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광량을 이용한 파장 측정 장치

  • 기술번호 : KST2018012478
  • 담당센터 : 인천기술혁신센터
  • 전화번호 : 032-420-3580
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 적어도 하나의 수광부에 입사되는 광의 세기, 즉, 광량을 이용하여 파장 정보를 얻는 광량을 이용한 파장 측정 장치에 관한 것으로, 파장별로 광량이 상이한 스펙트럼 분포를 갖는 광을 출력하는 제1 광원부; 상기 제1 광원부에서 출력되는 광을 제1 서큘레이터를 통하여 수신하고, 수신된 광에 대하여 테스트 영역의 물리적 변화량에 따라 상이한 파장의 광을 상기 제1 서큘레이터로 반사시키는 제1 반사 필터부; 상기 제1 서큘레이터를 통하여 상기 제1 반사 필터부에서 반사된 광을 수신하고, 수신된 광의 광량을 측정하는 제1 감지부; 및 상기 스펙트럼 분포를 저장하고, 상기 제1 감지부에서 측정된 광량 및 상기 스펙트럼 분포에 기반하여 상기 제1 감지부에 수신된 광의 파장을 획득하는 제1 데이터 처리부를 포함한다.
Int. CL G01J 4/04 (2006.01.01) G01J 1/42 (2006.01.01) G01J 1/04 (2006.01.01)
CPC G01J 4/04(2013.01) G01J 4/04(2013.01) G01J 4/04(2013.01)
출원번호/일자 1020170025496 (2017.02.27)
출원인 한국산업기술대학교산학협력단
등록번호/일자 10-2028509-0000 (2019.09.27)
공개번호/일자 10-2018-0098849 (2018.09.05) 문서열기
공고번호/일자 (20191004) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.02.27)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국산업기술대학교산학협력단 대한민국 경기도 시흥시 산기대학로

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이재명 대한민국 서울특별시 강남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인다울 대한민국 서울 강남구 봉은사로 ***, ***호(역삼동, 혜전빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국산업기술대학교 산학협력단 경기도 시흥시 산기대학로
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.02.27 수리 (Accepted) 1-1-2017-0198467-29
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2017.12.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2018.04.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2018-0052252-91
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.04.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0254622-95
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2018.06.12 수리 (Accepted) 1-1-2018-0576380-57
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.06.22 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0614008-79
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.06.22 수리 (Accepted) 1-1-2018-0613998-65
8 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2018.11.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0795993-07
