서,상기 설정된 파장영역범위는 6 μm 이상 18 μm 이하의 범위내이고,상기 설정된 온도범위는 300℃ 이상 1700℃ 이하 인 것을 특징으로 하는, 고온계측이 가능한 교정곡선 산출 방법
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청구항 2에 있어서,상기 (a)단계에서,상기 중성밀도필터는,투과율이 50%인 것을 특징으로 하는, 고온계측이 가능한 교정곡선 산출 방법
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청구항 2에 있어서,상기 (a)단계에서,상기 중성밀도필터의 유무에 따른 상기 설정된 온도 범위에 대응되어 상기 열화상카메라에 의해 센싱된 디지털레벨값을 산출하되,흑체복사이론에 의한 이론값과의 비교를 더 하는 것을 특징으로 하는, 고온계측이 가능한 교정곡선 산출 방법
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청구항 2에 있어서,상기 (b)단계에서,상기 측정그래프를 기초로 선형회귀분석을 이용한 선형회귀분석그래프는 하기의 수학식으로 산출되는 것을 특징으로 하는, 고온계측이 가능한 교정곡선 산출 방법
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청구항 2에 있어서,상기 (c)단계에서,상기 설정된 오차범위는 상기 측정그래프와 상기 선형회귀분석그래프의 순간변화율을 고려하여 오차범위가 0
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청구항 2에 있어서,상기 (c)단계에서,상기 측정되는 온도 범위의 시작점은 1000℃ 인 것을 특징으로 하는, 고온계측이 가능한 교정곡선 산출 방법
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청구항 2에 있어서,상기 (d)단계에서,상기 새로운 교정곡선은 하기의 수학식으로 산출되는 것을 특징으로 하는, 고온계측이 가능한 교정곡선 산출 방법
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