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.01.21 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2019-0069176-25
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.01.21 수리 (Accepted) 1-1-2019-0069180-19
11 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.05.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0362925-14
12 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2019.07.22 수리 (Accepted) 1-1-2019-0751637-36
13 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.07.29 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-0773847-22
14 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.07.29 수리 (Accepted) 1-1-2019-0773835-85
15 등록결정서
Decision to grant
2019.09.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0686045-50
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
파장별로 광량이 상이한 스펙트럼 분포를 갖는 광을 출력하는 제1 광원부;상기 제1 광원부에서 출력되는 광을 제1 서큘레이터를 통하여 수신하고, 수신된 광에 대하여 테스트 영역의 물리적 변화량에 따라 상이한 파장의 광을 상기 제1 서큘레이터로 반사시키는 제1 반사 필터부;상기 제1 서큘레이터를 통하여 상기 제1 반사 필터부에서 반사된 광을 수신하고, 수신된 광의 광량을 측정하는 제1 감지부; 및상기 스펙트럼 분포를 저장하고, 상기 제1 감지부에서 측정된 광량 및 상기 스펙트럼 분포에 기반하여 상기 제1 감지부에 수신된 광의 파장을 획득하는 제1 데이터 처리부를 포함하되,상기 제1 감지부는, 점 형태의 하나의 수광 소자인 광량을 이용한 파장 측정 장치
2 2
파장별 대칭형 분포인 광량 스펙트럼을 갖는 광을 출력하는 제2 광원부;상기 제2 광원부에서 출력되는 광을 제2 서큘레이터를 통하여 수신하고, 수신된 광에 대하여 테스트 영역의 물리적 변화량에 따라 상이한 파장의 광을 상기 제2 서큘레이터로 반사시키는 제2 반사 필터부;상기 제2 서큘레이터를 통하여 상기 제2 반사 필터부에서 반사된 광을 수신하고, 수신된 광이 대칭형 분포의 좌측 영역인 경우에 수신된 광의 일부는 상기 제2 서큘레이터로 반사시키고 일부는 투과시키며, 수신된 광이 대칭형 분포의 우측 영역인 경우에 수신된 광을 투과시키는 제3 반사 필터부;상기 제3 반사 필터부에서 투과된 광을 수신하고, 수신된 광의 광량을 측정하는 제2 감지부;상기 제2 서큘레이터를 통하여 상기 제3 반사 필터부에서 반사된 광을 감지하는 제3 감지부; 및상기 파장별 대칭형 분포인 광량 스펙트럼을 저장하고, 상기 제3 반사 필터부의 투과율, 상기 제2 감지부에서 측정된 광량 및 상기 저장된 스펙트럼에 기반하여 상기 제2 감지부에 수신된 광의 파장을 획득하며, 상기 제3 감지부의 광 감지 여부에 따라 획득된 파장이 대칭형 분포의 좌우 영역 중 어느 영역에 속한 파장인지 판단하는 제2 데이터 처리부를 포함하되,상기 파장별 대칭형 분포는, 복수개의 불균일한 파장들이 기준점을 기준으로 서로 짝을 이루어 동일한 값을 가지는 분포인 광량을 이용한 파장 측정 장치
3 3
파장별 대칭형 분포인 광량 스펙트럼을 갖는 광을 출력하는 제2 광원부;상기 제2 광원부에서 출력되는 광을 제3 서큘레이터를 통하여 수신하고, 수신된 광에 대하여 테스트 영역의 물리적 변화량에 따라 상이한 파장의 광을 상기 제3 서큘레이터로 반사시키는 제4 반사 필터부;상기 제3 서큘레이터를 통하여 상기 제4 반사 필터부에서 반사된 광을 수신하고, 수신된 광이 대칭형 분포의 좌측 영역인 경우에 수신된 광의 일부는 상기 제3 서큘레이터로 반사시키고 일부는 투과시키며, 수신된 광이 대칭형 분포의 우측 영역인 경우에 수신된 광을 투과시키는 제5 반사 필터부;상기 제5 반사 필터부에서 투과된 광을 수신하고, 수신된 광의 광량을 측정하는 제4 감지부;상기 제3 서큘레이터를 통하여 상기 제5 반사 필터부에서 반사된 광을 감지하는 제5 감지부;상기 제2 광원부에서 출력되는 광을 수신하는 제6 감지부; 및상기 제6 감지부로부터 수신한 광의 파장 별 광량 정보를 이용하여 상기 제2 광원부의 광량 스펙트럼 정보를 생성하고, 상기 제5 반사 필터부의 투과율, 상기 제4 감지부에서 측정된 광량 및 상기 생성된 광량 스펙트럼 정보에 기반하여 상기 제4 감지부에 수신된 광의 파장을 획득하며, 상기 제5 감지부의 광 감지 여부에 따라 획득된 파장이 대칭형 분포의 좌우 영역 중 어느 영역에 속한 파장인지 판단하는 제3 데이터 처리부를 포함하되,상기 파장별 대칭형 분포는, 복수개의 불균일한 파장들이 기준점을 기준으로 서로 짝을 이루어 동일한 값을 가지는 분포인 광량을 이용한 파장 측정 장치
4 4
파장별로 광량이 상이한 스펙트럼 분포를 갖는 광을 출력하는 제1 광원부;상기 제1 광원부에서 출력되는 광을 수신하고, 수신된 광에 대하여 테스트 영역의 물리적 변화량에 따라 상이한 파장의 광을 투과시키는 제1 투과 필터부;상기 제1 투과 필터부에서 투과된 광을 수신하고, 수신된 광의 광량을 측정하는 제7 감지부; 및상기 스펙트럼 분포를 저장하고, 상기 제7 감지부에서 측정된 광량 및 상기 스펙트럼 분포에 기반하여 상기 제7 감지부에 수신된 광의 파장을 획득하는 제4 데이터 처리부를 포함하되,상기 제7 감지부는, 점 형태의 하나의 수광 소자인 광량을 이용한 파장 측정 장치
5 5
파장별로 광량이 상이한 스펙트럼 분포를 갖는 광을 출력하는 제1 광원부;상기 제1 광원부에서 출력되는 광을 수신하고, 수신된 광에 대하여 테스트 영역의 물리적 변화량에 따라 상이한 파장의 광을 투과시키는 제2 투과 필터부;상기 제2 투과 필터부에서 투과된 광을 수신하고, 수신된 광의 광량을 측정하는 제8 감지부;상기 제1 광원부에서 출력되는 광을 수신하는 제9 감지부; 및상기 제1 광원부의 광량 스펙트럼 정보를 생성하고, 상기 제8 감지부에서 측정된 광량 및 상기 생성된 광량 스펙트럼 정보에 기반하여 상기 제8 감지부에 수신된 광의 파장을 획득하는 제5 데이터 처리부를 포함하되,상기 제9 감지부는, 상기 제1 광원부에서 출력되는 광에 있어서 전반적인 광량 변화가 있는 경우 상기 제5 데이터 처리부가 정확한 파장 정보를 다시 계산할 수 있도록 데이터를 제공하고,상기 제8 감지부는, 점 형태의 하나의 수광 소자인 광량을 이용한 파장 측정 장치
6 6
파장별 대칭형 분포인 광량 스펙트럼을 갖는 광을 출력하는 제2 광원부;상기 제2 광원부에서 출력되는 광을 제4 서큘레이터를 통하여 수신하고, 수신된 광 중 테스트 영역의 물리적 변화량에 따라 상이한 파장의 광에 대하여 일부는 상기 제4 서큘레이터로 반사시키고 일부는 투과시키는 제3 투과 필터부;상기 제3 투과 필터부에서 투과된 광을 수신하고, 수신된 광의 광량을 측정하는 제10 감지부;상기 제4 서큘레이터를 통하여 상기 제3 투과 필터부에서 반사된 광을 수신하고, 수신된 광이 대칭형 분포의 좌측 영역인 경우에 수신된 광을 상기 제4 서큘레이터로 반사하는 제6 반사 필터부;상기 제4 서큘레이터를 통하여 상기 제6 반사 필터부에서 반사된 광을 감지하는 제11 감지부;상기 제2 광원부에서 출력되는 광을 수신하는 제12 감지부; 및상기 제12 감지부로부터 수신한 광의 파장 별 광량 정보를 이용하여 상기 제2 광원부의 광량 스펙트럼 정보를 생성하고, 상기 제10 감지부에서 측정된 광량 및 상기 생성된 광량 스펙트럼 정보에 기반하여 상기 제10 감지부에 수신된 광의 파장을 획득하며, 상기 제11 감지부의 광 감지 여부에 따라 획득된 파장이 대칭형 분포의 좌우 영역 중 어느 영역에 속한 파장인지 판단하는 제6 데이터 처리부를 포함하되,상기 파장별 대칭형 분포는, 복수개의 불균일한 파장들이 기준점을 기준으로 서로 짝을 이루어 동일한 값을 가지는 분포인 광량을 이용한 파장 측정 장치
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순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 한국산업기술대학교 산학협력단 산업현장기술 지원인프라 조성사업 중소기업의 제조기술혁신역량 강화를 위한 산학융합 플랫폼 구축